Спосіб атомно-емісійного аналізу та пристрій для його здійснення
Номер патенту: 67840
Опубліковано: 15.07.2004
Автори: Брюханов Анатолій Сергійович, Паздерський Юрій Антонович, Васильєв Валерій Костянтинович, Саприкін Юрій Олександрович, Лялько Іван Семенович
Формула / Реферат
1. Спосіб атомно-емісійного аналізу, що включає термічну атомізацію проби, збудження атомів за допомогою електронів, емітованих катодом-атомізатором при прискорюючій напрузі, нижчій від порога запалювання самостійного розряду, та фотоелектричну реєстрацію аналітичного сигналу, який відрізняється тим, що атомізацію та збудження проби проводять шляхом подання на катод-атомізатор напруги, що перевищує поріг руйнування катода-атомізатора, а температуру атомізації стабілізують шляхом обмеження струму нагрівання за допомогою негативного зворотного зв'язку по потоку випромінювання катода-атомізатора.
2. Пристрій для атомно-емісійного аналізу, що містить камеру з електродами, з яких принаймні один виконаний з можливістю нагрівання, а зазор між електродами вибраний із умови проходження між ними електричного струму при нагріванні електрода, джерело нагрівання електрода, джерело прискорюючої напруги та систему реєстрації аналітичного сигналу, який відрізняється тим, що додатково містить принаймні один фотоприймач, оптично зв'язаний з нагріваним електродом, підсилювач фотоструму, зв'язаний негативним зворотним зв'язком з керованим стабілізатором струму, включеним між джерелом нагрівання електрода та нагріваним електродом.
Додаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod of atomic emission analysis and a device for the realization of the method
Автори англійськоюSaprykin Yurii Oleksandrovych, Pazderskyi Yurii Antonovych, Lialko Ivan Semenovych, Briukhanov Anatolii Serhiiovych, Vasyliev Valerii Kostiantynovych
Назва патенту російськоюСпособ атомно-эмиссионного анализа и устройство для осуществления способа
Автори російськоюСапрыкин Юрий Александрович, Паздерский Юрий Антонович, Лялько Иван Семенович, Брюханов Анатолий Сергеевич, Васильев Валерий Константинович
МПК / Мітки
МПК: G01N 21/67
Мітки: атомно-емісійного, аналізу, здійснення, спосіб, пристрій
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-67840-sposib-atomno-emisijjnogo-analizu-ta-pristrijj-dlya-jjogo-zdijjsnennya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб атомно-емісійного аналізу та пристрій для його здійснення</a>
Спосіб емісійного спектрального аналізу та пристрій для його здійснення
Номер патенту: 17627
Опубліковано: 06.05.1997
Автори: Паздерський Юрій Антонович, Лялько Іван Семенович, Попов Вадим Олексійович, Брюханов Анатолій Сергійович, Саприкін Юрій Олександрович
МПК: G01N 21/67
Мітки: емісійного, здійснення, пристрій, спектрального, аналізу, спосіб
Формула / Реферат:
1. Способ эмиссионного спектрального анализа, включающий термическую атомизацию пробы, возбуждение атомов электронным потоком при ускоряющем напряжении ниже порога зажигания самостоятельного разряда и фотоэлектрическую регистрацию аналитического сигнала, отличающийся тем, что возбуждение атомов производят переменным или пульсирующим электронным потоком, а регистрацию аналитического сигнала проводят путем выделения и измерения переменной...
Пристрій для емісійного спектрального аналізу
Номер патенту: 25039
Опубліковано: 25.12.1998
Автори: Паздерський Юрій Антонович, Саприкін Юрій Олександрович, Головко Богдан Михайлович
МПК: G01N 21/67
Мітки: пристрій, аналізу, спектрального, емісійного
Формула / Реферат:
Пристрій для емісійного спектрального аналізу, що містить камеру з електродами, з яких хоча б один виконаний з можливістю нагріву, джерело електричного струму, під'єднане до електродів, і спектральний прилад, оптично зв'язаний з камерою, який відрізняється тим, що проміжок між електродами вибрано з умови протікання між ними електричного струму під час нагріву електрода при напрузі джерела струму, нижчій порога запалювання самостійного...
Спосіб емісійного спектрального аналізу
Номер патенту: 2919
Опубліковано: 26.12.1994
Автори: Головко Богдан Михайлович, Саприкін Юрій Олександрович, Малиголовка Борис Володимирович, Сушко Степан Васильович, Паздерський Юрій Антонович
МПК: G01N 21/67
Мітки: емісійного, спектрального, спосіб, аналізу
Формула / Реферат:
1. Способ эмиссионного спектрального анализа, включающий термическую атомизацию пробы, размещенной на катоде, в атмосфере инертного газа, возбуждение атомного пара в электрическом поле и регистрацию эмиссионного спектра пробы, по которому проводят анализ, отличающийся тем, что перед атомизацией пробы определяют величину напряженности электрического поля, соответствующую порогу зажигания самостоятельного разряда в инертном газе, а возбуждение...
Спосіб аналізу поверхні твердого тіла спектральним методом та пристрій для його здійснення
Номер патенту: 57252
Опубліковано: 16.06.2003
Автори: Уваров Віктор Миколайович, Шпак Анатолій Петрович, Пехньо Василь Іванович, Волков Сергій Васильович, Кордубан Олександр Михайлович
МПК: G01N 25/00, G01N 23/00, G01N 1/34, G01N 21/00
Мітки: здійснення, спектральним, поверхні, тіла, спосіб, аналізу, твердого, пристрій, методом
Формула / Реферат:
1. Спосіб аналізу поверхні твердого тіла спектральним методом, який включає видалення забруднюючого шару з поверхні твердого тіла, після введення його в вакуумну камеру спектрального пристрою, обробкою випромінюванням і реєстрацію спектру, який відрізняється тим, що обробку поверхневого шару здійснюють імпульсом випромінювання галогенної лампи, величина потужності якого при поглинанні поверхнею твердого тіла достатня для випаровування...
Спосіб електрохімічного аналізу газів та пристрій для його здійснення
Номер патенту: 28448
Опубліковано: 16.10.2000
Автори: Подольський Вячеслав Яковлевич, Михайлик Леся Миколаївна, Майстренко Володимир Миколайович
МПК: G01N 27/416, G01N 27/26
Мітки: здійснення, спосіб, електрохімічного, пристрій, аналізу, газів
Формула / Реферат:
1. Способ электрохимического анализа газа, включающий создание электрического поля между измерительным и вспомогательным электродами, расположенными в растворе электролита, подачу анализируемого газа к измерительному электроду, поддержание постоянного потенциала на измерительном электроде, измерение концентрации анализируемого газа по изменение тока между электродами, и периодическую подачу контрольного импульса напряжения, отличающейся тем,...
Попередній патент: Автоматичний одоризатор газу
Наступний патент: Спосіб твердофазного синтезу альдегідів, кетонів, оксимів, амінів і гідроксамової кислоти
Випадковий патент: Спосіб надання першої медичної допомоги хворим з відмороженнями