G01B 9/04 — вимірювальні мікроскопи

Номер патенту: 90701

Опубліковано: 10.06.2014

Автори: Кривинчук Віталій Васильович, Томашівський Сергій Олегович

МПК: G01B 9/04

Мітки: розкриття, вимірювання, ширини, пристрій, тріщин

Формула / Реферат:

Пристрій для вимірювання ширини розкриття тріщин у вигляді мікроскопа, що складається з окуляра, окулярного кільця, сітки, тубуса, установочного кільця, колонки і об'єктива, який відрізняється тим, що до окулярного кільця додатково кріпиться веб-камера, з'єднана з персональним комп'ютером.

Номер патенту: 17347

Опубліковано: 15.09.2006

Автори: Копчевський Павло Михайлович, Писаренко Георгій Георгійович

МПК: G01N 3/00, G01B 9/00, G01B 9/04 ...

Мітки: вимірювання, поверхні, роздільної, субмікронної, конструкційного, елемента, скануючий, оптичного, здатності, локальних, деформацій, прилад

Формула / Реферат:

Скануючий прилад для оптичного вимірювання локальних деформацій субмікронної роздільної здатності на поверхні конструкційного елемента, що включає основу, на якій встановлено лазер, оптичну систему, систему фокусування, блок фотодіодів, рушій позиціонування по осі "X" та по осі "Y", блоки управління рушіями позиціонування, блок управління лазером, блок управління фокусуванням, підсилювачі сигналів фотодіодів,...

Номер патенту: 5821

Опубліковано: 15.03.2005

Автор: Ігнатьєв Євген Борисович

МПК: G01B 11/02, G01B 9/04

Мітки: пристрій, вимірювальний

Формула / Реферат:

1. Вимірювальний пристрій, що містить предметний стіл, виконаний з можливістю переміщення та вимірювання цих переміщень, освітлювач та мікроскоп, який відрізняється тим, що додатково містить підставку для вимірювального об'єкта та пентапризму, встановлену на предметному столі.2. Пристрій за п. 1, який відрізняється тим, що пентапризма закріплена у спеціальній оправі.

Номер патенту: 58634

Опубліковано: 15.08.2003

Автори: Крючин Андрій Андрійович, Лапчук Анатолій Степанович

МПК: G02B 21/06, G02B 5/30, G01B 9/04 ...

Мітки: поляризаційних, проведення, ближнього, зонд, поля, вимірювань, мікроскопа

Формула / Реферат:

Зонд мікроскопа ближнього поля для проведення поляризаційних вимірювань, що виконаний у вигляді відрізка оптоволокна або прозорої діелектричної трубки з вузьким дистальним кінцем конічної форми, на бічну поверхню якого нанесено провідне металеве покриття, який відрізняється тим, що вказане покриття нанесено у вигляді чотирьох непрозорих провідних ізольованих одна від одної повздовжніх смужок, розташованих попарно одна навпроти одної і...

Номер патенту: 3846

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Фомочкін Анатолій Пилипович, Делеур Євгеній Георгійович, Кузьмін Лев Васильович

МПК: G01B 9/04

Мітки: оптичний, пристрій, вимірювальний

Формула / Реферат:

Оптическое измерительное устройство, содержащее последовательно установленные источник излучения, проекционную оптическую систему, выполненную в виде трех объективов, два из которых установлены с возможностью взаимно - соосных перемещений в плоскости, перпендикулярной оси излучения, а третий - в ходе излучения на его оси за первыми двумя объективами, измерительную шкалу и окуляр, отличающееся тем, что оно снабжено двумя дополнительными...