Мурашкіна Дар’я Григорівна

Спосіб оцінки морфофункціонального стану ембріональних мезенхімних структур

Завантаження...

Номер патенту: 55038

Опубліковано: 10.12.2010

Автори: Мурашкіна Дар'я Григорівна, Дяговець Катерина Іванівна, Твердохліб Ігор Володимирович, Сілкіна Юлія Валеріївна, Потоцька Ольга Юріївна, Горбунов Андрій Олександрович

МПК: A61B 10/00

Мітки: структур, оцінки, стану, ембріональних, спосіб, мезенхімних, морфофункціонального

Формула / Реферат:

1. Спосіб оцінки морфофункціонального стану ембріональних мезенхімних структур шляхом морфометричних досліджень, за яких на цифрову фотографію стандартного гістологічного зрізу ембріона накладають точкову сітку Автанділова, який відрізняється тим, що: визначають кількісну щільність ядер мезенхімних клітин, по відхиленню показника роблять висновок про належність до відповідної стадії ембріонального розвитку або про відхилення розвитку в бік...

Спосіб обчислення рівня міграційно-адгезійного потенціалу ембріональних клітин

Завантаження...

Номер патенту: 52333

Опубліковано: 25.08.2010

Автори: Сілкіна Юлія Валеріївна, Горбунов Андрій Олександрович, Твердохліб Ігор Володимирович, Потоцька Ольга Юріївна, Мурашкіна Дар'я Григорівна

МПК: G01N 1/00

Мітки: рівня, ембріональних, потенціалу, міграційно-адгезійного, клітин, спосіб, обчислення

Формула / Реферат:

Спосіб обчислення рівня міграційно-адгезійного потенціалу ембріональних клітин шляхом розрахунку інтегрального показника, який відрізняється тим, що додатково проводиться підрахунок кількості лектинпозитивних клітин на 100 клітин у полі зору світлового мікроскопа, обчислюється інтегральний показник К за формулою: К= А / Б, де А - кількість WGA+ клітин на 100 клітин у полі зору; Б - кількість PNA+ клітин на 100 клітин у полі зору, за рівнем...

Спосіб вимірювання мікроскопічних структур

Завантаження...

Номер патенту: 51942

Опубліковано: 10.08.2010

Автори: Хріпков Ігор Сергійович, Твердохліб Ігор Володимирович, Потоцька Ольга Юріївна, Сілкіна Юлія Валеріївна, Горбунов Андрій Олександрович, Мурашкіна Дар'я Григорівна

МПК: G01N 1/00

Мітки: спосіб, вимірювання, структур, мікроскопічних

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання мікроскопічних структур, що включає вимірювання їх цифрових зображень, який відрізняється тим, що розміри цифрових зображень попередньо корегують, відповідно мірилу на зображенні об'єкта-мікрометра, а обчислювання здійснюють за допомогою доступного програмного забезпечення, що дозволяє вимірювати лінійні параметри в пікселах зображення.