Спосіб прогнозування дефектів виливків
Номер патенту: 11504
Опубліковано: 15.12.2005
Автори: Самарай Роман Валерійович, Самарай Валерій Петрович, Довбиш Ніна Олександрівна, Авдокушин Володимир Павлович
Формула / Реферат
Спосіб прогнозування дефектів виливків шляхом підрахунку ознак, що спостерігаються, який відрізняється тим, що проводять повний якісний і кількісний аналіз усіх прогностичних гіпотез, їх ймовірну оцінку аж до визначення 100% імовірності за формулою:
,
де:
Ki=(Pтек-Рнас)/(Ропт-Рнас), якщо Ртек є [Рнас; Ропт];
Ki=2-(Ртек-Рнас)/(Ропт-Рнас), якщо Ртек є [Ропт; Рmax];
Ртек є [Рнас; Рmax];
Рнас <Ртек<Рmax; Pнас<Pопт<Pmax;
- вірогідність j-ої гіпотези;
- коефіцієнт значимості (інформативності) і-ої ознаки, характерної j-ої гіпотези; будь-яке дійсне число;
Ki - коефіцієнт присутності (1) чи відсутності (0) і-ої ознаки, характерної для j-ої гіпотези в ситуації, що спостерігається, Ki є [0;1] (дорівнює значенню з інтервалом від 0 до 1), фактично є функцією бажаності;
Ртек - щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
Рmax - максимальна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
Рнас - насипна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
Ропт - оптимальна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3; Ропт=0,85 Рmax ,
після цього здійснюють облік всіх ознак, властивих кожній прогностичній гіпотезі, в т.ч. частинних ознак, характерних для окремих прогностичних гіпотез, при цьому ознаки, не характерні для прогностичних гіпотез, не враховують.
Текст
Спосіб прогнозування дефектів виливків шляхом підрахунку ознак, що спостерігаються, який відрізняється тим, що проводять повний якісний і КІЛЬКІСНИЙ аналіз усіх прогностичних гіпотез, їх ймовірну оцінку аж до визначення 100% імовірності за формулою Де К І =(Р Т ек-Рнас)/(Ропт-Рнас), ЯКЩО Ртек Є [Рнас, Ропті, К ( =2-(Ртек-Рнас)/(Ропт-Рнас), ЯКЩО Ртек Є [Р О пт, Ртах], Ртек Є І' нас, 'max], Рнас
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for predicting casting defects
Автори англійськоюSamarai Valerii Petrovych, Dovbysh Nina Oleksandrivna, Samarai Roman Valeriovych
Назва патенту російськоюСпособ прогнозирования дефектов отливок
Автори російськоюСамарай Валерий Петрович, Довбиш Нина Александровна, Самарай Роман Валерьевич
МПК / Мітки
МПК: A61B 5/00, A61B 1/00, B22C 9/00
Мітки: прогнозування, дефектів, спосіб, виливків
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/4-11504-sposib-prognozuvannya-defektiv-vilivkiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб прогнозування дефектів виливків</a>
Попередній патент: Ротор вітродвигуна
Наступний патент: Спосіб прогнозування дефектів виливків
Випадковий патент: Штам yersinia enterocolitica pi-11/15 для ветеринарної біотехнології