Пристрій для поглинання потужних електромагнітних випромінювань

Пристрій для поглинання потужних електромагнітних випромінювань, що містить камеру, на зовнішню поверхню якої нанесений шар з діелектричного матеріалу, всередині якого хаотично розподілені сферичні вкраплення -радіоактивної речовини різного розміру, а на зовнішню поверхню діелектричного шару хаотично нанесені плями високопровідної речовини різного розміру, який відрізняється тим, що додатково в діелектричний матеріал введені хаотично розподілені сферичні вкраплення феромагнетику різного розміру. (19) (21) u201102669 (22) 09.03.2011 (24) 11.07.2011 (46) 11.07.2011, Бюл.№ 13, 2011 р. (72) СОТНІКОВ ОЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ, ЛУПАНДІН ВОЛОДИМИР АНАТОЛІЙОВИЧ, КАРПІЧ ЮРІЙ ВІКТОРОВИЧ, КОЖУШКО ЯРОСЛАВ МИКОЛАЙОВИЧ, ОЛІЙНИК ЮРІЙ АНАТОЛІЙОВИЧ, БАЛАБУХА ОЛЕКСІЙ СЕРГІЙОВИЧ (73) ХАРКІВСЬКИЙ УНІВЕРСИТЕТ ПОВІТРЯНИХ СИЛ ІМЕНІ ІВАНА КОЖЕДУБА 3 властивості, які характеризуються комплексним значенням. Пристрій створює твердотільну плазму в радіоізотопному композитному покритті, яка характеризується величинами одного порядку щодо дійсної та уявної частини діелектричної та магнітної проникності. За наявності магнітних властивостей покриття з'являється можливість збільшення значення тангенса кута магнітних втрат tg  ' ' / ' , що визначає магнітні втрати в матеріалі радіоізотопного композитного покриття за рахунок підвищення величини уявної складової ' ' комплексної магнітної проникності   ' j' ' [2]. Технічній результат, який може бути отриманий при здійсненні корисної моделі, полягає у збільшенні поглинання потужних електромагнітних випромінювань в широкому діапазоні частот (довжин хвиль) при жорстких вимогах до масогабаритних характеристик за рахунок одночасної дії декількох фізичних явищ та процесів, які мають максимальний ефект в різних ділянках частотного діапазону. На фіг. 1 приведена структурна схема запропонованого пристрою. Запропонований пристрій для поглинання потужних електромагнітних випромінювань містить камеру 2, на зовнішню поверхню якої нанесений шар з діелектричного матеріалу 1, всередині якого хаотично розподілені сферичні вкраплення феромагнетику та -радіоактивної речовини різного розміру 3, де 5 - треки -часток, а на зовнішню поверхню діелектричного шару хаотично нанесені плями високопровідної речовини різного розміру 4. Робота запропонованого пристрою полягає у наступному. Потужні електромагнітні випромінювання падають на зовнішню поверхню шару з діелектрич 61314 4 ного матеріалу 3 радіоізотопного композитного покриття, проходять в нього та викликають дію основних фізичних процесів та явищ: - поглинання за рахунок створення нерівноважного стану електронної підсистеми діелектричного шару (за рахунок використання вкраплень радіоактивної речовини різного розміру); поглинання за рахунок створення магнітних властивостей речовини шляхом включення в діелектричний шар речовини феромагнетику, яка характеризується комплексним значенням магнітної проникності. Таким чином, використання вкраплень феромагнетику призводить до появи комплексної магнітної проникності радіоізотопного композитного покриття, причому уявна частина магнітної проникності стає співрозмірною із реальною частиною, що призводить до збільшення поглинання у запропонованому пристрої при зменшенні масогабаритних характеристик завдяки відсутності джерела магнітного поля та джерела його живлення. Джерела інформації: 1. Патент на корисну модель, № 7486, Україна, МПК Н04КЗ/00. Пристрій для зменшення інтенсивності відбиття електромагнітного випромінювання в широкому діапазоні частот / Сотніков О.М., Карпенко В.1., Клєпіков В.Ф. та ін. - №20041210841; заяв. 15.06.2005; опубл. 15.06.2005; Бюл. № 6. 2. Толмасский И.С. Высокочастотные магнитные материалы. - М.: "Энергия", 1968.-72 с. 3. Патент на корисну модель, № 54059, Україна, МПК H01Q17/00. Пристрій для поглинання потужних електромагнітних випромінювань / Сотніков О.М., Карпенко В.І., Певцов Г.В. та ін. № u201004962; заяв. 26.04.2010; опубл. 25.10.2010; Бюл. № 20. 5 Комп’ютерна верстка А. Крижанівський 61314 6 Підписне Тираж 24 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601