Спосіб визначення параметрів рідких і сипких середовищ
Номер патенту: 84902
Опубліковано: 10.12.2008
Автори: Чегринець Вячеслав Миколайович, Жуков Юрій Даниїлович, Гордєєв Борис Миколайович
Формула / Реферат
Спосіб визначення параметрів рідких і сипких середовищ за затримкою сигналу, відбитого від неоднорідності хвилевого опору, відносно зондувального імпульсного електромагнітного сигналу, посланого за допомогою хвилеводу у контрольоване середовище, що передбачає перед посиланням вимірювального зондувального імпульсного електромагнітного сигналу посилання тестового зондувального імпульсного електромагнітного сигналу і визначення характеристики перетворення за затримкою сигналу, відбитого від неоднорідності хвилевого опору, віддаленої на наперед відому відстань, відносно тестового зондувального імпульсного електромагнітного сигналу, який відрізняється тим, що використовують неоднорідність хвилевого опору, утворену конструктивним елементом хвилеводу, а тривалість тестового зондувального імпульсного електромагнітного сигналу вибирають сумірною розмірам цього конструктивного елемента і меншою за тривалість вимірювального зондувального імпульсного електромагнітного сигналу.
Текст
Спосіб визначення параметрів рідких і сипких середовищ за затримкою сигналу, відбитого від C2 1 3 Технічна задача винаходу полягає в удосконаленні способу визначення параметрів рідких і сипких середовищ за затримкою відбитого сигналу відносно зондувального імпульсного електромагнітного сигналу, посланого у контрольоване середовище за допомогою хвилеводу, що передбачає перед посиланням в контрольоване середовище вимірювального зондувального імпульсного електромагнітного сигналу посилання в контрольоване середовище тестового зондувального імпульсного електромагнітного сигналу шляхом посилання у контрольоване середовище тестового зондувального імпульсного сигналу з тривалістю меншою, ніж тривалість вимірювального зондувального імпульсного електромагнітного сигналу, що запобігає згасанню імпульсу на неоднорідностях хвилевого опору, відповідних конструктивним елементам хвилеводу, і послабленню енергії імпульсу, відбитого від неоднорідності хвилевого опору, відстань до якої вимірюють, сприяючи підвищенню точності вимірювань. Спосіб визначення параметрів рідких і сипких середовищ за затримкою сигналу, відбитого від неоднорідності хвилевого опору, відносно зондувального імпульсного електромагнітного сигналу, посланого за допомогою хвилеводу у контрольоване середовище, передбачає перед посиланням вимірювального зондувального імпульсного електромагнітного сигналу посилання тестового зондувального імпульсного електромагнітного сигналу і визначення характеристики перетворення за затримкою сигналу, відбитого від неоднорідності хвилевого опору, віддаленої на наперед відому відстань, відносно тестового зондувального імпульсного електромагнітного сигналу, і характеризується тим, що тривалість тестового зондувального імпульсного електромагнітного сигналу менша за тривалість вимірювального зондувального імпульсного електромагнітного сигналу. На Фіг.1 показано блок-схему пристрою для визначення параметрів (рівнів і меж поділу) рідких або сипких середовищ за затримкою відбитого сигналу відносно посланого у контрольоване середовище зондувального імпульсного сигналу. На Фіг.2 і Фіг.3 показані отримані на рефлектограмі відображеннями відповідного тестового і вимірювального зондувальних імпульсних електромагнітних сигналів і відбитих сигналів. Пристрій для визначення рівнів і меж поділу рідких і сипких середовищ містить блок 1 генерування, приймання та обробки зондувального електромагнітного сигналу, до якого підключений хвилевід (чутливий елемент) 2. Блок 1 генерування, приймання та обробки зондувального електромагнітного сигналу та хвилевід (чутливий 84902 4 елемент) 2 можуть бути виконані як [за патентом України на винахід №11006 (G01F23/28, 25.12.1996)]. Для забезпечення жорсткості конструкції хвилевід має вздовж своєї довжини кріплення (розпірки), розташування яких є заздалегідь відомим. Під час здійснення способу визначення параметрів рідких і сипких середовищ у контрольоване середовище, яким є, наприклад, дві не змішувані рідини 3 і 4, за допомогою принаймні частково зануреного в нього хвилеводу (чутливого елемента) 2 посилають тестовий зондувальний імпульсний електромагнітний сигнал At. Довжина хвилі (тривалість) тестового зондувального імпульсу сумірна розмірам кріплення в конструкції хвилеводу, тому під час тестового такту вимірювань на рефлектограмі будуть виділені відповідні цим елементам забезпечення жорсткості конструкції відбиті сигнали А1i, тобто сигнали, відбиті від неоднорідностей хвилевого опору вздовж хвилеводу 2, віддалених на наперед відому відстань; за затримками цих сигналів відносно тестового зондувального імпульсного сигналу At (зокрема, відбитого сигналу А1i, відповідного найближчому до межі поділу середовищ елементу забезпечення жорсткості) визначають характеристику перетворення пристрою для визначення параметрів рідких і сипких середовищ. Під час такту вимірювання у контрольоване середовище за допомогою принаймні частково зануреного в нього хвилеводу (чутливого елемента) 2 посилають вимірювальний зондувальний імпульсний електромагнітний сигнал Аm і визначають затримку сигналу А2, відбитого від неоднорідності хвилевого опору, якою є межа поділу середовищ – не змішуваних рідин 4 і 5. Вимірювальний зондувальний імпульсний електромагнітний сигнал триваліший за тестовий зондувальний імпульсний електромагнітний сигнал At, ( tt < tm ), і тому під час такту вимірювання згасання на неоднорідностях хвилевого опору, якими є елементи забезпечення жорсткості конструкції, не приводить до значного послаблення енергії імпульсу - сигналу А2 відбитого під межі поділу середовищ. Визначену за затримкою відбитого сигналу А2 відстань до межі поділу середовищ (не змішуваних рідин 3 і 4) коригують виходячи з визначеної характеристики перетворення пристрою для визначення параметрів рідких і сипких середовищ. Запропонований спосіб визначення параметрів рідких і сипких середовищ сприяє підвищенню достовірності й точності отриманих результатів. 5 Комп’ютерна в ерстка Н. Лисенко 84902 6 Підписне Тираж 28 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for determination of parameters of liquid and bulk media
Автори англійськоюHordeiev Borys Mykolaiovych, Zhukov Yurii Danyilovych, Chehrynets Viacheslav Mykolaiovych
Назва патенту російськоюСпособ определения параметров жидких и сыпучих сред
Автори російськоюГордеев Борис Николаевич, Жуков Юрий Даниилович, Чегринец Вячеслав Николаевич
МПК / Мітки
МПК: G01F 23/284
Мітки: спосіб, параметрів, рідких, визначення, середовищ, сипких
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-84902-sposib-viznachennya-parametriv-ridkikh-i-sipkikh-seredovishh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення параметрів рідких і сипких середовищ</a>
Попередній патент: Пневмокомпенсатор
Наступний патент: Фармацевтична композиція прямого пресування для перорального застосування cci-779
Випадковий патент: Спосіб виготовлення термоелектричної мікробатареї