Установка для термоциклічних досліджень зразків матеріалів “лускунчик”
Номер патенту: 25999
Опубліковано: 27.08.2007
Автори: Долгов Микола Анатолійович, Кржешовський Олександр Станіславович, Ляшенко Борис Артемович, Солових Євген Констянтинович, Мірненко Володимир Іванович, Капішон Лариса Стефанівна
Формула / Реферат
Установка для термоциклічних досліджень зразків матеріалів, що містить основу із розташованими на ній двома однаковими камерами, кожна з яких виконана у вигляді еліптичного циліндричного концентратора, один з фокусів обох еліптичних циліндричних концентраторів є загальним для обох камер, установка забезпечена парою утримувачів для досліджуваного зразка матеріалу, нагрівачем і охолоджувачем, а також рухомою перемичкою між камерами, встановленою з можливістю зміни режиму дослідження зразка з нагрівання на охолодження і навпаки, яка відрізняється тим, що установка доповнена другою парою утримувачів, призначеною для встановлення в ній другого досліджуваного зразка матеріалу, при цьому, у фокусі, який є загальним для обох камер, встановлено нагрівач, у другому фокусі кожної камери встановлено пару утримувачів для досліджуваного зразка матеріалу, а опукла поверхня рухомої перемички виконана шорсткою й зачорненою і є охолоджувачем.
Текст
Установка для термоциклічних досліджень зразків матеріалів, що містить основу із розташованими на ній двома однаковими камерами, кожна з яких виконана у вигляді еліптичного циліндричного концентратора, один з фокусів обох еліптич 3 25999 дження і навпаки, а, відповідно до пропозиції, установка доповнена другою парою утримувачів, призначеною для встановлення в ній другого досліджуваного зразка матеріалу, при цьому, у фокусі, який є загальним для обох камер, встановлено нагрівач, у др угому фокусі кожної камери встановлено пару утримувачів для досліджуваного зразка матеріалу, а опукла поверхня рухомої перемички виконана шорсткою й зачорненою і є охолоджувачем. Суть пропонованої корисної моделі пояснюється схематичним кресленням (Фіг.). Установка для термоциклічних досліджень зразків матеріалів складається з основи (не показана), на якій встановлені дві однакові симетричні камери 1 і 2. Кожна камера 1 і 2 виконана у вигляді еліптичного циліндра. Камери 1 і 2 мають одну спільну фокальну вісь. Внутрішня поверхня камер 1 і 2 виконана дзеркальною. Повна оптична замкненість забезпечена двома торцевими кришками (нижня кришка - 3, верхня - умовно не показана). Функцію охолоджувача виконує зовнішня опукла поверхня поворотної перемички 4. Для високої поглинальної здатності променевої енергії зразка, що охолоджується, ця поверхня має високу шорсткість та високий ступінь чорноти. У спільній фокальній вісі камер 1 і 2 розташовано нагрівач 5, підключений до блоку живлення 6 (БЖ). У ділянках други х фокальних осей камер 1 і 2 в утримувачах встановлені досліджувані зразки 7 та 8. Установка забезпечена блоком керування - обчислюючим пристроєм, датчиками температури та Комп’ютерна в ерстка C.Литв иненко 4 деформації зразка, вторинними реєструючими приладами, з'єднаними з датчиками (не показано), а також засобами для механічного навантаження зразків 7 і 8 (не показано). Пропонована установка працює так. Зразки досліджуваного матеріалу 7 та 8 встановлюють у відповідних утримувача х для дослідження повзучості при розтягу силами Р1 та Р2 відповідно (на схемі не показана звичайна система розтягу). Нагрівач 5 доводять до заданої температури. При розташуванні перемички 4 у правій камері 1 відбувається нагрівання зразка 7 шляхом фокусування еліптичним циліндричним концентратором променевої енергії нагрівача 5 на другому фокусі еліптичного циліндричного концентратора - на поверхні зразка 7. При повороті перемички 4 на 180° відбувається замкнення лівої камери 2 та, відповідно, нагрівання зразка 8 фокусуванням променевої енергії нагрівача 5. Одночасно відбувається охолодження зразка 7 фокусуванням його власного випромінювання на зачорненій опуклій поверхні перемички 4. Під час дослідження зразки 7 і 8 піддають і механічному навантажуванню. Таким чином здійснюють одночасне термоциклічне дослідження двох зразків матеріалів. У процесі дослідження реєструють поточні значення температури і деформації зразків 7 і 8. Пропонована установка дозволяє випробувати одночасно два зразки 7 і 8 при сталій потужності блока живлення 6, що подвоює продуктивність досліджень та зменшує питому енергоємність (на один зразок). Підписне Тираж 26 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюDevice for cyclic temperature tests of materials
Автори англійськоюSolovykh Yevhen Konstiantynovych, Liashenko Borys Artemovych, Dolhov Mykola Anatoliovych, Kapishon Larysa Stefanivna
Назва патенту російськоюУстройство для циклических температурных испытаний материалов
Автори російськоюСоловых Евгений Константинович, Ляшенко Борис Артемович, Долгов Николай Анатолиевич, Капишон Лариса Стефановна
МПК / Мітки
МПК: G01N 3/60
Мітки: досліджень, лускунчик, матеріалів, установка, зразків, термоциклічних
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-25999-ustanovka-dlya-termociklichnikh-doslidzhen-zrazkiv-materialiv-luskunchik.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Установка для термоциклічних досліджень зразків матеріалів “лускунчик”</a>
Попередній патент: Ваговий дозатор сипучих матеріалів
Наступний патент: Пристосування для установки коркових пробок в пляшки
Випадковий патент: Робоче обладнання екскаватора