Спосіб вимірювання мікроскопічних структур

Спосіб вимірювання мікроскопічних структур, що включає вимірювання їх цифрових зображень, який відрізняється тим, що розміри цифрових зображень попередньо корегують, відповідно мірилу на зображенні об'єкта-мікрометра, а обчислювання здійснюють за допомогою доступного програмного забезпечення, що дозволяє вимірювати лінійні параметри в пікселах зображення. (19) (21) u201000615 (22) 22.01.2010 (24) 10.08.2010 (46) 10.08.2010, Бюл.№ 15, 2010 р. (72) ПОТОЦЬКА ОЛЬГА ЮРІЇВНА, ГОРБУНОВ АНДРІЙ ОЛЕКСАНДРОВИЧ, ТВЕРДОХЛІБ ІГОР ВОЛОДИМИРОВИЧ, МУРАШКІНА ДАР'Я ГРИГОРІВНА, ХРІПКОВ ІГОР СЕРГІЙОВИЧ, СІЛКІНА ЮЛІЯ ВАЛЕРІЇВНА 3 зображень попередньо корегуються, відповідно мірилу на зображенні об'єкта-мікрометра, а обчислювання здійснюється за допомогою будь-якого програмного забезпечення, що дозволяє вимірювати лінійні параметри в пікселях зображення. Загальними ознаками корисної моделі, що збігаються з ознаками прототипу, є використання цифрових зображень мікроскопічних структур та програмного забезпечення для роботи з ними (наприклад, графічного редактору Adobe Photoshop). Відмінними ознаками є те, що отримані результати виражені в абсолютних значеннях (мікрометрах) та вимірюються за менший час. Заявлений спосіб здійснюється таким чином. 1. Об'єкт-мікрометр та гістологічні препарати фотографують за умов однакового збільшення мікроскопу та роздільної здатності кінцевого цифрового зображення, отримані зображення зберігають в електронному вигляді на цифрових носіях. 2. В програмному забезпеченні, призначеному для роботи з графічними даними (наприклад, графічному редакторі Adobe Photoshop), встановлюють відображення розмірів в одиницях «пікселі» та відкривають отримані зображення (Фіг.1). 3. На зображенні мірила об'єкта-мікрометра визначають співвідношення «мікрометр : піксель» (Фіг.2). В нашому прикладі - 100 мікрометрів на зображенні дорівнює 810 пікселям, тобто 1мкм = 8,1 піксель, 1:8,1. 4. На зображенні об'єкта-мікрометра дізнаються значення параметрів «висота» та «ширина» всього цифрового зображення в пікселях (Фіг.3). Отримані значення кожного з параметрів множать на співвідношення «мікрометр : піксель». В нашому прикладі - ширина 3264 1/8,1 403. 5. На зображеннях мікроскопічних структур, що досліджуються, змінюють значення «висота» та «ширина» на ті значення, які отримані попередньо (Фіг.4, Фіг.5). В нашому прикладі - ширину зображення 3264 слід встановити 403 (3264 8,1 403), при цьому висота зображення має дорівнювати 302. 6. Проводять вимірювання необхідних лінійних параметрів в пікселях зображення (Фіг.6). Отримані значення відповідають мікрометрам. В нашому прикладі -розмір мікроскопічної структури дорівнює 153мкм. По виконанню цих пунктів для кожного збільшення мікроскопа записують відповідні значення висоти та ширини, що вирахувані в п. 3, та застосовують їх для кожного наступного досліджуваного зображення (сучасне програмне забезпечення дозволяє автоматизувати цей процес). При необхідності алгоритм повторюють для зображень, отриманих за умов іншого збільшення та роздільної здатності мікроскопа (або фотокамери). Використання способу обчислення лінійних параметрів гістологічних структур за цією схемою дозволило у 100% випадків отримати точні розрахунки та заощадити час, необхідний для дослідження. Крім того, можливе додавання мірила на зображення мікроскопічних структур (по типу міри 51942 4 ла географічних карт) для подальшого використання його в публікаціях з метою позначення кінцевого збільшення. Запропонована корисна модель може бути багаторазово відтворена і використана для морфометрії в ембріології, гістології, анатомії, патологічній анатомії. Перелік фіг. креслення Додаток Фіг.1. Об'єкт-мікрометр, зображення мірила. Фіг.2. Об'єкт-мікрометр, визначення співвідношення «мікрометр : пік-сель». 100 мікрометрів дорівнює 810 пікселям зображення. Фіг.3. Об'єкт-мікрометр, визначення розмірів цифрового зображення -3264 2448 пікселів. Фіг.4. Зображення мікроскопічної структури, що досліджується. Розміри зображення, збільшення та роздільна здатність дорівнюють показникам зображення об'єкт-мікрометра на Фіг.1-3. Фіг.5. Встановлення ширини та, відповідно, висоти зображення мікроскопічної структури, згідно співвідношенню «мікрометр : піксель». Фіг.6. Вимірювання мікроскопічної структури, що досліджується. Висота структури дорівнює 153 мікрометрам (1 піксель = 1 мікрометр). Джерела інформації 1. Окулярный винтовой микрометр МОВ-1-15х, описание и паспорт изделия [Електронний ресурс] http://www.Iaboratorium.dp.ua/item/3. 2. Автандилов Г.Г. Введение в количественную патологическую морфологию.- М: Медицина, 1980.- 216 с. 3. Пат. 19596 Российская Федерация, МПК G02B25/02. Окулярная насадка микроскопа / Рагузин P.M., Фролов Д.П., Негода Т.В., Табачков А.Г.; Открытое акционерное общество "ЛОМО". №2001104006/20; заявл. 09.02.2001, опубл. 10.09.2001. 4. Объект-микрометр, описание и паспорт изделия [Електронний ресурс] http://www.laboratorium.dp.ua/item/2. 5. Пат. 7527 Российская Федерация, МПК G06K9/00. Комплекс для цитологических исследований «Диаморф» / Жукоцкий А.В., Копылов В.Ф., Коган Э.М.; Закрытое акционерное общество "ДиаМорф". - №97117701/20; заявл. 29.10.1997, опубл. 16.08.1998. 6. Юдин Е.О. ScreenMeter - программное обеспечение для морфометрических исследований |Електронний ресурс] hup://screenmeter.narod.ru/. 7. MetaMorph - image acquisition and analysis software from Molecular Devices. [Електронний ресурсі http://www.moleculardevices.com/pages/sоftware/metamorph.html. 8. Пат. 27034 Україна, МПК GO IN 1/00. Спосіб вимірювання мікроскопічних структур ділянки хребетного стовпа в пренатальному періоді онтогенезу людини / Кривенький В.В., Кривецька I.I.; Буковинський державний медичний університет МОЗ України. - №и2()07()6866; заявл. 18.06.2007, опубл. 10.10.2007. 5 Комп’ютерна верстка А. Крижанівський 51942 6 Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601