Пристрій для контролю біморфних п’єзоелементів
Номер патенту: 20940
Опубліковано: 15.02.2007
Автори: Шарапов Валерій Михайлович, Раєвський Микола Володимирович
Формула / Реферат
Пристрій для контролю біморфних п'єзоелементів, що містить генератор електричних коливань та вимірювальний пристрій, який відрізняється тим, що пристрій додатково містить послідовний коливальний контур із трансформаторним зв'язком, причому як генератор електричних коливань використаний генератор імпульсних коливань, а вимірювальний пристрій складається із порогового пристрою, формувача імпульсів та лічильника, а загальний провід контуру з'єднаний з біморфним п'єзоелементом, що контролюють.
Текст
Пристрій для контролю біморфних п'єзоелементів, що містить генератор електричних коли 3 20940 4 Пристрій для контролю біморфних п'єзоелених характеристик біморфних п'єзоелементів. ментів містить генератор імпульсних коливань 1, Приклад практичного використання. послідовний коливальний контур із трансформаБув виго товлений пристрій, який складається торним зв'язком 2 та вимірювальний пристрій, що із послідовного коливального контура із трансфоскладається із порогового пристрою 3, формувача рматорним зв'язком, виконаного на котушці індукімпульсів 4 та лічильника 5, причому загальний тивності Р104786, генератора імпульсних колиелектрод контура підключено до біморфного п'євань Г5-72, вимірювального пристрою, що золемента 6, що контролюється. складається з порогового пристрою, формувача Пристрій для контролю біморфних п'єзоелеімпульсів та лічильника, міллівольтметра В3-38, ментів працює наступним чином. осцилографа С1-55 та біморфного п'єзоелемента При підключенні до послідовного коливальноЗП-13, що контролюється. Функції порогового приго контура 2 генератора імпульсних коливань 1, в строю 3, формувача імпульсів 4 та лічильника 5 біморфному п'єзоелементі 6, що контролюється, виконує частотомір 43-57, який містить вхідний виникають коливання, причому форма коливань пристрій з регулюванням чутливості, підсилювач залежить від дефектів в біморфному п'єзоелементі та лічильник, які виконують функції порогового 6. Криві, які зображені на Фіг.2-4, відповідають депристрою, формувача імпульсів та лічильника. фектам, що виникають в п'єзоелементі. Крива, яка Результати вимірювань перехідних характеризображена на Фіг.5, відповідає біморфному п'єзостик пристрою для контроля біморфних п'єзоелеелементу, придатному до використання. ментів показані на Фіг.2-5. Як показали досліди, пристрій, що заявляєтьРезультати вимірювань кількості імпульсів, які ся, дозволяє спростити процедуру контролю якісперевищують заданий рівень, наведені в табл. Таблиця Вид дефекту Кількість коливань, N (N=fСЛ×N0, де fСЛ - частота слідування імпульсів; N0 - кількість коливань за один період, причому fСЛ =1кГц) 1. Розрив в колі біморфного п'єзоелемента (Фіг.2) 2. Коротке замкненне в біморфному п'єзоелементі (Фіг.3) 3. Відсутность поляризації матеріала біморфного п'єзоелемента (Фіг.4) 4. Придатний до використання біморфний п'єзоелемент (Фіг.5) Як показали досліди (див.Фіг.2-5, табл.), введення в пристрій послідовного коливального контуру із трансформаторним зв'язком та використання в якості генератора електричних коливань генератора імпульсних коливань і вимірюючого 2000 4000 14000 22000 пристрою, що складається із порогового пристрою, формувача імпульсів та лічильника, дозволяє спростити процедуру контролю якісних характеристик біморфних п'єзоелементів по формі коливань (Фіг.2-5) чи по кількості коливань (табл.). 5 20940 6 7 Комп’ютерна в ерстка Л. Купенко 20940 8 Підписне Тираж 26 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюDevice for testing a bimorph piezoelectric element
Автори англійськоюSharapov Valeriy Mykhaylovych
Назва патенту російськоюУстройство для контроля биморфного пьезоэлектрического элемента
Автори російськоюШарапов Валерий Михайлович
МПК / Мітки
МПК: H04R 31/00
Мітки: контролю, біморфних, п'єзоелементів, пристрій
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/4-20940-pristrijj-dlya-kontrolyu-bimorfnikh-pehzoelementiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для контролю біморфних п’єзоелементів</a>
Попередній патент: Пристрій для розділення сипких матеріалів
Наступний патент: Пристрій для контролю біморфних п’єзоелементів
Випадковий патент: Датчик для виміру швидкості деформації середовища smsr-1