Пристрій для визначення параметрів електромагнітної емісії матеріалів
Номер патенту: 59220
Опубліковано: 10.05.2011
Автори: Щегель Ганна Олексіївна, Астанін В'ячеслав Валентинович
Формула / Реферат
Пристрій для визначення параметрів електромагнітної емісії матеріалів, що містить блок реєстрації зміни параметрів електромагнітного поля, блок підсилення зареєстрованого сигналу, який відрізняється тим, що пристрій виконаний із блоком обробки і збереження отриманих даних, блоком управління пристроєм, блоком живлення, а блок реєстрації зміни параметрів електромагнітного поля виконаний доповненим блоком задання початкового магнітного поля, створюваного джерелом постійного магнітного поля з метою забезпечення переважної орієнтації електромагнітного випромінювання матеріалу.
Текст
Пристрій для визначення параметрів електромагнітної емісії матеріалів, що містить блок реєстрації зміни параметрів електромагнітного поля, 3 59220 поля, що містить джерело 4 постійного магнітного поля 5 і розташований у безпосередній близькості до блоку 1, наприклад, зі зворотної сторони досліджуваного матеріалу у випадку дослідження листових чи оболонкових елементів чи поряд із блоком 1 у випадку дослідження деталей значної товщини, блок 6 підсилення зареєстрованого блоком 1 сигналу, блок 7 обробки і збереження отриманих даних, блок 8 управління пристроєм, блок живлення 9. Пристрій для визначення параметрів електромагнітної емісії матеріалів працює наступним чином (фіг.). Під керівництвом блоку 8 управління пристроєм до блоку 6 підсилення зареєстрованого сигналу, блоку 7 обробки і збереження отриманих даних і безпосередньо до блоку 8 управління пристроєм, подається живлення від блоку 9. Внаслідок наявності у складі блоку 3 задання початкового магнітного поля джерела 4 постійного магнітного поля 5 і внаслідок розташування блоку 3 у безпосередній близькості до блоку 1 реєстрації зміни параметрів електромагнітного поля, відбувається забезпечення переважної орієнтації електромагнітного випромінювання матеріалу у прилеглій області матеріалу у зв'язку із наявністю силових ліній магнітного поля 5, що призводить до можливості реєстрації блоком 1 сигналу електромагнітної емісії у випадку появи вказаного електромагнітного випромінювання при перетіканні певних процесів у досліджуваному матеріалі 2, зокрема, при дії на нього статичних чи динамічних навантажень, що супроводжуються виникненням у даному матеріалі електромагнітної емісії, наприклад, внаслідок утворення тріщин, розведення обкладок подвійних електричних шарів чи розриву Комп’ютерна верстка Мацело М. 4 хімічних зв'язків у матеріалі. У випадку, якщо дія блоку 1 реєстрації зміни параметрів електромагнітного поля базується на принципі виникнення електрорушійної сили у котушці із феромагнітного матеріалу, відповідно до закону електромагнітної індукції Фарадея, величина індукованої електрорушійної сили рівна dФ B , N dt де L - індуктивність котушки, Ф В BdS - магнітний потік через поверхню конS тура котушки, N - кількість витків. Зареєстрований блоком 1 сигнал передається на блок 6 підсилення зареєстрованого сигналу і далі до блоку 7 обробки і збереження отриманих даних під управлінням блоку 8 управління пристроєм. Джерела інформації: 1. Патент RU 2225308. Дефектоскопная тележка для совмещенного магнитного и ультразвукового контроля рельсового пути. Горделий В.И., Добагов Л.Б., Гусев В.В., Зеленин Н.Ф., Матанис В.И., Ситдиков P.M., Смирнов В.Д. - Опубл. 10.03.2004.- аналог 2. Патент RU 2176317. Способ электромагнитной дефектоскопии стальных труб в скважинах. Миллер А.А. - Опубл. 27.11.2001.- аналог 3. Патент RU 2137920. Способ прогноза разрушения горных пород и устройство для его осуществления. Курленя М.В., Кулаков Г.И., Вострецов А.Г., Кушнир В.И., Яковицкая Т.Е. - Опубл. в 20.09.1999.-прототип. Підписне Тираж 24 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюDevice for determination of parameters of electromagnetic emission of materials
Автори англійськоюAstanin Viacheslav Valentynovych, Schehel Hanna Oleksiivna
Назва патенту російськоюУстройство для определения параметров электромагнитной эмиссии материалов
Автори російськоюАстанин Вячеслав Валентинович, Щегель Анна Алексеевна
МПК / Мітки
МПК: G01N 27/72, G01N 3/30
Мітки: визначення, пристрій, емісії, параметрів, матеріалів, електромагнітної
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-59220-pristrijj-dlya-viznachennya-parametriv-elektromagnitno-emisi-materialiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для визначення параметрів електромагнітної емісії матеріалів</a>
Попередній патент: Спосіб неруйнівного контролю міцності матеріалу
Наступний патент: Пересувний пристрій для розгону ударника із контролем швидкості
Випадковий патент: Детонуючий хвилевід