Спосіб прогнозування дефектів виливків
Номер патенту: 11505
Опубліковано: 15.12.2005
Автори: Самарай Роман Валерійович, Авдокушин Володимир Павлович, Довбиш Ніна Олександрівна, Самарай Валерій Петрович
Формула / Реферат
Спосіб прогнозування дефектів виливків шляхом підрахунку ознак, що спостерігаються, який відрізняється тим, що проводять повний якісний і кількісний аналіз усіх прогностичних гіпотез, їх ймовірну оцінку аж до визначення 100% імовірності за формулою:
,
де:
Ki=(Pтек-Рнас)/(Рmax-Рнас);
Ртек є [Рнас; Рmax]; Рнас <Ртек<Рmax; Pнас<Pопт<Pmax ;
- вірогідність j-ої гіпотези;
- коефіцієнт значимості (інформативності) і-ої ознаки, характерної для j-ої гіпотези j-ої гіпотези; будь-яке дійсне число;
Ki - коефіцієнт присутності (1) чи відсутності (0) і-ої ознаки, характерної для j-ої гіпотези в ситуації, що спостерігається, Ki є [0;1] (дорівнює значенню з інтервалом від 0 до 1), фактично є функцією бажаності;
Ртек - щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
Рmax - максимальна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
Рнас - насипна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
Ропт - оптимальна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3,
після цього здійснюють облік усіх ознак, властивих кожній прогностичній гіпотезі, в т.ч. приватнних ознак, характерних для окремих прогностичних гіпотез, при цьому ознаки, не характерні для прогностичних гіпотез, не враховують.
Текст
Спосіб прогнозування дефектів виливків шляхом підрахунку ознак, що спостерігаються, який відрізняється тим, що проводять повний якісний і кількісний аналіз усіх прогностичних гіпотез, їх ймовірну оцінку аж до визначення 100% імовірності за формулою: P J =1002(A l J K,)/I(A I J ), і=і і=і де: К|=( Ртек" Рнас)'(Ртах" Рнас) ї Ртек Є [Рнас! Ртах]! Рнас
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for predicting casting defects
Автори англійськоюSamarai Valerii Petrovych, Dovbysh Nina Oleksandrivna, Samarai Roman Valeriovych
Назва патенту російськоюСпособ прогнозирования дефектов отливок
Автори російськоюСамарай Валерий Петрович, Довбиш Нина Александровна, Самарай Роман Валерьевич
МПК / Мітки
МПК: B22C 9/00, A61B 5/00, A61B 1/00
Мітки: прогнозування, дефектів, виливків, спосіб
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/4-11505-sposib-prognozuvannya-defektiv-vilivkiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб прогнозування дефектів виливків</a>
Попередній патент: Спосіб прогнозування дефектів виливків
Наступний патент: Спосіб прогнозування дефектів виливків
Випадковий патент: Порошкова композиція для пайки колб телевізійних кінескопів