Патенти з міткою «некристалічних»

Номер патенту: 109982

Опубліковано: 26.09.2016

Автори: Кокенєші Шандор, Неймет Юрій Юрійович, Пал Юрій Олександрович, Студеняк Ігор Петрович, Бучук Михайло Юрійович, Куцик Михайло Михайлович

МПК: H05H 1/42

Мітки: некристалічних, спосіб, резонансу, плазмонного, сандвіч-структур, одержання, матеріалів, вигляді, частотою, композитних, халькогенідах, керування

Формула / Реферат:

Спосіб одержання композитних матеріалів у вигляді сандвіч-структур, що включають шар золотих наночастинок на підкладці зі скла, покритий халькогенідними тонкими плівками системи Ag-As-S, який відрізняється тим, що зміну частоти плазмонного резонансу здійснюють за рахунок зміни концентрації срібла в халькогенідних плівках системи Ag-As-S.

Номер патенту: 81328

Опубліковано: 25.12.2007

Автори: Шпак Іван Іванович, Козак Мирослав Іванович, Студеняк Ігор Петрович, Лоя Василь Юрійович

МПК: G01N 21/41

Мітки: некристалічних, густини, тонких, визначення, спосіб, плівок

Формула / Реферат:

Спосіб визначення густини некристалічних тонких плівок, який включає експериментальні вимірювання фізичних величин некристалічних тонких плівок, який відрізняється тим, що еліпсометричним вимірюванням визначають показник заломлення n, після чого густину некристалічної тонкої плівки r знаходять за формулою:де m - відоме значення молярної маси досліджуваної...

Номер патенту: 16412

Опубліковано: 15.08.2006

Автори: Лоя Василь Юрійович, Студеняк Ігор Петрович, Шпак Іван Іванович, Козак Мирослав Іванович

МПК: G02B 27/00

Мітки: тонких, плівок, густини, некристалічних, спосіб, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення густини некристалічних тонких плівок, який включає експериментальні вимірювання фізичних величин некристалічних тонких плівок, зокрема густини, який відрізняється тим, що еліпсометричним вимірюванням визначають показник заломлення n, після чого густину некристалічної тонкої плівки  знаходять за формулою: