G01Q 10/00 — Пристрою сканування або позиціонування, тобто пристрої для активного управління рухом або положенням зонда
Пристрій для вимірів електрофізичних параметрів напівпровідникового матеріалу
Номер патенту: 100080
Опубліковано: 10.07.2015
Автор: Тюменцев Володимир Антонович
МПК: G01Q 10/00, G01N 13/00, G01N 27/406, G01Q 20/00 ...
Мітки: електрофізичних, вимірів, параметрів, пристрій, матеріалу, напівпровідникового
Формула / Реферат:
1. Пристрій для вимірювання електрофізичних параметрів напівпровідникового матеріалу, що містить вимірювальні зонди, вимірювальну головку, важіль, пружину, механізми підйому і опускання зондів, переміщення вимірюваного зразка, переміщення вимірювальної головки щодо зразка, блоків управління і вимірювання, який відрізняється тим, що зонди жорстко кріпляться на вимірювальної головці, виконаній у вигляді плоскої металевої пластини, яка...
П’єзокерамічний сканер
Номер патенту: 50320
Опубліковано: 25.05.2010
Автори: Шарапов Валерій Михайлович, Романенко Дмитро Євгенович
МПК: H01L 41/00, G01Q 10/00
Мітки: сканер, п'єзокерамічний
Формула / Реферат:
П'єзокерамічний сканер, що містить основу, утримувач об'єкта або зонда, чотири біморфні елементи, кожен з яких складається з металевої пластини та п'єзоелемента, утримувач об'єкта або зонда у вигляді біморфного п'єзоелемента, який також складається з металевої пластини та п'єзоелемента, причому утримувач об'єкта закріплений на інших біморфних елементах за допомогою пружних пластинок прямокутної форми, який відрізняється тим, що ширина...