Спосіб прогнозування дефектів виливків
Номер патенту: 11506
Опубліковано: 15.12.2005
Автори: Авдокушин Володимир Павлович, Самарай Валерій Петрович, Довбиш Ніна Олександрівна, Самарай Роман Валерійович
Формула / Реферат
Спосіб прогнозування дефектів виливків шляхом підрахунку ознак, що спостерігаються, який відрізняється тим, що проводять повний якісний і кількісний аналіз усіх прогностичних гіпотез, їх ймовірну оцінку аж до визначення 100% імовірності за формулою:
,
де:
Кі=Рвідн/0,85, якщо Рвідн<0,85;
Кі=1-Рвідн/0,85, якщо Рвідн>0,85;
Ротн=Ртек/Рmax;
Ртек є [Рнас; Рmax]; Рнас <Ртек<Рmax; Pнас<Pопт<Pmax;
- вірогідність j-ої гіпотези;
- коефіцієнт значимості (інформативності) і-ої ознаки, характерної для j-ої гіпотези, будь-яке дійсне число;
Ki - коефіцієнт присутності (1) чи відсутності (0) і-ої ознаки, характерної для j-ої гіпотези в ситуації, що спостерігається, Ki є [0;1] (дорівнює значенню з інтервалом від 0 до 1), фактично є функцією бажаності;
Рвідн - відносна щільність суміші в ливарній формі, в.о.;
Ртек - щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
Рmax - максимальна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
Рнас - насипна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
Ропт - оптимальна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3,
після цього здійснюють облік всіх ознак, властивих кожній прогностичній гіпотезі, в т.ч. частинних ознак, характерних для окремих прогностичних гіпотез, при цьому ознаки не характерні для прогностичних гіпотез, не враховують.
Текст
Спосіб прогнозування дефектів виливків шляхом підрахунку ознак, що спостерігаються, який відрізняється тим, що проводять повний якісний і кількісний аналіз усіх прогностичних гіпотез, їх ймовірну оцінку аж до визначення 100% імовірності за формулою: де: Кі=Рвщн/0,85, якщо РВідн0,85; Ротн=Ртек'Ртах, Ртек Є [Рнас! Ртах]; Рнас
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for predicting casting defects
Автори англійськоюSamarai Valerii Petrovych, Dovbysh Nina Oleksandrivna, Samarai Roman Valeriovych
Назва патенту російськоюСпособ прогнозирования дефектов отливок
Автори російськоюСамарай Валерий Петрович, Довбиш Нина Александровна, Самарай Роман Валерьевич
МПК / Мітки
МПК: B22C 9/00, A61B 5/00, A61B 1/00
Мітки: прогнозування, спосіб, дефектів, виливків
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/4-11506-sposib-prognozuvannya-defektiv-vilivkiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб прогнозування дефектів виливків</a>
Попередній патент: Спосіб прогнозування дефектів виливків
Наступний патент: Спосіб лікування гострих кишкових інфекцій у дітей
Випадковий патент: Лікарський засіб седативної дії у формі м'яких жувальних капсул