Пристрій для оптичного контролю масок флексоформ

1. Пристрій для оптичного контролю масок флексоформ, що включає опорну плиту для закріплення флексопластин, механізм пересування по двох взаємно перпендикулярних осях (х, у) у площині, паралельній опорній плиті, тримач з механізмом пересування по осі z, перпендикулярній опо C2 2 (19) 1 3 67673 4 змінну вимірювальну головку, відеокамеру і можливістю оперативного перегляду великих за комп'ютер з клавіатурою і дисплеєм для задавання розмірами флексопластин (до формату АО). Викопозицій вимірювальних головок та аналізу ристання винаходу дозволить досягти економії результатів вимірювань. Однак вказаний пристрій матеріалів і часу за рахунок виявлення браку на не призначений для отримання та аналізу зобрапершій стадії виробництва форм флексодруку. ження масок флексоформ, хоча денситометричні Суть винаходу пояснюється кресленням. вимірювання часто використовують для визначенПристрій включає опорну плиту 1 для ня проценту заповнення точкового растру, зокрема закріплення флексопластини 2 з маскою, механізм на фотоплівках для виготовлення форм друку. (3, 4) пересування по двох взаємно перпендикуСлід відзначити, що денситометричний метод є лярних осях (х, у) у площині, паралельній опорній інтегральним і дає значну похибку, особливо при плиті 1, жорстко зв'язаний з плитою 1, тримач 5, низькому заповненні растру (малих розмірах і оптичну головку 6 з цифровою камерою 7 і густині точок). комп'ютер 8. Оптична головка 6 з цифровою камеВідомий пристрій [2] для вимірювання розмірів рою 7 встановлюється у тримачі 5 з механізмом растрових точок та загальної інспекції якості пересування по осі z (фокусування, зокрема, авповерхні флексоформ, розроблений спеціально тофокусування), перпендикулярній до опорної для технології прямого лазерного гравірування плити 1, і переміщується у площині, паралельній (DLE - direct laser engraving) форм флексодруку, опорній плиті 1, на певній відстані від поверхні який складається з портативного мікроскопу з ПЗЗ маски флексопластини 2 за допомогою вказаного камерою та інтерфейсної РСІ плати для механізму (3, 4). Флексопластина 2 закріплюється підключення до ПК з програмним забезпеченням на опорній плиті 1, наприклад, механічною для обчислення розмірів растрових точок та профіксацією країв. Цифрове зображення з оптичного центу заповнення растру. Мікроскоп має роликові сенсора цифрової камери 7, наприклад ПЗЗ або опори, на яких він пересувається по поверхні КМОП матриці, подається на комп'ютер 8, з встафлексоформи, розміщеній на площині стола або новленим програмним забезпеченням для перена гравірувальному циліндрі. Мікроскоп з вбудовагляду зображення ділянок маски флексопластини ним освітлювачем працює у відбитому світлі і має та його аналізу з обчисленням параметрів растру, датчик для вимірювання глибини рельєфу. Зазнанаприклад, діаметру і площі растрових точок, прочений пристрій мало підходить для контролю мацента заповнення растру, лініатури растру, кута сок флексоформ, оскільки транспортні ролики чинахилу растру, контурного фактора. нять тиск на досліджувану поверхню, і У варіанті винаходу оптична головка 6 являє пересуванням по поверхні маски можна її пошкособою мікроскоп зі змінними об'єктивами, передити, оскільки тонкий шар маски (3-5 мкм) з важно довгофоку сними. У варіанті роботи у перфорацією після лазерного гравірування легко прохідному світлі опорна плита 1 включає матове відокремлюється від поверхні фотополімерної скло 9 і блок підсвічування 10. У варіанті пластини. здійснення винаходу матове скло 9 має нанесений Відомий пристрій [3, 4] для контролю прозорий струмопровідний шар, наприклад, оксиду відтворення растрових точок на флексографських олова, оксиду індію або нанометровий шар метаформах, що включає ПЗЗ камеру з системою лінз лу, наприклад алюмінію, на який подається для формування зображення досліджуваної постійний потенціал для електростатичного приділянки флексоформи на ПЗЗ матриці, вбудований тиску флексопластини. У варіанті роботи у дисплей та вихід на ПК, які дозволяють відбитому світлі мікроскоп включає освітлювач і вимірювати розмір растрових точок, процент занабір об'єктивів, наприклад спіоб'єктивів, для повнення і кут нахилу растру; пристрій конструквідбитого світла, а опорна плита включає систему тивно являє собою ручний мінісканер, який перевакуумного притиску. сувають по поверхні флексопластини. Джерела інформації: Використання зазначеного пристрою для контролю 1. Pallingen G. Device and method for densitoмасок флексоформ також може привести до їх metric and/or colourmetric measurements. Патент ЕР пошкодження при пересуванні по поверхні маски. № 0642012, МПК7 G01N 21/59, B41F 33/00, 1999. Найближчим до винаходу є пристрій (Vipflex 2. DotMaster. Effective quality control for flexo334 фірми Viptronic [5]) для контролю флексоgraphic plates, sleeves and print cylinders / www.zedформ, що включає цифрову камеру з об'єктивом, inst.co.uk.- 2003. корпус з блоком підсвічування і ПК з програмним 3. Andelin J.O., Colthorpe S.N., Stewart G.L. Apзабезпеченням (Flexo Eye [6]), які забезпечують paratus for measuring percentage dot in printing and аналіз зображення та вимірювання параметрів the like applications. Патент Великобританії № растру: діаметру та площі растрових точок; про2316741, МПК7 G01N 21/59, 1998. центу заповнення і лініатури растру, контурного 4. FlexoDot. The only hand-held DotMeter for фактору. Однак зазначений пристрій також є конmeasuring flexographic film and plates / www.appliedтактним - об'єкт притискається до опорної площиlaser.co.uk.- 2002. ни прозорою пластиною оптичної головки, яка 5. Genovese F. Vipflex 334 and Flexo Eye Softопускається на важелі, закріпленому на осі в ware: Quality control device for flexoplates, films and корпусі приладу і не є пересувною. color prints / www.viptronic.com.- 2002. В основу винаходу поставлено задачу безкон6. Betaflex 334 Flexo Analyzer and Flexo Eye тактного непошкоджуючого контролю масок флекSoftware. Betaflex 334 & Flexo Eye Instruction Maсоформ з підвищеною роздільною здатністю та nual / www.betascreen.com.- 2002. 5 Комп’ютерна верстка М. Клюкін 67673 6 Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601