Пристрій контролю висотного положення деформаційних марок

Пристрій контролю висотного положення деформаційних марок, що містить двоканальний оптикоелектронний пристрій з об'єктивом та бага 3 каналів і значення вертикального кута на світлові марки, чим підвищується точність вимірювань. Використання оптичного світлорозподільного блока та блока почергового відкриття та закриття шторок світлових каналів дозволяє почергово спостерігати джерела світла з обох каналів за допомогою одного об'єктива та багатоелементного фотоприймача, що спрощує конструкцію пристрою та здешевлює його вартість. Суть запропонованого винаходу пояснюється наступними кресленнями. На фіг. 1 показано блоксхему запропонованого приладу: 1 - джерела світла з діафрагмами (1.1 - ліве, 1.2 - праве); 2 - оптичний світлорозподільний блок; 3 - скануючий блок з механізмом приводу; 4 - об'єктив; 5 - багатоелементний фотоприймач (наприклад, ПЗЗ-матриця) з попереднім підсилювачем; 6 - блок обліку засвічених пікселів; 7 - електронний блок обробки інформації; 8 - блок індикації з клавішним пристроєм; 9 - корпус оптикоелектронного пристрою (ОЕП). На фіг. 2 показано схематично конструктивне виконання приладу, при цьому введені позначення: 10 - блок почергового відкриття та закриття шторок світлових каналів; 11 - прецизійна стикувальна основа приладу; 12 - прецизійна стикувальна основа джерела світла; 13 - блок запису і зберігання інформації. Блоки ОЕП 2…11 змонтовані в одному корпусі 9. ОЕП прецизійною основою 11 встановлено і з'єднано з відповідним точним механізмом деформаційної марки(ДМ) на даній нівелірній точці. В суміжних нівелірних точках на таких же точних механізмах ДМ встановлені своїми основами 12 випромінювачів світла 1(1.1 і 1.2). Пристрій контролю висотних відміток деформаційних марок працює наступним чином. Вимірювання починають від опорного репера нівелірного ходу (опорної ДМ № 1), на якій встановлюють джерело світла з діафрагмою 1.1; на ДМ № 2 - встановлюють ОЕП; на ДМ № 3 встановлюють джерело світла з діафрагмою 1.2 (Фіг. 2). 95450 4 При включенні ОЕП і джерел світла з діафрагмами 1.1 і 1.2 світлові потоки від останніх потрапляють через оптичний світлорозподільний блок 2 і скануючий блок 3 в об'єктив 4. Об'єктив 4 формує зображення світлових випромінювачів 1.1 і 1.2 в приймальній площині багатоелементного фотоприймача 5. Блок шторок 10 почергово відчиняє шторки, пропускаючи світловий потік то від світлового випромінювача 1.1, або від світлового випромінювача 1.2, при цьому скануючий клинковий блок 3 з датчиком кута повороту має обертання навколо вертикальної осі, що здійснюється механізмом приводу, який забезпечує сканування світловим променем (1.1 і 1.2 почергово) площини багатоелементного фотоприймача 5 і цим самим дозволяє суттєво підвищити точність фіксації положення зображення світлових випромінювачів 1.1 і 1.2 відносно оптичної осі системи блоків 2,4,5. Дані вимірювань положення світлових променів 1.1 і 1.2 3 блока 5 надходять в блок 6, де виконується облік засвічених пікселів. Далі, в блоці 7 визначаються кутові координати вертикальних напрямків "джерело світла з діафрагмою 1.1 об'єктив 4 (через світлорозподільний блок 2)» і "джерело світла з діафрагмою 1.2 - об'єктив 4 (через світлорозподільний блок 2)» і обчислюється вертикальний кут між цими напрямками. Ці дані надходять в блок індикації 8. З використанням клавіатури блока 8 вводяться необхідні атрибутивні дані та виконується керування роботою пристрою. В блоці запису і зберігання інформації виконується запис та збереження інформації щодо висотного положення деформаційних марок. Таким чином, запропонований пристрій дозволяє підвищити точність визначення висотного положення деформаційних марок та зменшити вартість конструкції. Джерела інформації:: 1. Баран П.И., Видуев Н.Г., Войтенко СП., Полищук Ю.В., Шевердин П.Г. Справочник по инженерной геодезии. К.: Вища школа, 1978.-376 с. (с. 69-88) 2. Боровий В.О., Бурачек В.Г., Шульц Р.В. Спосіб контролю стабільності положення елементів споруди. Патент на винахід № 79458, від 25.06.2007. Бюл. № 9,2007p. Державний департамент інтелектуальної власності. 5 Комп’ютерна верстка Л. Купенко 95450 6 Підписне Тираж 23 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601