Спосіб прогнозування дефектів виливків
Номер патенту: 14953
Опубліковано: 15.06.2006
Автори: Авдокушин Володимир Павлович, Довбиш Ніна Олександрівна, Калінін Владислав Сальович, Самарай Валерій Петрович, Самарай Роман Валерійович
Формула / Реферат
Спосіб прогнозування дефектів виливків шляхом підрахунку ознак, що спостерігаються, який відрізняється тим, що проводять повний якісний і кількісний аналіз усіх прогностичних гіпотез, їх ймовірну оцінку аж до визначення 100% імовірності за формулою:
,
де: ,
,
,
- вірогідність j-ої гіпотези;
- коефіцієнт значимості (інформативності) і-ої ознаки, характерної для j-oї гіпотези; будь-яке дійсне число;
- коефіцієнт значимості (інформативності) і-ої ознаки, не характерної для j-oї гіпотези; будь-яке дійсне число;
- коефіцієнт присутності (1) чи відсутності (0) і-ої ознаки, характерної для j-oї гіпотези в ситуації, що спостерігається,
є [0; 1] (дорівнює значенню інтервалу від 0 до 1), фактично є функцією бажаності;
- коефіцієнт присутності (1) чи відсутності (0) і-ої ознаки, не характерної для j-ої гіпотези в ситуації, що спостерігається,
є [0; 1] (дорівнює значенню інтервалу від 0 до 1), фактично є функцією бажаності;
- щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
- максимальна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
- насипна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
- оптимальна щільність суміші в ливарній формі, кг/м3;
після цього здійснюють облік всіх ознак, властивих кожній прогностичній гіпотезі, в т.ч. приватних ознак, характерних для окремих прогностичних гіпотез, при цьому враховують ознаки, не характерні для прогностичних гіпотез.
Текст
Спосіб прогнозування дефектів виливків шляхом підрахунку ознак, що спостерігаються, який відрізняється тим, що проводять повний якісний і кількісний аналіз усіх прогностичних гіпотез, їх ймовірну оцінку аж до визначення 100% імовірності за формулою: 14953 1 3 Pj 100 N ( AijKi ) i 1 14953 N (BijLi ) i 1 N ( Aij ) i 1 де: Pj - вірогідність j-ой гіпотези; Аij - коефіцієнт значимості (інформативності) іго признака характерного для j-ой гіпотези; будьяке річовинне число; Вij - коефіцієнт значимості (інформативності) іго признака, нехарактерного для j-ой гіпотези; будь-яке річовинне число; Lі - коефіцієнт присутності (1) чи відсутності (0) і-го признака, нехарактерного для j-ой гіпотези в ситуації, що спостерігається, (дорівнює виключно 1 або 0 згідно з двоїчною системою); Кі - коефіцієнт присутності (1) чи відсутності (0) і-го признака, характерного для j-ой гіпотези у спостерігаємої ситуації (дорівнює виключно 1 або 0 згідно з двоїчною системою). В основу корисної моделі поставлена задача створити такий спосіб, який дозволить підвищити якість і точність розпізнавання образів, диференціальних прогнозування і діагностики, прийняття рішень в експертних системах, аналізу інформації, приватних прогнозування і діагностики, моделювання складних ситуацій, видачі рекомендацій, прогнозування, постановки остаточних прогнозу і діагнозу, а також врахувати функцію бажаності оптимального ущільнення форми, одночасно змінити двоїчну (дискретну) систему області значень ознак на аналогову безперервну систему представлення значень ознак в інтервалі [0; 1] і надати можливість самої функції вірогідності прогнозу дефектів приймати вигляд не ступінчастий, а монотонний і безперервний з плавними переходами. Поставлену задачу вирішують тим, що проводять одночасно повний якісний і кількісний аналіз усіх можливих прогностичних гіпотез; імовірну оцінку всіх прогностичних гіпотез аж до визначення 100% імовірності; облік всіх ознак, властивих кожній прогностичній гіпотезі, в т.ч. приватних ознак, характерних окремим прогностичним гіпотезам. Головною відмінністю від відомого способу є те, що автори пропонують, проводити повний якісний і кількісний аналіз усіх прогностичних гіпотез, ймовірну оцінку всіх прогностичних гіпотез, аж до визначення 100% імовірності за формулами: Pj 100 N ( AijKi ) i 1 N (BijLi ) i 1 N ( Aij ) i 1 де: Кі=(Ртек-Рнас)/(Рmax-Рнас), Li=(Ртек-Рнас)/(Рmax-Рнас), Ртек є Рнас; Рmax , Рнас
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for predicting casting defects
Автори англійськоюSamarai Valerii Petrovych, Dovbysh Nina Oleksandrivna, Samarai Roman Valeriovych
Назва патенту російськоюСпособ прогнозирования дефектов отливок
Автори російськоюСамарай Валерий Петрович, Довбиш Нина Александровна, Самарай Роман Валерьевич
МПК / Мітки
Мітки: прогнозування, спосіб, виливків, дефектів
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/4-14953-sposib-prognozuvannya-defektiv-vilivkiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб прогнозування дефектів виливків</a>
Попередній патент: Похідні імідазоліну як інгібітор корозії чорних металів
Наступний патент: Спосіб прогнозування дефектів виливків
Випадковий патент: Фармацевтичні та/або дієтичні композиції на основі коротколанцюгових жирних кислот