Спосіб визначення однакового рівня концентрації аероіонів від джерел направленого випромінювання

Спосіб визначення однакового рівня концентрації аероіонів від джерел направленого випромінювання, що полягає у визначенні відстаней від джерел направленого аероіонного випромінювання, який відрізняється тим, що визначення відстаней від двох джерел направленого аероіонного випромінювання відбувається одночасно з урахуванням висоти підвісу джерел. (19) (21) u201005440 (22) 05.05.2010 (24) 10.11.2010 (46) 10.11.2010, Бюл.№ 21, 2010 р. (72) СТРОКАНЬ ОКСАНА ВІКТОРІВНА, ЧУРАКОВ АНАТОЛІЙ ЯКОВИЧ, ІВЖЕНКО ОЛЕКСАНДР ВАСИЛЬОВИЧ (73) ТАВРІЙСЬКИЙ ДЕРЖАВНИЙ АГРОТЕХНОЛОГІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ 3 54458 Сутність способу, що пропонується, пояснюється графічним матеріалом, на якому: на Фіг.1 зображено принцип побудови ізоліній однакового рівня концентрації аероіонів від двох джерел направленого аероіонного випромінювання; на Фіг.2 - побудова ізолінії заданого рівня концентрації аероіонів. Спосіб визначення однакового рівня концентрації, що пропонується, заключається у наступному: графік розподілу концентрації аерофонів n1=f(h) для першого джерела направленого аероіонного випромінювання (Фіг.1) доповнюється графіком розподілу концентрації аероіонів n2=f(h) від другого розсіювального джерела аероіонного випромінювання, дзеркально відображеним відносно осі r і зміщеним по осі n на величину заданого рівня концентрації аероіонів nзад. У другому квадранті II проводиться з початку координат 0 дуга радіусом, що дорівнює відстані Н від джерела напарвленого аероіонного випромінювання до розрахун Комп’ютерна верстка А. Крижанівський 4 кового рівня. Проводяться дотичні до дуги. Точки, в яких дотичні перетинають вісь h відмічаються точками 1ji. Відстань від точки дотику дотичної до точки 1ji являється радіусом r1i, при якому перше джерело направленого аероіонного випромінювання забезпечує у розрахунковій точці рівень концентрації аероіонів n1i. Для визначення рівня концентрації аероіонів в розрахунковій точці від другого джерела направленого аероіонного випромінювання з точки 21i проводиться паралельно осі h пряма до перетину з графіком n2=(h). Отримується точка 22i проекція якої на віcь h дає точку 12i, з якої проводиться дотична до дуги. Відстань від точки 12i до точки дотику 31i являється радіусом r2i, при якому друге джерело направленого аеропонного випромінювання забезпечує у розрахунковій точці рівень концентрації аероіонів n2i. З точок N1 і N2 (Фіг.2) проводяться дуги радіусами r1i і r2i, відповідно, перетин яких дає точку, інцидентну заданій кривій Аi. Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601