Криськів Світлана Казимирівна
Спосіб визначення ширини забороненої зони напівпровідників
Номер патенту: 102232
Опубліковано: 26.10.2015
Автори: Криськів Світлана Казимирівна, Вікулін Іван Михайлович, Коробіцин Борис Васильович
МПК: G01R 31/28, H01L 27/00
Мітки: спосіб, зони, ширини, визначення, напівпровідників, забороненої
Формула / Реферат:
Спосіб визначення ширини забороненої зони напівпровідників за вимірянням вольтамперних характеристик при двох температурах, який відрізняється тим, що на гомогенних p-n-структурах при двох невисоких температурах кімнатній та вищій на 30…50 °C, вимірюються вольт-амперні характеристики при струмах, що відповідають лінійній ділянці, з котрих екстраполяцією до нуля струму визначаються струмові напруги відсічки і по отриманій формулі...