Спосіб контролю висотного положення деформаційних марок

Спосіб контролю висотних відміток деформаційних марок, що ґрунтується на фотоелектричній реєстрації відносного положення трьох суміжних марок, який відрізняється тим, що фотоелектри C2 2 (19) 1 3 На фіг. 1 представлена блок-схема приладової реалізації запропонованого способу: 1 - світлові випромінювачі (1.1 - ліве, 1.2 - праве); 2 - призмовий світлорозподільний блок; 3 - скануючий блок з клином і механізмом приводу; 4 - об'єктив; 5 - дискретний фотоаналізатор (наприклад, ПЗЗ-матриця); 6 - електронний блок обробки інформації; 7 - блок індикації; 8 - блок запису і зберігання інформації. На фіг. 2 показане схематично конструктивне виконання приладу, при цьому введені позначення: 9 - корпус фотоелектричного вимірювального приладу(ФЕП); 10 - блок шторок з механізмом почергового "відкриття-закриття"; 11 - прецизійна з'єднувальна основа приладу; 12 - прецизійна з'єднувальна основа світлового випромінювача; 13 - клавішний пристрій. Блоки ФЕП 2…11 змонтовані в одному корпусі 9. ФЕП прецизійною основою 11 встановлено і з'єднано з відповідним точним механізмом деформаційної марки(ДМ) на даній нівелірній точці. В суміжних нівелірних точках на таких же точних механізмах ДМ встановлені своїми основами 12 випромінювачі світла 1 (1.1. і 1.2). Технологія контролю відносних висот ДМ по запропонованому способу здійснюється за допомогою описаного приладу наступним чином: 1. Контроль починають від опорного репера нівелірного ходу (опорної ДМ №1), на якій встановлюють світловий випромінювач 1.1; на ДМ №2 встановлюють ФЕП; на ДМ №3 встановлюють світловий випромінювач 1.2 (фіг. 2). При включенні ФЕП і світлових випромінювачів 1.1. і 1.2 світлові потоки від останніх потрапляють через світлорозподільний блок 2 і скануючий блок 3 в об'єктив 4. Об'єктив 4 формує зображення світлових випромінювачів 1.1 і 1.2. в приймальній площині фотоаналізатора 5. Блок шторок 10 почергово відчиняє шторки, пропускаючи світловий потік від світлового випромінювача 1.1, або від світлового випромінювача 1.2. при цьому скануючий клинковий блок 3 має обертання навколо вертикальної осі, що здійснюється механізмом приводу, який забезпечує сканування світловим 95449 4 променем (1.1 і 1.2. почергово) площини фотоаналізатора 5 і цим самим дозволяє суттєво підвищити точність фіксації положення зображення світлових випромінювачів 1.1. і 1.2. відносно оптичної осі системи блоків 2,4, 5. Дані вимірювань положення світлових променів 1.1. і 1.2 в блоці 5 надходять в блок 6, де визначають кутові координати вертикальних напрямків "світловий випромінювач 1.1 - об'єктив 4 (через світлорозподільник 2)» і « світловий випромінювач 1.2 - об'єктив 4 (через світлорозподільник 2)» і обчислюють вертикальний кут між цими напрямками. Ці дані надходять в блок 8. В пам'ять блока 6 введені дані попереднього контролю цих же ДМ, при цьому номери ДМ вводять через клавішний пристрій 13 блока індикації 7 і на табло останнього висвітлюється величина відхилення виміряного вертикального кута від отриманого під час попереднього контролю. 2. Після виконання роботи на ДМ №№ 1, 2, 3 переставляють ФЕП і світлові випромінювачі 1.1 і 1.2 на наступні марки нівелірного ходу - на №№ 2,3, 4 (ФЕП на № 3). Всі описані в п. 1 операції повторюють, а потім переходять на ДМ №№ 3, 4, 5; 4, 5, 6… n-2, n-1, n, де n - опорний репер. 3. В процесі вимірювань звертають увагу на величини відхилень виміряних вертикальних кутів від кутів, отриманих на попередніх етапах контролю і порівнюють з встановленим допуском. Дані зі всього контрольного ходу (виміряні вертикальні кути) з блока 8 вводять в комп'ютер разом з відмітками реперів ДМ №1 ДМ №n і обчислюють виправлені перевищення для кожної ДМ (з врахуванням розподілу поправок за неув'язки в ході), а також виконують оцінку точності отриманих результатів. Таким чином, запропонований спосіб дозволяє виключити трудомісткі візуальні високоточні вимірювання і замінити їх автоматичними - і за рахунок цього отримати суттєвий техніко-економічний ефект. Джерела інформації:: 1. Баран П.И., Видуев Н.Г., Войтенко СП., Полищук Ю.В., Шевердин П.Г. Справочник по инженерной геодезии. Киев. "Вища школа", 1978, 376 с. (С. 69-88) 2. Бойко І.П., Боровий В.О. та ін. Спосіб контролю точності положення елементів споруди. Деклараційний патент на корисну модель №14992 від 15.06.2006. Бюл. №6. Державний департамент інтелектуальної власності. 5 Комп’ютерна верстка Л. Купенко 95449 6 Підписне Тираж 23 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601