Оптико-електронний вимірювач поверхневого натягу рідин

Оптико-електронний вимірювач поверхневого натягу рідин, що містить джерело світла, колімаційну лінзу, матове скло, які розташовані на одній оптичній осі, який відрізняється тим, що в нього введені основа, кювета для досліджуваної рідини, перше та друге напівпрозорі дзеркала, перше, 3 71263 4 зв'язане з четвертим відбиваючим дзеркалом та Пристрій працює наступним чином. На скляній фотоматрицею чутливих елементів, перше, друге, основі 12 розміщують кювету 13 для досліджуватретє, че тверте відбиваючі дзеркала оптично зв'яної рідини, використання якої забезпечує утворензані між собою, два модулятори оптично зв'язані з ня симетричної краплі. Краї кювети утворюють першим напівпрозорим дзеркалом та першим відокружність необхідного діаметра, досліджувана биваючим дзеркалом і колімаційною лінзою відпорідина утворює симетричну краплю, яка піднімавідно, оптична система і фотоматриця чутливих ється над крайкою кювети. Вмикають джерело елементів оптично зв'язані між собою і їх ви ходи світла 1. Модулятори 5, 6 працюють у протифазі. зв'язані з входом комп'ютера. Значення поверхнеЗа один півперіод пристрій працює в режимі оптивого натягу визначається завдяки фіксації фоточної лінзи, за другий - в режимі рефрактометра. матрицею чутли вих елементів перерозподілу інтеКолімаційна лінза 2 забезпечує рівномірний рознсивності світлового потоку, що дозволяє поділ інтенсивності світлового потоку по всій аперотримати контур краплі, а отже, значення радіусів турі та формує потік паралельних променів, який кривизни поверхні у дво х взаємно перпендикуляросвітлює матове скло 3, яке забезпечує отримання них перерізах для довільної точки профілю краплі, фону, освітленість якого контрастує із освітленістю а також завдяки знаходженню показника заломкраплі. В результаті проходження світла через лення досліджуваної рідини, який визначається досліджувану рідину в залежності від кривизни зміщенням центра світлової плями на фотоматриповерхні відбувається перерозподіл інтенсивності ці чутливи х елементів відносно початкового полосвітлового потоку (фіг.2а,2б,2в), що реєструється ження. фотоматрицею чутливи х елементів 15, яка переНа фіг.1 представлена структурна схема придає дану інформацію в комп'ютер 14. Оптична сисстрою; на фіг.2а - розподіл інтенсивності світловотема 16 забезпечує багатократне збільшення вихіго потоку при відсутності краплі; 2б - розподіл індного зображення і його передачу до комп'ютера тенсивності світлового потоку при наявності 14 (фіг.2г). Програмним забезпеченням визначакраплі; 2в - різниця двох попередніх зображень, ється контур краплі і обчислюється значення радіяка зумовлена нерівномірністю розподілу інтенсиусів кривизни поверхні краплі у дво х взаємновності, що пов'язано з кривизною поверхні краплі; перпендикулярних перерізах для довільної точки 2г - кривизна контуру краплі без обробки поверхні. поверхні. В результаті проходження через модуПристрій містить джерело світла 1 (фіг.1), яке лятор 5, перше 4 напівпрозоре та перше 7, друге 8 оптично пов'язане з колімаційною лінзою 2, яка відбиваючі дзеркала промінь потрапляє під певоптично пов'язана з матовим склом 3, які розтаним кутом на кювету 13 з досліджуваною рідиною, шовані на одній оптичній вісі, перше 4 та друге 11 заломлюється в залежності від показника заломнапівпрозорі дзеркала, перше 7, друге 8, третє 9, лення досліджуваної рідини і через третє 9, четвечетверте 10 відбиваючі дзеркала, які оптично зв'ярте 10 відбиваючі та друге 11 напівпрозоре дзерзані між собою, модулятори 5, 6, які оптично зв'якала потрапляє на фотоматрицю чутливих зані з першим 4 напівпрозорим дзеркалом та перелементів 15. По величині зміщення центра світшим 7 відбиваючим дзеркалом і колімаційною лової плями на фотоматрицічутливих елементів лінзою 2 відповідно, основу 12, кювету 13 для до15 відносно початкового положення, яке зареєстсліджуваної рідини, комп'ютер 14, вхід якого пов'яроване в момент відсутності рідини, судять про заний з виходами фотоматриці чутливи х елеменпоказник заломлення досліджуваної рідини. Поветів 15 і оптичної системи 16. Причому перше 4 рхневий натяг розраховується за значенням радіунапівпрозоре дзеркало оптично зв'язане з джересів кривизни поверхні та показником заломлення лом світла 1, друге 11 напівпрозоре дзеркало опдосліджуваної рідини. тично зв'язане з четвертим 10 відбиваючим дзеркалом та фотоматрицею чутливи х елементів 15. 5 Комп’ютерна в ерстка В. Мацело 71263 6 Підписне Тираж 37 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601