Шпак Іван Іванович
Спосіб визначення температурної області існування проміжного порядку в склоподібних напівпровідниках
Номер патенту: 87523
Опубліковано: 27.07.2009
Автори: Студеняк Ігор Петрович, Шпак Іван Іванович
МПК: G01N 25/00, G01N 21/59, H01L 21/66 ...
Мітки: порядку, проміжного, температурної, склоподібних, спосіб, існування, визначення, області, напівпровідниках
Формула / Реферат:
Спосіб визначення температурної області існування проміжного порядку в склоподібних напівпровідниках, який включає експериментальні дослідження фізичних властивостей склоподібних напівпровідників, який відрізняється тим, що проводять температурні дослідження краю оптичного поглинання склоподібних напівпровідників і представляють енергетичну ширину w краю оптичного поглинання у вигляді
Спосіб визначення густини некристалічних тонких плівок
Номер патенту: 81328
Опубліковано: 25.12.2007
Автори: Козак Мирослав Іванович, Лоя Василь Юрійович, Студеняк Ігор Петрович, Шпак Іван Іванович
МПК: G01N 21/41
Мітки: визначення, спосіб, некристалічних, тонких, густини, плівок
Формула / Реферат:
Спосіб визначення густини некристалічних тонких плівок, який включає експериментальні вимірювання фізичних величин некристалічних тонких плівок, який відрізняється тим, що еліпсометричним вимірюванням визначають показник заломлення n, після чого густину некристалічної тонкої плівки r знаходять за формулою:де m - відоме значення молярної маси досліджуваної...
Спосіб визначення температурної області існування проміжного порядку в склоподібних напівпровідниках
Номер патенту: 25864
Опубліковано: 27.08.2007
Автори: Шпак Іван Іванович, Студеняк Ігор Петрович
МПК: G01K 17/00
Мітки: склоподібних, області, існування, напівпровідниках, спосіб, температурної, визначення, порядку, проміжного
Формула / Реферат:
Спосіб визначення температурної області існування проміжного порядку в склоподібних напівпровідниках, який включає експериментальні дослідження фізичних властивостей склоподібних напівпровідників, який відрізняється тим, що проводять температурні дослідження краю оптичного поглинання склоподібних напівпровідників і представляють енергетичну ширину w краю оптичного поглинання у вигляді:w = wT + (wX)stat+(wx)dyn,після чого...
Спосіб визначення молярної рефракції тонких плівок
Номер патенту: 24174
Опубліковано: 25.06.2007
Автори: Лоя Василь Юрійович, Шпак Іван Іванович, Козак Мирослав Іванович, Студеняк Ігор Петрович
МПК: G01N 21/47
Мітки: плівок, рефракції, молярної, визначення, тонких, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб визначення молярної рефракції тонких плівок, який включає експериментальне вимірювання фізичних величин тонких плівок, який відрізняється тим, що шляхом еліпсометричного вимірювання визначають показник заломлення n та товщину плівки d, а також обчислюють значення маси m, величину площі S, і за одержаними значеннями розраховують густину плівки
Спосіб визначення густини некристалічних тонких плівок
Номер патенту: 16412
Опубліковано: 15.08.2006
Автори: Студеняк Ігор Петрович, Шпак Іван Іванович, Козак Мирослав Іванович, Лоя Василь Юрійович
МПК: G02B 27/00
Мітки: визначення, густини, тонких, некристалічних, плівок, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб визначення густини некристалічних тонких плівок, який включає експериментальні вимірювання фізичних величин некристалічних тонких плівок, зокрема густини, який відрізняється тим, що еліпсометричним вимірюванням визначають показник заломлення n, після чого густину некристалічної тонкої плівки знаходять за формулою: