Спосіб визначення параметрів рідких і сипких середовищ
Номер патенту: 20804
Опубліковано: 15.02.2007
Автори: Жуков Юрій Даниїлович, Гордєєв Борис Миколайович, Чегринець Вячеслав Миколайович
Формула / Реферат
Спосіб визначення параметрів рідких і сипких середовищ за затримкою сигналу, відбитого від неоднорідності хвилевого опору, відносно зондувального імпульсного електромагнітного сигналу, посланого за допомогою хвилеводу у контрольоване середовище, що включає перед посиланням вимірювального зондувального імпульсного електромагнітного сигналу посилання тестового зондувального імпульсного електромагнітного сигналу і визначення характеристики перетворення за затримкою сигналу, відбитого від неоднорідності хвилевого опору, віддаленої на наперед відому відстань, відносно тестового зондувального імпульсного електромагнітного сигналу, який відрізняється тим, що тривалість тестового зондувального імпульсного електромагнітного сигналу, менша за тривалість вимірювального зондувального імпульсного електромагнітного сигналу.
Текст
Спосіб визначення параметрів рідких і сипких середовищ за затримкою сигналу, відбитого від неоднорідності хвилевого опору, відносно зондувального імпульсного електромагнітного сигналу, посланого за допомогою хвилеводу у контрольо 3 20804 4 Спосіб визначення параметрів рідких і сипких рідини 3 і 4, за допомогою принаймні частково середовищ за затримкою сигналу, відбитого від зануреного в нього хвилеводу (чутливого елеменнеоднорідності хвилевого опору, відносно зондута) 2 посилають тестовий зондувальний імпульсвального імпульсного електромагнітного сигналу, ний електромагнітний сигнал At. Довжина хвилі посланого за допомогою хвилеводу у контрольо(тривалість) тестового зондувального імпульсу ване середовище, передбачає перед посиланням сумірна розмірам кріплення в конструкції хвилевовимірювального зондувального імпульсного елекду, тому під час тестового такту вимірювань на тромагнітного сигналу посилання тестового зондурефлектограмі будуть виділені відповідні цим вального імпульсного електромагнітного сигналу і елементам забезпечення жорсткості конструкції визначення характеристики перетворення за завідбиті сигнали А1і, тобто си гнали, відбиті від нетримкою сигналу, відбитого від неоднорідності однорідностей хвилевого опору вздовж хвилеводу хвилевого опору, віддаленої на наперед відому 2, віддалених на наперед відому відстань; за завідстань, відносно тестового зондувального імпутримками цих сигналів відносно тестового зондульсного електромагнітного сигналу, і характеризувального імпульсного сигналу At (зокрема, відбитоється тим, що тривалість тестового зондувального го сигналу А1і, відповідного найближчому до межі імпульсного електромагнітного сигналу менша за поділу середовищ елементу забезпечення жорсттривалість вимірювального зондувального імпулькості) визначають характеристику перетворення сного електромагнітного сигналу. пристрою для визначення параметрів рідких і сипНа фіг.1 показано блок-схему пристрою для ких середовищ. Під час такту вимірювання у контвизначення параметрів (рівнів і меж поділу) рідких рольоване середовище за допомогою принаймні або сипких середовищ за затримкою відбитого частково зануреного в нього хвилеводу (чутливого сигналу відносно посланого у контрольоване сеелемента) 2 посилають вимірювальний зондуваредовище зондувального імпульсного сигналу. На льний імпульсний електромагнітний сигнал Аm і фіг.2 і фіг.3 показані отримані на рефлектограмі визначають затримку сигналу А2, відбитого від відображеннями відповідного тестового і вимірюнеоднорідності хвилевого опору, якою є межа повального зондувальних імпульсних електромагнітділу середовищ - незмішуваних рідин 4 і 5. Виміних сигналів і відбитих сигналів. рювальний зондувальний імпульсний електромагПристрій для визначення рівнів і меж поділу нітний сигнал триваліший за тестовий рідких і сипких середовищ містить блок 1 генерузондувальний імпульсний електромагнітний сигнал вання, приймання та обробки зондувального елекАt , (τt
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for determining properties of liquid or free-flowing material
Автори англійськоюHordeiev Borys Mykolaiovych, Zhukov Yurii Danylovych, Chehrynets Viacheslav Mykolaiovych
Назва патенту російськоюСпособ определения свойств жидкости или сыпучего материала
Автори російськоюГордеев Борис Николаевич, Жуков Юрий Данилович, Чегринец Вячеслав Николаевич
МПК / Мітки
МПК: G01F 23/284, G01F 23/28
Мітки: визначення, параметрів, сипких, спосіб, рідких, середовищ
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-20804-sposib-viznachennya-parametriv-ridkikh-i-sipkikh-seredovishh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення параметрів рідких і сипких середовищ</a>
Попередній патент: Брикетований флюс для виробництва сталі
Наступний патент: Пристрій для визначення густини ковбасних виробів
Випадковий патент: Спосіб профілактики атрофії коміркових відростків щелеп після видалення зубів у хворих на генералізований пародонтит