Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

(57) Установка для атомно-эмиссионных спектральных исследований материалов в контролируемой атмосфере, включающая камеру с электрододержателями для подвода высоковольтного напряжения, иллюминатор, штуцеры для подвода и отвода газа из камеры, отличающаяся тем, что камера содержит два дополнительных иллюминатора, узел для перемещения исследуемого образца осветительное консольное устройство, а также вводы для термопары.

Текст

Установка для атомно-эмиссионных спектральных исследований материалов в контролируемой атмосфере, включающая камеру с электрододержателями для подвода высоковольтного напряжения, иллюминатор, штуцеры для подвода и отвода газа из камеры, о т л и ч а ю щ а я с я тем, что камера содержит два дополнительных иллюминатора, узел для перемещения исследуемого образца осветительное консольное устройство, а также вводы для термопары. 3. Обыскривание (обжиг) производится в камерах. Наиболее близкой к предлагаемой установке является камера, выполненная в виде полого цилиндра, а в торцевых частях которого размещены электрододержатели, в нижнем из них устанавливается цилиндрический анализируемый образец, а в верхнем - подставной электрод. После установки межэлектродного промежутка по шаблону и включения разряда свет от излучаемого облака через иллюминатор направляется по оптической оси в щель спектрального аппарата. Существенными недостатками этой установки являются: 1. Наличие только одного иллюминатора позволяет получать информацию, характеризующую либо изменение интенсивности спектра, либо вариации общего неразложенного излучения; о ел О 9957 2. Отсутствует возможность визуального наблюдения, а также проведения временных процессов, протекающих в зоне воздействия источника возбуждения на поверхность исследуемого материала; 3. Установка межэлектродного промежутка по шаблону не может быть достаточно воспроизводимой, что снижает точность измерений; 4. Фиксированное положение образца заставляет для получения следующей спектрограммы производить разгерметизацию установки, заново устанавливать пробу, производить последующую промывку камеры и т.д., что приводит к существенным потерям рабочего времени и газа; 5. Возможность анализа только цилиндрических образцов определенных размеров, ограничивает ее использование для анализа образцов произвольной формы, например, прямоугольной и др. В основу изобретения поставлена задача усовершенствования установки для атомно-эмиссионных спектральных исследований материалов в контролируемой атмосфере. Поставленная задача решается тем, что в установке, включающей камеру с электрододержатеяями для подвода высоковольтного напряжения, иллюминатор, штуцеры для подвода и отвода газа из камеры, согласно изобретению, камера содержит два дополнительных иллюминатора, узел для перемещения исследуемого образца, осветительное консольное устройство, а также вводы дг* термопары. С помощью двух дополнительных иллюминаторсп, узла для перемещения исследуемого образца, осветительного консольного устройства и вводов для термопары обеспечивается расширение круга исследуемых процессов в разных атмосферах, получение комплексной информации в реальном масштабе времени, повышение удобства устан о в к и межзлектродного промежутка, расширение диапазона форм исследуемых образцов. С помощью двух дополнительных иллюминаторов обеспечивается получение комплексной информации за счет возможности использовать фото- и кинокамеры. С помощью узла для перемещения исследуемого образца достигается расширение Форм исследуемых образцов, т.к. появляется возможность перемещения узла с образцом под потоком энергии. С помощью осветительного консольного устройства повышается удобство в установке межэлектродного промежутка, т.к. появляется возможность использовать для этого теневой метод. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 С помощью вводов для термопар расширяется круг исследуемых процессов при разных температурах мишени. Сущность изобретения поясняется чертежом. Основную часть установки представляет стальная цилиндрическая камера 1, имеющая два иллюминатора 2 и 3, один из которых может иметь киарцопую пластину (для случая работы о ультрафиолетовой области спектра). В центральной части камеры размещаются злектредодержатель 4, исследуемый образец, устройство для его установки 5, к которому через окно с изолятором мз фторпласта 6 подводится высокое напряжение от источника возбуждения (до 12 кВ). Точное межэлектродное расстояние устанавливается с помощью консольного осветителя 7 методом теневой проекции на револьверную диафрагму, находящуюся на оптической скамье спектрографа с противоположной стороны. Поело этого осоетитель отводится вверх вокруг консоли, освобождается путь световому потоку через левый иллюминатор. Таким образом, создается возможность одновременной регистрации разложенного в спектр с помощью спектрографа и неразложемного света, характеризующего его временные изменения в процессе обыскривания (обжига) с помощью фотоумножителя или фотоэлемента. Регулировка расположеі ия иллюминаторов на оптической оси производится с помощью трех стоек 8, двух текстолитовых дисков 9 и план-шайбы 10, жестко закрепленных на рейтере 11, который может перемещаться по рельсу спектрографа 12. Визуальное наблюдение, например, с помощью стереомикроскопа МВС-9 воздействия на поверхность образца искровых или дуговых разрядов оо времени, а также фотои киносъемка производятся через иллюминатор 13, расположенный о крышке установки 14 из плексиглаза (на фиг.1 он повернут на 90° относительно рабочего положения). С помощью прижимного кольца 15, зажимаемого уплотнительными барашками 16, и резиновой уплотнительной прокладки, создается герметичность внутреннего объема камеры. Существенную часть камеры составляет узел 17, предназначенный для перемещения образца 18 в трех направлениях для точной установки межэлектродного промежутка и перемещения пятна обыскривания (обжига) с целью получения на новом место следующей спектрограммы, что производится с помощью рукояток 19, 20 и 21. Основание держателя образца 22 вместе со фторпластовым плато 23, на котором распо 9957 ложепа стойка электрододержателя 24, обеспечиоает необходимую изоляцию корпуса установки от высокого напряжения. В корпусе установки имекпся вводы для термопары 25, а также штуцера 26, 27 для под- 5 вода и отвода рабочего газа. Пример работы установки. Исследуемый образец цилиндрической формы различного диаметра или прямоугольного сечения соответствующих габа- 10 ритов помещается в нижний держатель, с помощью осветителя методом теневой проекции на револьверную диафрагму устанавливается необходимое межэлектродное расстояние. Затем камера закрывается 15 крышкой, затягивается барашками для обеспечения герметичности и в течение трех минут промывается рабочим газом. После этого осветитель отводится в верхнее положение с целью освобождения прохож- 20 дения излучения на фотоэлемент, включается источник возбуждения. Излучение регистрируется с помощью спектрографа, одновременно производится непрерывная записьнеразложенного излучения с исполь- 25 зованием фотоэлемента и самописца. Верхний иллюминатор позволяет производить визуальное наблюдение за процессом обыскривания (обжига) или регистрировать его с помощью фото- или киноаппарата. 30 Объектом исследования служили образцы сталей и сложнолегированных сплавов. Источник возбуждения - генератор ИГ-5 (Сложная схема): U - 12 кВ, С - 0,01 мкФ, L.e 0,01 мГн; подставной электрод - графитовый стержень 0 5 мм, заточенный на полусферу, межэлектродный промежуток-2,5 мм. Применялись газы; аргон, азот, водород и их смеси. Таким образом, указанные изменения в конструкции камеры позволяют обеспечить комплексность и синхронность получаемой информации о процессах, характеризующих обыскривание (обжиг) при атомноэмиссионном спектральном анализе материалов в контролируемой атмосфере при одновременном повышении точности установки межэлектродного промежутка, сокращении рабочего времени и расхода газа на получение одной спектрограммы. Применение предлагаемой установки может быть значительно расширено за счет ее использования при лазерном спектральном анализе, а также при исследованиях в контролируемой атмосфере процессов, протекающих при электроискровой обработке различных материалов и воздействии на них других концентрированных потоков энергии. Фиг і Фиг. 2 Техред М.Моргентал Упорядник Замовлення 4560 Коректор Л.Філь Тираж ' Підписне Державне патентне відомство України, 254655, ГСП, КиТв-53, Львівська пл., 8 Відкрите акціонерне товариство "Патент", м. Ужгород, вул.Гагаріна, 101

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Installation for atomic-emission spectral studies of materials in controlled atmosphere

Автори англійською

Buravliov Yurii Matviiovych, Ivanitsyn Mykola Petrovych, Myloslavskyi Oleksandr Hryhorovych, Horbatenko Henrikh Valentynovych, Tkachenko Mykhailo Stepanovych

Назва патенту російською

Установка для атомно-эмиссионных спектральных исследований материалов в контролируемой атмосфере

Автори російською

Буравлев Юрий Матвеевич, Иваницын Николай Петрович, Милославский Александр Григорьевич, Горбатенко Генрих Валентинович, Ткаченко Михаил Степанович

МПК / Мітки

МПК: G01J 3/443

Мітки: спектральних, досліджень, установка, атмосфери, контролюється, матеріалів, атомно-емісійних

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/4-9957-ustanovka-dlya-atomno-emisijjnikh-spektralnikh-doslidzhen-materialiv-v-atmosferi-shho-kontrolyuehtsya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Установка для атомно-емісійних спектральних досліджень матеріалів в атмосфері, що контролюється</a>

Подібні патенти