Марколенко Павел Юрьевич

Номер патенту: 66535

Опубліковано: 17.05.2004

Автори: Вікулін Іван Михайлович, Марколенко Павел Юрьевич

МПК: G01R 31/28

Мітки: інтегральних, виявлення, схем, дефектів, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб виявлення дефектів інтегральних схем за вольт-амперними характеристиками складових їхніх кіл, який відрізняється тим, що по черзі вимірюються вольт-амперні характеристики всіх можливих пар виходів схеми, потім шляхом порівняння з еталонними вольт-амперними характеристиками визначають дефектні кола, що мають аномальні вольт-амперні характеристики, а дефектний елемент визначають як загальний елемент цих дефектних кіл.