Спосіб визначення структурних змін в акрилових матеріалах
Номер патенту: 84162
Опубліковано: 10.10.2013
Автори: Криничко Леонід Романович, Нідзельський Михайло Якович, Кузнецов Віктор Васильович
Формула / Реферат
Спосіб визначення структурних змін в акрилових матеріалах, що включає дослідження акрилових матеріалів, який відрізняється тим, що для дослідження матеріалу використовують растрову електронну мікроскопію із збільшенням у 5000-7000 разів.
Текст
Реферат: Спосіб визначення структурних змін в акрилових матеріалах полягає у дослідженні акрилових матеріалів з використанням растрової електронної мікроскопії із збільшенням у 5000-7000 разів. UA 84162 U (12) UA 84162 U UA 84162 U 5 10 15 20 Спосіб належить до галузі медицини, а саме до ортопедичної стоматології, і може бути використаний для дослідження структурних змін у акрилових стоматологічних протезах. Відомий ехоімпульсний спосіб контролю якості структурних змін акрилових матеріалів, оснований на випромінюючих імпульсах, що надсилаються в товщу матеріалу і відбиваються від даної поверхні матеріалу, повертаючись до реєстратора променя, який виводить дані у вигляді графіка на екран. Критерієм наявності дефекту служить відбиття імпульсу, що не доходить до даної поверхні. Недоліком цього способу є те, що він недостатньо інформативний, потребує довготривалого вираховування показників за допомогою графіка та трудомісткого процесу. В основу запропонованої корисної моделі поставлено задачу запропонувати спосіб, який би був більш інформативним, давав змогу визначати дефекти по всій товщині матеріалу, їх величину, форму та кількість. Поставлена задача вирішується за допомогою способу растрової електронної мікроскопії, що проводиться на електронному мікроскопі РЕМ-100У. Спосіб визначення структурних змін проводився наступним чином: зразки акрилового матеріалу (полімеризованого) розміром 5*5*1,5 мм знежирювалися 70 % спиртом, фіксувалися на предметному столику електропровідним клеєм. Далі зразки пластмаси підлягали напиленню сріблом 900 проби у вакуумному апараті ВУП-4. Підготовлені зразки вивчали на електронному мікроскопі РЕМ-100У та отримували фотографію із різними збільшеннями. Оптимальним збільшенням для дослідження структурних змін в акрилових матеріалах є збільшення 5000-7000 разів. Запропонований спосіб визначення якості акрилових матеріалів за допомогою електронної мікроскопії дає змогу визначити якість матеріалу по всій товщині, візуально дослідити дефекти та їх кількість, розмір та величину. 25 ФОРМУЛА КОРИСНОЇ МОДЕЛІ 30 Спосіб визначення структурних змін в акрилових матеріалах, що включає дослідження акрилових матеріалів, який відрізняється тим, що для дослідження матеріалу використовують растрову електронну мікроскопію із збільшенням у 5000-7000 разів. Комп’ютерна верстка Л. Ціхановська Державна служба інтелектуальної власності України, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601 1
ДивитисяДодаткова інформація
Автори англійськоюNidzelskyi Mykhailo Yakovych, Kuznetsov Viktor Vasyliovych
Автори російськоюНидзельский Михаил Яковлевич, Кузнецов Виктор Васильевич
МПК / Мітки
МПК: G01B 9/00, A61C 13/00
Мітки: структурних, спосіб, акрилових, матеріалах, змін, визначення
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-84162-sposib-viznachennya-strukturnikh-zmin-v-akrilovikh-materialakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення структурних змін в акрилових матеріалах</a>
Спосіб контролю орієнтаційних та структурних змін у кристалічних матеріалах in situ в процесі зовнішнього впливу
Номер патенту: 89743
Опубліковано: 25.02.2010
Автори: Бадіян Євген Юхимович, Шеховцов Олег Валерійович, Шурінов Роман Володимирович, Тонкопряд Алла Григорівна
МПК: G01B 11/16
Мітки: процесі, кристалічних, впливу, структурних, змін, матеріалах, зовнішнього, орієнтаційних, спосіб, контролю
Формула / Реферат:
Спосіб контролю орієнтаційних та структурних змін у кристалічних матеріалах in situ в процесі зовнішнього впливу, який включає реєстрацію й обробку колірних орієнтаційних карт поверхні зразка досліджуваного кристалічного матеріалу, який відрізняється тим, що спочатку досліджуваний зразок кристалічного матеріалу піддають хімічному травленню для виявлення квазіперіодичного рельєфу травлення на поверхні зразка, після чого під дією заданого...
Спосіб визначення структурних елементів та змін на дні ока
Номер патенту: 60623
Опубліковано: 15.10.2003
Автори: Салдан Юлія Йосипівна, Галінська Ірина Валентинівна, Салдан Йосип Романович, Павлов Сергій Володимирович, Семенець Ольга Миколаївна
МПК: A61F 9/00
Мітки: змін, елементів, спосіб, структурних, визначення, дні, ока
Формула / Реферат:
Спосіб визначення структурних елементів та змін на дні ока шляхом зняття кольорового та флюоресцентногозображень очного дна та їх аналізу, який відрізняється тим, що аналіз зображень очного дна проводять в режимі реального часу, порівнюють їх з нормою, після чого роблять висновок про наявність новоутворень та змін на дні ока, по кількості пікселів визначають їх площу в абсолютних або відносних величинах, обчислюють діаметр судин та розмір...
Спосіб визначення структурних змін на очному дні в зоні запального процесу
Номер патенту: 44403
Опубліковано: 15.02.2002
Автори: Салдан Юлія Йосипівна, Кожем'яко Володимир Прокопович, Тимофєєв Іван Володимирович, Салдан Йосип Романович, Павлов Сергій Володимирович, Мохамед Ель-Хатиб
Мітки: очному, процесу, визначення, зони, змін, запального, структурних, дні, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб визначення структурних змін на очному дні в зоні запального процесу, що складається з аналізу кольорового та флуоресцентного його зображень, який відрізняється тим, що для виявлення структурних змін виконують швидкісну (не менш 1 кадру за 0,5 сек) флуоресцентну ангіографію з моменту надходження барвника в судини очного дна, що визначають фотоелементом, який чутливий до жовто-зеленої області спектра (520-540 нм) та аналізують заповнення...
Спосіб визначення рівня залишкового мономера в акрилових пластмасах
Номер патенту: 30637
Опубліковано: 15.12.2000
Автори: Палійчук Іван Васильович, Рожко Микола Михайлович, Шийчук Ірина Андріївна
МПК: C08F 6/00
Мітки: спосіб, мономера, акрилових, визначення, пластмасах, залишкового, рівня
Формула / Реферат:
Спосіб визначення рівня залишкового мономера в акрилових пластмасах, що включає замочування подрібненої пластмасової стружки в розчиннику, екстрагування розчину та визначення залишкового мономера, який відрізняється тим, що як розчинник використовують дистильовану воду, пластмасову стружку замочують впродовж 4 год., а залишковий мономер визначають спектрофотометричним методом.
Спосіб моделювання патологічних структурних змін в органах сечовидільної системи
Номер патенту: 64844
Опубліковано: 25.11.2011
Автори: Костєв Федір Іванович, Дехтяр Юрій Миколайович, Насібуллін Борис Абдуллайович
МПК: A61B 10/00
Мітки: моделювання, органах, патологічних, спосіб, сечовидільної, змін, системі, структурних
Формула / Реферат:
Спосіб моделювання патологічних структурних змін в органах сечовидільної системи в експерименті шляхом навантажувальних тестів, який відрізняється тим, що експериментальних тварин піддають хронічному іммобілізаційно-емоційному стресу протягом 75-80 днів, потім тварин виводять із експерименту шляхом декапітації під ефірним наркозом, після чого виконують забір органів сечовидільної системи і при наявності в них ознак зниження активності...
Попередній патент: Спосіб вишивання виробів на підготовленій основі
Наступний патент: Спосіб контролю шорсткості поверхні стоматологічних пластмас
Випадковий патент: Тренажер - супутник тенісиста