Спосіб емісійного спектрального аналізу та пристрій для його здійснення
Номер патенту: 17627
Опубліковано: 06.05.1997
Автори: Саприкін Юрій Олександрович, Попов Вадим Олексійович, Паздерський Юрій Антонович, Брюханов Анатолій Сергійович, Лялько Іван Семенович
Формула / Реферат
1. Способ эмиссионного спектрального анализа, включающий термическую атомизацию пробы, возбуждение атомов электронным потоком при ускоряющем напряжении ниже порога зажигания самостоятельного разряда и фотоэлектрическую регистрацию аналитического сигнала, отличающийся тем, что возбуждение атомов производят переменным или пульсирующим электронным потоком, а регистрацию аналитического сигнала проводят путем выделения и измерения переменной составляющей фототока на частоте электронного потока.
2. Устройство для эмиссионного спектрального анализа, содержащее камеру с электродами, из которых, по крайней мере, один выполнен с возможностью нагрева, а зазор между электродами выбран из условия протекания между ними электронного потока, источник ускоряющего напряжения и систему регистрации аналитического сигнала, отличающееся тем, что в качестве источника ускоряющего напряжения используют генератор переменного или пульсирующего напряжения, а система регистрации аналитического сигнала выполнена с возможностью выделения и измерения переменной составляющей фототока на частоте ускоряющего напряжения.
3. Устройство по п. 2, оτличающееся тем, что система регистрации содержит синхронный детектор, в котором используют в качестве генератора опорного напряжения источник ускоряющего напряжения.
Текст
Изобретение относится к спектральному анализу и может быть использовано в различных отраслях народного хозяйства при анализе веществ на содержание микропримесей. Известны способ и устройство для эмиссионного спектрального анализа (патент ГДР № 143178,1980). Способ включает термическую атомизацию пробы, возбуждение атомов электрическим разрядом в полом катоде и регистрацию аналитического сигнала. Устройство для его осуществления содержит камеру с электродами, из которых один выполнен с возможностью нагрева, источник питания электрического разряда и систему регистрации аналитического сигнала. Однако известные способ и устройство имеют недостаточно низкий предел обнаружения анализируемых элементов главным образом из-за высокой интенсивности сплошного фона, излучаемого электрическим разрядом. Наиболее близким к заявляемому является способ эмиссионного спектрального анализа (патент Украины № 2919, 1994), включающий термическую атомизацию пробы, возбуждение атомов электронным потоком при ускоряющем напряжении ниже порога зажигания самостоятельного разряда и фотоэлектрическую регистрацию аналитического сигнала. Наиболее близким техническим решением к заявляемому устройству является устройство для эмиссионного спектрального анализа (патент Украины № 93005989, 13.12.93, и содержащее камеру с электродами, из которых, по крайней мере, один выполнен с возможностью нагрева, а зазор между электродами выбран из условия протекания между ними электронного потока, источник ускоряющего напряжения и систему регистрации аналитического сигнала. Известные способ и устройство для эмиссионного спектрального анализа дают возможность уменьшить интенсивность сплошного фона, вызванного взаимодействием электронов с положительными ионами, и за счет этого снизить предел обнаружения анализируемых элементов. Однако дальнейшее снижение предела обнаружения ряда элементов при помощи известного способа и устройства ограничено излучением света самим атомизатором. Температура атомизатора в процессе атомизации и возбуждения достигает 3000°С. При такой температуре сам атомизатор является источником света, имеющего сплошной спектр. Интенсивность этого излучения достаточно велика, особенно в видимой и ближней ультрафиолетовой частях спектра, где расположены наиболее чувствительные линии .ряда элементов. Часть рассеянного излучения атомизатора на длине волны аналитической линии выделяется спектральным прибором и регистрируется фотоэлектрической системой регистрации вместе с излучением аналитической линии. Флуктуации сигнала рассеянного излучения атомизатора ограничивают величину регистрируемого сигнала аналитической линии, тем самым ограничивая предел обнаружения анализируемых элементов. В основу, изобретения поставлена задача создать такой способ эмиссионного спектрального анализа, в котором новое выполнение процессов возбуждения и регистрации аналитического сигнала позволяли бы не допустить регистрацию рассеянного света атомизатора при сохранении эффективности регистрации аналитической линии и за счет этого снизить предел обнаружения анализируемых элементов. Поставленная задача решается тем, что в способе эмиссионного спектрального анализа, включающем термическую атомизацию пробы, возбуждение атомов электронным потоком при ускоряющем напряжении ниже порога зажигания самостоятельного разряда и фотоэлектрическую регистрацию аналитического сигнала, согласно изобретению возбуждение атомов производят переменным или пульсирующим электронным потоком, а регистрацию аналитического сигнала проводят путем выделения и измерения переменной составляющей фототока на частоте электронного потока. Благодаря возбуждению атомов переменным или пульсирующим электронным потоком обеспечивается модуляция излучения анализируемых атомов с частотой электронного потока. Модуляция излучения атомизатора при этом не происходит. На фотоприемник, после спектрального прибора, поступает модулированное излучение анализируемых атомов и немодулированное рассеянное излучение атомизатора. Так как регистрацию аналитического сигнала проводят путем выделения и измерения переменной составляющей фототока на частоте электронного потока, то этим обеспечивается регистрация только модулированного сигнала, т.е. излучения анализируемых атомов. Отсутствие сигнала рассеянного излучения атомизатора, а, следовательно, и флуктуации этого си гнала позволяет регистрировать аналитические сигналы значительно меньшей интенсивности по сравнению с известным способом, что обеспечивает снижение предела обнаружения анализируемых элементов. Кроме того, за счет сужения полосы пропускания, осуществляемой при выделении и измерении переменной составляющей фототока на частоте электронного потока, увеличивается отношение аналитического сигнала к шумам фотоприемника, что дополнительно снижает предел обнаружения анализируемых элементов. В основу изобретения поставлена задача создать такое устройство для эмиссионного спектрального анализа, в котором новое выполнение источника ускоряющего напряжения и системы регистрации позволило бы подавить регистрацию рассеянного света атомизатора при сохранении эффективности регистрации аналитической линии и за счет этого снизить предел обнаружения анализируемых элементов. Поставленная задача решается тем, что в устройстве для эмиссионного спектрального анализа, содержащем камеру с электродами, из которых по крайней мере один выполнен с возможностью нагрева, а зазор между электродами выбран из условия протекания между ними электронного потока, источник ускоряющего напряжения и систему регистрации аналитического сигнала, согласно изобретению в качестве источника ускоряющего напряжения используют генератор переменного или пульсирующего напряжения, а система регистрации выполнена с возможностью выделения и измерения переменной составляющей фототока на частоте ускоряющего напряжения. Лучшие результаты могут быть получены с системой регистрации, содержащей синхронный детектор, в котором в качестве генератора опорного напряжения используют источник ускоряющего напряжения. Благодаря модуляции излучения атомов анализируемых элементов, выделению и измерению переменной составляющей фототока системой регистрации осуществляется подавление при регистрации постоянной составляющей фототока, обусловленной рассеянным излучением атомизатора, и за счет этого снижение предела обнаружения анализируемых элементов. Дополнительное снижение предела обнаружения элементов достигается за счет увеличения отношения аналитического сигнала к шумам фотоприемника, вызванного уменьшением полосы пропускания системы регистрации при выделении переменной составляющей фото тока на частоте ускоряющего напряжения. На чертеже представлена блок-схема устройства для эмиссионного спектрального анализа. Устройство содержит камеру 1 с окном для вывода излучения на спектральный прибор 2. Внутри камеры расположены катод-атомизатор 3 и анод 4. Камера выполнена с возможностью продувки ее гелием при задаваемом давлении и, кроме того, имеет люк для подачи анализируемой пробы на катод-атомизатор. Нагрев катода-атомизатора производится от источника нагрева 5. Ускоряющее напряжение между катодоматомизатором и анодом подается от генератора переменного или пульсирующего напряжения 6. За выходной щелью спектрального прибора 2 расположен фотоприемник 7, который через разделительный конденсатор 8 связан с избирательным усилителем переменного тока 9, синхронным детектором 10 и регистратором 11. Устройство работает следующим образом. Через люк подают анализируемую пробу на катод-атомизатор 3, выполненный в виде спирали из вольфрамовой проволоки. Производят сушку и озоление пробы. Устанавливают заданное давление гелия в камере и подают определенное ускоряющее напряжение между катодом-атомизатором и анодом от генератора переменного или пульсирующего напряжения. Напряжение выбирают ниже порога зажигания самостоятельного разряда. Включают нагрев катода-атомизатора 3. Сухой остаток пробы при этом атомизируется, а спираль катода-атомизатора эмитирует электроны. Под действием ускоряющего напряжения электроны приобретают энергию, достаточную для возбуждения атомов анализируемой пробы. Возбуждение атомов происходит в такт с частотой ускоряющего напряжения, чем обеспечивается модуляция излучения анализируемых атомов этой же частотой. Модуляции светового излучения катода-атомизатора при этом не происходит. Свет, состоящий из модулированного излучения атомов анализируемых элементов и немодулированного рассеянного излучения катода-атомизатора, поступает на спектральный прибор 2, где производится выделение аналитической линии анализируемого элемента. Но, вследствие того, что излучение катода-атомизатора имеет сплошной спектр, вместе с аналитической линией на фотоприемник 7 поступает и часть рассеянного излучения катода-атомизатора. Таким образом, на нагрузке фотоприемника выделяется напряжение постоянной составляющей фототока, соответствующее излучению катода-атомизатора и темновому току фотоприемника, и напряжение переменной частоты, соответствующее модулированному излучению атомов анализируемых элементов и шумов фотоприемника. На вход избирательного усилителя 9 благодаря разделительному конденсатору 8 поступает переменная составляющая фототока. Сигнал постоянной составляющей фототока при этом значительно ослабляется. Дальнейшее ослабление сигнала постоянной составляющей происходит в избирательном усилителе, настроенном на частоту ускоряющего напряжения, где происходит усиление сигнала с частотой модуляции и подавление всех других сигналов, в том числе и шумов фотоприемника, находящихся вне полосы пропускания усилителя. Детектирование усиленного модулированного сигнала можно производить любым известным способом. Лучшие результаты могут быть получены С синхронным детектором 10, в котором в качестве генератора опорного напряжения используется источник ускоряющего напряжения - генератор переменного или пульсирующего напряжения б. Чувствительность синхронного детектора к фазе сигнала приводит к дополнительному ослаблению шумов по сравнению с амплитудным детектором, имеющим ту же полосу пропускания. После детектирования аналитический сигнал поступает на регистратор 11, в качестве которого можно использовать компьютер, самопишущий потенциометр, стрелочный прибор или другое подобное устройство.
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for emission spectral analysis and device to perform it
Автори англійськоюSaprykin Yurii Oleksandrovych, Pazderskyi Yurii Antonovych, Lialko Ivan Semenovych, Popov Vadym Oleksiiovych, Briukhanov Anatolii Serhiiovych
Назва патенту російськоюСпособ эмиссионного спектрального анализа и устройство для его осуществления
Автори російськоюСапрыкин Юрий Александрович, Паздерский Юрий Антонович, Лялько Иван Семенович, Попов Вадим Алексеевич, Брюханов Анатолий Сергеевич
МПК / Мітки
МПК: G01N 21/67
Мітки: спектрального, емісійного, аналізу, здійснення, спосіб, пристрій
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-17627-sposib-emisijjnogo-spektralnogo-analizu-ta-pristrijj-dlya-jjogo-zdijjsnennya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб емісійного спектрального аналізу та пристрій для його здійснення</a>
Попередній патент: Спосіб підвищення комбінаційної здатності буряків по ознаках продуктивності
Наступний патент: Спосіб хемілюмінесцентного аналізу
Випадковий патент: Іонізатор для зарядки часток