Монокристалічний матеріал для термолюмінесцентної дозиметрії теплових нейтронів
Номер патенту: 78321
Опубліковано: 15.03.2007
Автори: Толмачов Олександр Володимирович, Долженкова Олена Федорівна, Явецький Роман Павлович, Дубовик Михайло Федорович, Коршикова Тетяна Іванівна
Формула / Реферат
1. Монокристалічний матеріал на основі активованих європієм складних боратів Lі6RЕ1-xЕuх(ВО3)3, де RE=Gd або Y, який відрізняється тим, що концентрація активатора у вирощеному монокристалі складає х=0,002-0,07.
2. Монокристалічний матеріал за п. 1, який відрізняється тим, що концентрація активатора у вирощеному монокристалі складає х=0,003-0,07.
3. Монокристалічний матеріал за п. 1, який відрізняється тим, що концентрація активатора у вирощеному монокристалі складає х=0,002-0,01.
Текст
1. Монокристалічний матеріал на основі активованих європієм складних боратів Lі6RЕ1xЕu х(ВО3) 3, де RE=Gd або Y, який відрізняється тим, що концентрація активатора у вирощеному монокристалі складає х=0,002-0,07. 2. Монокристалічний матеріал за п. 1, який відрізняється тим, що концентрація активатора у вирощеному монокристалі складає х=0,003-0,07. 3. Монокристалічний матеріал за п. 1, який відрізняється тим, що концентрація активатора у вирощеному монокристалі складає х=0,002-0,01. (19) (21) 20041210616 (22) 23.12.2004 (24) 15.03.2007 (46) 15.03.2007, Бюл. №3, 2007р. (72) Долженкова Олена Федорівна, Дубовик Михайло Федорович, Коршикова Тетяна Іванівна, Толмачов Олександр Володимирович, Явецький Роман Павлович (73) ІНСТИТУТ МОНОКРИСТАЛІВ НАЦІОНАЛЬНОЇ АКАДЕМІЇ Н АУК УКРАЇНИ (56) US 4636642, 13.01.1987 US 5083031, 21.01.1992 US 5340985, 23.08.1994 3 78321 До недоліків наведених матеріалів належить низький макроскопічний переріз захоплення теплових нейтронів через низьку концентрацію чутливих до теплових нейтронів элементов (ізотопів 6Li або 10В). Як вважають Гайдуков та співавтори, на сьогоднішній день немає термолюмінесцентного дозиметра з високою селективною чутливістю до теплових нейтронів [М. Coeck, F.Vanhavere, N.Khaidukov, Thermoluminescent characteristic of LiKYF5:Pr 3+ and KYF4 :Tm 3+ crystals for applications in neutron and gamma dosimetry // in Radiarion protection dosimetry, V.I00, Nosl-4, pp.221-224., 2002г. - Nuclear Technology Publishing]. Відомий активований європієм полікристалічний матеріал на основі складних літій-гадолінієвих і літій-ітрієвих боратів - Li6RE1-xEu x(BO 3)3 (RE=Gd, Y), де х=0-1, який досліджувався як червоний фосфор [М. Leskelä, and J. Hölsä, "Luminescence properties of Eu3+ doped Li6Ln(BO3)3 (Ln=Gd, Y) phosphors", Eur. J. Solid State Inorg. Chem. 28, 151.,- 1991г.]. Ці ж полікристалічні матеріали - Li6RЕ1хЕu х(ВО3) 3 (RE=Gd, Y), де х
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMaterial of monocrystal for thermoluminiscence dosimetry of thermal neutrons
Автори англійськоюTolmachov Oleksandr Volodymyrovych, Yavetskyi Roman Pavlovych
Назва патенту російськоюМатериал монокристалла для термолюминесцентной дозиметрии тепловых нейтронов
Автори російськоюТолмачов Александр Владимирович, Явецкий Роман Павлович
МПК / Мітки
МПК: G01T 1/02
Мітки: теплових, дозиметрії, монокристалічний, нейтронів, термолюмінесцентної, матеріал
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-78321-monokristalichnijj-material-dlya-termolyuminescentno-dozimetri-teplovikh-nejjtroniv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Монокристалічний матеріал для термолюмінесцентної дозиметрії теплових нейтронів</a>
Пристрій для визначення флюенса теплових нейтронів
Номер патенту: 3693
Опубліковано: 15.12.2004
Автори: Бурак Ярослав Володимирович, Адамів Володимир Теодорович, Теслюк Ігор Михайлович
МПК: G01T 3/00
Мітки: пристрій, визначення, теплових, нейтронів, флюенса
Формула / Реферат:
Пристрій для визначення флюенса теплових нейтронів на основі сполук Li2B4O7, який відрізняється тим, що сполуку Li2B4O7 використано одночасно у вигляді 2-х вирощених монокристалів, один з яких збагачений до рівня 95 - 96 ат.% ізотопом 6Li та 97 - 98 ат.% ізотопом 10В, другий - до рівня 99 – 99,2 ат.% ізотопом 7Li та 99 – 99,3 ат.% ізотопом 11B, а реєстрація світлових сигналів від них виконується в різницевому варіанті.
Кремній монокристалічний
Номер патенту: 41605
Опубліковано: 15.01.2004
Автори: Мокеєв Юрій Генадійович, Немчин Олександр Федорович
МПК: C30B 29/06
Мітки: монокристалічний, кремній
Формула / Реферат:
1. Кремній монокристалічний, що містить мікродомішки кисню, вуглецю та легуючу добавку, який відрізняється тим, що він додатково містить мікродомішки заліза, міді та золота при такому їх співвідношенні, ат/см3: кисень 7·1017 - 1,1·1018 вуглець 5·1016 - 3·1017 легуюча добавка 2,3·1013 – 1,2·1017 залізо 5·1015 -...
Спосіб вимірювання гамма-випромінювання та потоків нейтронів
Номер патенту: 15474
Опубліковано: 17.07.2006
Автор: Шавронська Ганна Василівна
МПК: G01T 1/16
Мітки: спосіб, нейтронів, потоків, гамма-випромінювання, вимірювання
Формула / Реферат:
1. Спосіб вимірювання гамма-випромінювання та потоків нейтронів, заснований на підрахунку доз гамма-випромінювання та потоків нейтронів, який відрізняється тим, що використовується реакція високооберненої йод-йодидної системи з інертними електродами.2. Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що вимірювання гамма-випромінювання та потоків нейтронів проводять одночасно.3. Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що вимірювання...
Спосіб виготовлення покриття для поглинання нейтронів, виділених при ядерній реакції радіоактивних матеріалів, та поглинальний елемент
Номер патенту: 66890
Опубліковано: 15.06.2004
Автори: Патцельт Маттіас, Штельцер Херманн, Дірш Рудольф, Вільбюр Клаус-Лео, Метлінг Дітер
МПК: G21F 1/00
Мітки: матеріалів, виготовлення, нейтронів, покриття, виділених, елемент, реакції, ядерний, радіоактивних, спосіб, поглинальний, поглинання
Формула / Реферат:
1. Спосіб виготовлення покриття для поглинання нейтронів, утворених при ядерній реакції радіоактивних матеріалів, причому на призначену для цього поверхню щонайменше частини екранувального елемента, виготовленого із матеріалу основи, у дисперсійній ванні наносять шар, утворений елементом з великим перерізом захоплювання нейтронів і здатним до електролітичного чи автокаталітичного осадження металічним елементом, причому під час процесу...
Спосіб визначення середнього заряду від нейтронів в імпульсі камери поділу
Номер патенту: 61112
Опубліковано: 17.11.2003
Автори: Чукляєв Сєргєй Васільєвіч, Кошелєв Алєксандр Сєргєєвіч, Одінцов Юрій Мітрофановіч, Пєпьолишев Юрій Ніколаєвіч
МПК: G01T 3/00, G01T 1/28, H01J 47/00
Мітки: визначення, поділу, заряду, середнього, імпульсі, нейтронів, спосіб, камери
Формула / Реферат:
1. Спосіб визначення середнього заряду від нейтронів в імпульсі камери поділу, що полягає в тому, що камеру, яка містить електрод і подільний матеріал, підключають до зовнішнього джерела електричної напруги живлення, опромінюють потоком нейтронів, вимірюють електричний струм від нейтронів In і визначають середній заряд Q від нейтронів в імпульсі камери поділу, який відрізняється тим, що вимірюють кількість імпульсів Nd у...
Попередній патент: Комбінований підшипник ковзання
Наступний патент: Оптичний пірометр
Випадковий патент: Гірка настоянка "поліська перцева"