Пристрій для вимірювання кутів у геодезичних приладах

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Пристрій для вимірювання кутів у геодезичних приладах, що містить оптично зв'язаний лімб, шкалу, інтервал між штрихами якої відповідає цілому числу кутових хвилин повороту лімбу, мікроскоп, блок передачі на шкалу зображення штрихів лімбу зі збільшенням, яке дає можливість розміщення між зображенням двох штрихів лімбу цілого числа інтервалів між штрихами шкали, який відрізняється тим, що на частині кожного інтервалу між штрихами лімбу нанесено n додаткових штрихів меншої довжини з рівнини відстанями між ними, розмір зображення кожного інтервалу між додатковими штрихами дорівнює різниці між величиною, кратною інтервалу між штрихами шкали і його величиною, поділеною на n, при цьому блок передачі виконаний з можливістю часткового суміщення зображення додаткових штрихів у напрямку їх довжини зі штрихами шкали, а величина інтервалу між крайніми штрихами шкали більше за суму величини зображення інтервалу між двома основними штрихами лімбу і величини зображення інтервалу між крайніми додатковими штрихами.

Текст

Пристрій для вимірювання кутів у геодезичних приладах, що містить оптично зв'язаний лімб, шкалу, інтервал між штрихами якої відповідає цілому числу кутових хвилин повороту лімбу, мікроскоп, блок передачі на шкалу зображення штрихів лімбу зі збільшенням, яке дає можливість розміщення між зображенням двох штрихів лімбу цілого числа 30130 передачі на шкалу зображення штрихів лімбу зі збільшенням, яке дає можливість розміщення між зображенням двох штрихів лімбу цілого числа інтервалів між штрихами шкал відповідно до винаходу, на частині кожного інтервалу між штрихами лімбу нанесено n додаткових штрихів меншої довжини з рівними відстанями між ними, розмір зображення кожного інтервалу між додатковими штрихами дорівнює різниці між величиною, кратною інтервалу між штрихами шкали і його величиною, поділеною на n, при цьому блок передачі виконаний з можливістю часткового суміщення зображення додаткових штрихів у напрямку їх довжини зі штрихами шкали, а величина інтервалу між крайніми штрихами шкали більше за суму величини зображення інтервалу між двома основними штрихами лімбу і величини зображення інтервалу між крайніми додатковими штрихами. Суть винаходу пояснюється кресленнями. На фіг. 1 зображено запропонований пристрій застосовано к вертикальному лімбу теодоліта. На фіг. 2 показано фрагмент лімбу зі штрихами. На фіг. 3 показано поле зору мікроскопа в частині вертикального лімбу. На фіг. 1 зображено лімб 1, шкала 2, об'єктив 3, призма 4 і окуляр 5 мікроскопу, призма 6, призма 7, об'єктив 8 і призма 9 блока передачі на шкалу зображення штрихів лімбу. На фіг. 2 зображені основні штрихи 10 і на частині інтервалу між основними штрихами 10 n додаткових штрихів 11. На фіг. 3 зображені штрихи 12 шкали, зображення додаткових штрихів 13, величина зображення інтервалу 14 між додатковими штрихами лімбу, величини інтервалу 15 між штрихами шкали, величина зображення інтервалу 16 між крайніми додатковими штрихами, половина величини зображення інтервалу 17 між крайніми додатковими штрихами. Величина інтервалу 15 між штрихами шкали відповідає цілому числу кутових хвилин повороту лімбу. Найчастіше ця величина відповідає 1 кутовій хвилині. Число n додаткових штрихів 11 вибирають виходячи з цілої величини припустимої дискретності знімання відліку. Наприклад, коли величина інтервалу 12 між штрихами шкали дорівнює 1 кутовій хвилині, то при n=6 величина дискретності буде дорівнювати 10 кутовим секундам, при n=10 величина дискретності буде рівна 6 кутовим секундам, при n=12 величина дискретності буде дорівнюватися 5 кутовим секундам. Блок передачі на шкалу зображення штрихів лімбу виконан з збільшенням, що забезпечує можливість розміщення між зображенням двох штрихів 10 лімбу цілого числа інтервалів 15. На лімб 1 нанесено додаткові штрихи 11 меншої довжини з рівними відстанями між ними. Величина зображення кожного інтервалу 11 між додатковими штрихами дорівнює різниці між величиною, кратною інтервалу 15 між штрихами шкали і величиною інтервалу 15, поділеного на n. Блок передачі виконаний з можливістю часткового суміщення зображення додаткових штрихів 13 в напрямку їх довжини з штрихами 12 шкали. Величина інтервалу між крайніми штрихами 12 шкали більше суми величини зображення інтервалу між двома основними штрихами 10 лімба і величини зображення інтервалу 16 між крайніми додатковими штрихами 13. Величина зображення інтервалу 16 дорівнює сумі двох інтервалів 17. В запропонованому пристрої зображення штрихів 10 та 11 лімбу проектуються об'єктивом 8 через призму 7 та 9 в площину шкали 2. Штрихи шкали 12 та лімбу 10, 11 одночасно розглядаються в мікроскоп 2, 3, 4, 5. За оцифровкою штриха 10, що розташований між крайніми оцифрованими штрихами шкали 2, визначається градусна частина вимірюваного кута. По кількості інтервалів 15 між цім же зображенням оцифрованого штриха 10 та нульовим положенням шкали (штрих з цифрою 0) визначається хвилинна частина вимірюваного кута. Вибирається зображення набору із n додаткових штрихів 13, яке повністю знаходиться в полі зору. По номеру штриха 13, який совпадає зі штрихом 12 шкали (відлік ведеться зліва набору зображення додаткових штрихів 13) визначається секундна частина вимірюваного кута. Запропонований пристрій має просту конструкцію. Одночасно з цим цей пристрій має високу точність вимірювання кутів повороту лімбу, що дозволяє одержати високоточний та простий по конструкції теодоліт. Крім того точність знімання відліку не залежить від досвіду оператора. Фіг. 1 2 30130 Фіг. 2 Фіг. 3 __________________________________________________________ ДП "Український інститут промислової власності" (Укрпатент) Україна, 01133, Київ-133, бульв. Лесі Українки, 26 (044) 295-81-42, 295-61-97 __________________________________________________________ Підписано до друку ________ 2002 р. Формат 60х84 1/8. Обсяг ______ обл.-вид. арк. Тираж 35 прим. Зам._______ ____________________________________________________________ УкрІНТЕІ, 03680, Київ-39 МСП, вул. Горького, 180. (044) 268-25-22 ___________________________________________________________ 3

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Appliance for measuring angles in geodesic devices

Автори англійською

Holik Marat Mykolaiovych, Hryniuk Ihor Yevhenovych, Pasko Ihor Matviiovych

Назва патенту російською

Устройство для измерения углов в геодезических приборах

Автори російською

Голик Марат Николаевич, Гринюк Игорь Евгеньевич, Пасько Игорь Матвеевич

МПК / Мітки

МПК: G01C 1/00

Мітки: пристрій, геодезичних, кутів, приладах, вимірювання

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/3-30130-pristrijj-dlya-vimiryuvannya-kutiv-u-geodezichnikh-priladakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для вимірювання кутів у геодезичних приладах</a>

Подібні патенти