Патенти з міткою «діаграм»

Номер патенту: 115394

Опубліковано: 25.10.2017

Автори: Дрозд Мирослав Олександрович, Дрозд Олександр Валентинович, Гончарук Андрій Васильович, Набока Олег Володимирович, Антощук Світлана Григорівна

МПК: G11C 7/12, G11C 7/02, G06F 12/06 ...

Мітки: діаграм, часових, пристрій, формування

Формула / Реферат:

Пристрій для формування часових діаграм, що містить групу регістрів, при цьому перший тактовий вхід пристрою підключено до перших тактових входів регістрів групи, другі тактові входи регістрів групи об'єднані між собою, вхід режиму пристрою підключено до входів режиму регістрів групи, послідовний вхід пристрою підключено до послідовного інформаційного входу першого регістра групи, послідовний вихід кожного попереднього регістра групи...

Номер патенту: 97702

Опубліковано: 12.03.2012

Автори: Федотов Борис Микитович, Хомік Микола Миколайович

МПК: H01Q 21/00, H01Q 19/00

Мітки: пристрій, діаграм, створення, апертурою, смугової, синтезованою, реалізації, радіолокаційної, станції, спосіб, спрямованості

Формула / Реферат:

1. Спосіб створення діаграм спрямованості смугової радіолокаційної станції із синтезуванням апертури, що містить визначену кількість антенних елементів, при якому визначають для створення кожної діаграми спрямованості групу антенних елементів, формують вибрану діаграму спрямованості, активуючи відповідну їй групу антенних елементів, орієнтують сформовану діаграму спрямованості в напрямку на смугу розвідки й стабілізують її щодо опорної...

Номер патенту: 62860

Опубліковано: 26.09.2011

Автор: Федотов Борис Микитович

МПК: H01Q 19/00, H01P 1/10

Мітки: спрямованості, радіолокаційної, діаграм, спосіб, створення, апертурою, синтезованою, станції, смугової

Формула / Реферат:

1. Спосіб створення діаграм спрямованості смугової радіолокаційної станції із синтезуванням апертури, яка містить визначену кількість антенних елементів, при цьому визначають для створення кожної діаграми спрямованості групу антенних елементів, формують вибрану діаграму спрямованості, активуючи відповідну їй групу антенних елементів, орієнтують сформовану діаграму спрямованості в напрямку на смугу розвідки й стабілізують її щодо опорної...

Номер патенту: 79811

Опубліковано: 25.07.2007

Автори: Тугай Валерій Петрович, Гуляєв Віктор Володимирович, Кашин Сергій Валерійович, Клепфер Євген Іванович

МПК: H01Q 3/00

Мітки: направленості, пристрій, конічним, багатоканальний, скануванням, діаграм, антенний

Формула / Реферат:

Багатоканальний антенний пристрій з конічним скануванням діаграм направленості, що містить сканер, зв'язаний з приводом обертання, і опромінювачі, який відрізняється тим, що сканер виконаний по дводзеркальній схемі, причому поверхня головного відбивного дзеркала описана рівнянняму декартовій системі координат, вісь Z якої з'єднана з віссю обертання сканера, а...

Номер патенту: 19747

Опубліковано: 15.12.2006

Автори: Піпенко Віталій Володимирович, Клюка Олена Миколаївна, Роговий Станіслав Іванович, Прудкий Андрій Григорович, Юрко Павло Анатолійович

МПК: G01N 33/38, E04C 1/00

Мітки: матеріалів, стану, пристрій, одержання, повних, діаграм

Формула / Реферат:

Пристрій для одержання повних діаграм стану матеріалів, що містить випробувальну машину (прес) для стискання дослідних зразків та жорсткі елементи, які забезпечують розвантаження, перерозподіл релаксуючих напружень та стабілізацію деформацій дослідного зразка в умовах його силового деформування на низхідній частині діаграми, який відрізняється тим, що як жорсткі елементи використовують послідовно з'єднані гідравлічні домкрати, які мають...

Номер патенту: 55204

Опубліковано: 17.03.2003

Автори: Круглий Дмитро Віталійович, Пахомов Роман Іванович, Роговий Станіслав Іванович

МПК: G01N 33/38

Мітки: матеріалів, спосіб, повних, діаграм, одержання, стану

Формула / Реферат:

Спосіб одержання повних діаграм стану матеріалів, що полягає в забезпеченні необхідної швидкості деформування та стабілізації деформацій крихкого матеріалу дослідного зразка в умовах його роботи на ділянці низхідної гілки діаграми, який відрізняється тим, що при випробовуваннях дослідних зразків використовуються жорсткі силові елементи, котрі по досягненні критичних деформацій матеріалу дослідного зразка, коли він не може сприймати подальшого...