Пристрій для визначення температур по довжині контакту задньої поверхні різця

Пристрій для визначення температур по довжині контакту задньої поверхні різця, що містить датчик термоерс, підсилювач електричних сигналів і реєструючий пристрій, який відрізняється тим, що у пристрій додатково введено блок визначення площі контакту задньої поверхні різця із за 3 чений до першого входу блока ділення, блок формування тимчасово інтервалу одним виходом підключений до блоку множення, а другим виходом до блоку диференціювання, а блок фіксації сигналів термо ЕДС своїм виходом через блок диференціювання сигналу послідовно підключений до блоку ділення і до реєструючого приладу. Додатково введені блоки дозволяють в автоматичному циклі без додаткових розрахунків отримувати прирости площин контакту термо ЕДС, диференціювати сигнали термо ЕДС, розподіляти сигнал термо ЕДС по площі контакту і записувати осцилограми розподілу температури на задній поверхні різця. Суть корисної моделі пояснюється кресленням, де на Фіг. зображена схема пристрою для визначення розподілу температури по довжині контакту задньої поверхні робочої частини різця. Пристрій містить датчик термо ЕДС, роль якого виконує розрізний різець 1 і заготовка 2, підсилювач електричних сигналів 3, блок фіксації сигналів термо ЕДС 4, блок формування тимчасового інтервалу 5, блок визначення площі контакту 6, блок диференціювання 7, блок множення 8, блок ділення 9 і реєструючий прилад 10. Пристрій працює наступним чином. Зразку, який виконується у вигляді полоси металу товщиною b, надається два рухи: поперечний рух зі швидкістю V1 і поздовжній вздовж ріжучої крайки з швидкістю V2, причому V2=V1. Різець, який розрізаний по діагоналі площі фаски задньої поверхні не рухається. При поздовжньому переміщенні зразка виникає контакт зразка з різними дільницями задньої поверхні ізольованої частини різця. З ростом довжини контакту hi виникає зміна площини контакту і термо ЕДС. Приріст площини контакту при кожному тимчасовому інтервалі визначається як Si d(hi 1 hi ) b hi , а приріст термо ЕДС (Ti 1 Ti ) Температура по довжині контакту на задній поверхні робочої частини різця у кожному тимчасовому інтервалі буде визначатися як Ti Ti dT . T lim lim si 0 Si si 0 b h t b h dt Якщо різати заготовку розрізним різцем, в якому ізольована частина виконує роль датчика, сигнал T , що характеризує термо ЕДС, виникає i 56276 4 між заготовкою 2, і ізольованою частиною різця 1 підсилюється підсилювачем електричних сигналів 3, поступає до блоку 4 фіксації сигналів T і переходить до блоку 7 елементів диференціювання, куди одночасно з блоку 5 формування тимчасового інтервалу поступає часовий інтервал t . Блок 6 визначення довжини контакту фіксує приріст довжини контакту hi та ширину площі контакту b і формує сигнал площі контакту b hi , який надходить одночасно з тимчасовим інтервалом t в блок множення 8. Продиференційований сигнал dT термо ЕДС - одночасно з сигналом площі конdt такту b h надходить до блоку 9 ділення. У блоці 9 ділення визначається розподіл сигналу термо ЕДС по площі контакту. Сигнал розподілу величини dT 1 термо ЕДС по площі контакту блок ді( dt b h лення передає у реєструючий прилад 10, який записує осцилограму розподілу температури по довжині контакту заготовки з задньою поверхнею різця. Таким чином, якщо різати заготовку розрізним різцем і заміряти прирости сигналів термо ЕДС і площадок контакту задньої поверхні різця з заготовкою у плині кожного тимчасового інтервалу, то по величинам цих приростів визначають розподіл температур по довжині контакту заготовки з задньою поверхнею різця і записують осцилограми розподілу температур. Використання корисної моделі на підприємствах дозволить без допоміжних розрахунків визначити розподіл температури на поверхні інструменту і записати осцилограми температурних навантажень. По температурному навантаженні можна керувати процесом зносу задньої поверхні робочої частини інструменту і тим самим найбільш повно використати інструмент по його стійкостним і тривким якостям, що дозволять підвищити продуктивність обробки на металорізальних верстатах в 1,5-2,0 рази. Джерела інформації 1. а.с. 266277 MПK G01j5/50, 1970 p. 2. а.с. 267130 MПK G01K, 1970 р. 5 Комп’ютерна верстка А. Крулевський 56276 6 Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601