Патенти з міткою «плоскопаралельної»

Спосіб визначення показників заломлення і товщин шарів прозорої плоскопаралельної структури з довільним числом шарів

Завантаження...

Номер патенту: 54392

Опубліковано: 10.11.2010

Автор: Кушнір Олег Павлович

МПК: G01N 21/00

Мітки: плоскопаралельної, спосіб, числом, товщин, показників, заломлення, структури, довільним, визначення, шарів, прозорої

Формула / Реферат:

1. Спосіб визначення показників заломлення і товщин шарів прозорої плоскопаралельної структури, що включає вимірювання спектральної залежності коефіцієнта відбивання світла  в слабодисперсійній ділянці спектра при нормальному падінні світла на поверхню структури та визначення показників заломлення і товщин шарів досліджуваної структури, який відрізняється тим, що на основі...

Спосіб визначення показника загасання світла в плівці плоскопаралельної одноплівкової структури

Завантаження...

Номер патенту: 26018

Опубліковано: 27.08.2007

Автори: Кособуцький Петро Сидорович, Кушнір Олег Павлович

МПК: G01N 21/00

Мітки: плоскопаралельної, визначення, плівці, одноплівкової, світла, показника, спосіб, загасання, структури

Формула / Реферат:

Спосіб визначення показника загасання світла в плівці плоскопаралельної одноплівкової структури, згідно з яким вибирають інтервал довжин хвиль при нормальному падінні світла на поверхню структури, який відрізняється тим, що вимірюють залежність коефіцієнта відбивання світла від довжини світлової хвилі та визначають значення коефіцієнта відбивання в максимумі смуги інтерференції по обвідній максимумів при двох довільних значеннях довжини...

Спосіб визначення кута брюстера для верхньої межі поділу багатошарової плоскопаралельної структури

Завантаження...

Номер патенту: 24663

Опубліковано: 10.07.2007

Автори: Кособуцький Петро Сидорович, Кушнір Олег Павлович

МПК: G01N 21/00

Мітки: межі, брюстера, спосіб, структури, багатошарової, поділу, верхньої, плоскопаралельної, визначення, кута

Формула / Реферат:

Спосіб визначення кута Брюстера для верхньої межі поділу багатошарової плоскопаралельної структури, згідно з яким вимірюють кутову залежність енергетичного коефіцієнта відбивання світла при похилому падінні його на поверхню в р-поляризації, який відрізняється тим, що вимірюють кутові залежності енергетичного коефіцієнта відбивання світла із заданою довжиною хвилі від багатошарової плоскопаралельної структури при трьох або більше довільних...