Спосіб контролю форми дзеркального еліпсоїда обертання

Реферат: UA 78518 U UA 78518 U 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 Корисна модель належить до вимірювальної техніки і може бути використана для контролю форми дзеркальних асферичних поверхонь обертання або для визначення відхилень профілю поверхні від заданого. Такий контроль важливий для визначення якості виготовлення деталей. Найбільш близьким до запропонованого за сукупністю ознак є спосіб, використаний у пристрої для контролю форми поверхні (Патент № 59549 України, G01M 11/08, 15.09.2003 р.), у відповідності до якого на поверхні, що контролюється, формують прямолінійну траєкторію руху світлового зонда, відбитий промінь аналізують, а траєкторію сканування визначають. Основним недоліком зазначеного способу є неможливість його використання для контролю дзеркальних поверхонь обертання. В основу корисної моделі, що заявляється, поставлена задача підвищення ефективності контролю форми дзеркального еліпсоїда обертання, а також розширення функціональних можливостей реалізації способу. Поставлення задача вирішується тим, що в способі контролю форми дзеркального еліпсоїда обертання, що включає формування на поверхні обертання траєкторії руху світлового зонда, аналіз відбитого променя та визначення траєкторії сканування, новим є те, що на поверхні обертання формується замкнута криволінійна траєкторія, а контроль форми поверхні здійснюється шляхом порівняння характеристик отриманого зображення з комп'ютерною моделлю з визначеними допусками. На кресленні наведена структурна схема, що пояснює сутність способу контролю форми дзеркального еліпсоїда обертання. Вона містить джерело колімованого випромінювання (лазер) 1, оптичну систему 2, датчик положення променя З, досліджуваний об'єкт 4, що містить дзеркальну еліпсоїдальну поверхню обертання, датчик кутового положення 5, позиційночутливий фотоприймач 6 та персональний комп'ютер 7. Розглянемо сутність способу на прикладі роботи обладнання. Випромінювання лазеру 1 спрямовують на оптичну систему 2, що направляє його на дзеркальну поверхню об'єкта 4, що контролюється. Відбите поверхнею випромінювання потрапляє на позиційно-чутливий фотоприймач 6. Замкнута криволінійна траєкторія формується або шляхом обертання об'єкту 4, або шляхом обертання оптичної системи 2, причому кут повороту контролюється датчиком кутового положення 5. Далі за даними фотоприймача 6 за допомогою персонального комп'ютера 7 будують замкнуту криволінійну траєкторію в поперечному перетині. При дискретному кутовому повороті оптичної системи 2 та наступному формуванню криволінійної траєкторії виконують побудову повної дійсної форми дзеркальної поверхні обертання і порівнюють її з еталонною, причому кут повороту оптичної системи 2 контролюють за допомогою датчика положення променя 3. Реалізація запропонованого способу забезпечує можливість побудови електронної моделі робочої поверхні відбиття еліпсоїду обертання з реальними формою та коефіцієнтом відбиття завдяки використанню позиційно-чутливого фотоприймача та додаткової координати переміщення об'єкту, що контролюється. Завдяки використанню мікроманіпулятора, наприклад на основі кільцевих п'єзоелементів (Патент №71044 України, G02B21/32 2004 р.), в якості приводу оптичної системи можна регулювати роздільну здатність та кількість точок контролю вздовж осі еліпсоїда в залежності від точності виготовлення об'єкту, що контролюється. Спосіб суттєво підвищує ефективність контролю форми поверхні сфероїдів та дозволяє розширити функціональні можливості відповідної вимірювальної техніки. ФОРМУЛА КОРИСНОЇ МОДЕЛІ Спосіб контролю форми дзеркального еліпсоїда обертання, що включає формування на поверхні обертання траєкторії руху світлового зонда, аналіз відбитого променя та визначення траєкторії сканування, який відрізняється тим, що додатково контролюють положення досліджуваного об'єкта, а контроль форми поверхні здійснюють шляхом порівняння характеристик отриманого зображення з еталонним. 1 UA 78518 U Комп’ютерна верстка С. Чулій Державна служба інтелектуальної власності України, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601 2