Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

(57) Способ определения остаточного ресурса электронно-лучевых трубок, включающий двухкратное последовательное определение давления остаточных газов по результатам измерения суммарного тока колектора электронно-лучевой трубки при установившемся электронном токе и тока утечки, отличающийся тем, что предварительно производят форсированный нагрев катода электронно-лучевой трубки до температуры 900-1000°С путем подачи повышенного напряжения на подогреватель катода в течение половины временного интервала готовности электронно-лучевой трубки, определение давления остаточных газов производят непосредственно, после и через 30-50 с после форсированного нагрева катода электронно-лучевой трубки, а остаточный ресурс электронно-лучевой трубки определяют из соотношений:

Tо.p. =  

К = (2,5-4,5)·10-3ч.мм рт.ст.

Р1-К(Іε-Іут).

Где  To.p. - величина остаточного ресурса электронно-лучевой трубки;

        Рр, Ро и P1 - давление остаточных газов в. рабочем режиме непосредственно, после и через 30-50 с после форсированного нагрева катода электронно-лучевой трубки, соответственно;

Іε, Іут - суммарный ток коллектора и ток утечки электронно-лучевой трубки, соответственно.

Текст

Способ определения остаточного ресурса электронно-лучевых трубок, включающий двухкратное последовательное определение давления остаточных газов по результатам измерения суммарного тока коллектора электронно-лучевой трубки при установившемся электронном токе и тока утечки, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что предварительно производят форсированный нагрев катода электронно-лучевой трубки до температуры 900-1000°С путем подачи повышенного напряжения на подогреватель катода в течение половины временного интервала готовности электронно-лучевой трубки, определение давления остаточных газов производят непосредственно, после и через 30-50 с после форсированного нагрева катода электронно-лучевой трубки, а остаточный ресурс электронно-лучевой трубки определяют из соотношений: і о.p. - w~ 1Пр- , К = (2,5-4,5)-10*3ч.мм рт.ст. Рі-К(Іс-Іут). где Top. - величина остаточного ресурса электронно-лучевой трубки; Рр, Ро и Pi - давление остаточных газов в. рабочем режиме непосредственно, после и через 30-50 с после форсированного нагрева катода электронно-лучевой трубки, соответственно; І£, Іут - суммарный ток коллектора и ток утечки электронно-лучевой трубки, соответственно. с > о о о Изобретение относится к производству электронно-вакуумных приборов, а именно к методам испытания и прогнозирования долговечности электронно-лучевых трубок ЭЛТ, в т.ч. после длительного срока хранения. При достаточно хорошей герметичности оболочки ЭЛТ скорость изменения давления остаточных газов dP/dt определяется скоростью газовыделения внутренних элементов ЭЛТ dQ/dt и скоростью поглощения этих газопоглотителем и внутренними поверхностями d є/б t, причем высокая работоспособность ЭЛТ обеспечивается, если скорость поглощения газов выше скорости газовыделения, т.е. d £/dt > dQ/dt. Определение этого 9909 ности определить остаточный ресурс прибосоотношения является существенным для ра. ЭЛТ в ЗИПах или на складах при производстве, т.к. в процессе хранения происходит Задача изобретения - повышение допотеря сорбционной емкости газопоглотистоверности способа. теля и соответственно срока службы прибо- 5 В предлагаемом способе определения ра. остаточного ресурса ЭЛТ, включающем Известен способ определения долговечдвухкратное последовательное определености прибора по предельному давлению ние давления остаточных газов по результаостаточных газов [1]. Долговечность по этотам измерения суммарного тока коллектора му способу определяется из соотношения: 10 ЭЛТ при установившемся электронном токе и тока утечки, согласно изобретению, предварительно производят форсированный нагде V - объем прибора; грев катода ЭЛТ до температуры Q - количество натекшего газа; 900-1000°С путем подачи повышенного наРпр. - предельное давление остаточных 15 пряжения на подогреватель катода в течегазов, при котором еще сохраняется работоние половины временного интервала способность прибора. готовности ЭЛТ, определение давления осНедостатком этого способа является то, таточных газов производят непосредственчто не учитывается сорбционная способно, после и через 30-50 с после ность газопоглотителя и внутренние газовы- 20 форсированного нагрева катода электронделения ЭЛТ. но-лучевой трубки, а остаточный ресурс электронно-лучевой трубки' определяют из Наиболее близким техническим решесоотношений: ние, выбранным в качестве прототипа, является способ испытания ЭЛТ [2], который То.р. - р— ' п р т •. заключается в измерении давления остаточ- 25 ных газов ЭЛТ на 1 и 11 испытаниях. ИспольR = (2,5-4,5)-1 О*3, ч.мм рт.ст., зуется при испытаниях на срок службы, а Рі-К(і2-Іут). также при анализах причин отказов ЭЛТ. где То.р. - величина остаточного ресурса Давление остаточных газов определяется по электронно-лучевой трубки, формуле: 30 Рр, Ро и Pi - давление остаточных газов Р = К -li + . в рабочем режиме непосредственно, после где Р - давление остаточных газов; и через 30-50 с после форсированного наІІ + - ток положительных ионов; грева катода электронно-лучевой трубки соК - коэффициент, зависящий от констответственно, рукции ЭОС электронно-лучевой трубки. 35 12,1Ут - суммарный ток коллектора и ток Измерения давления остаточных газов утечки электронно-лучевой трубки, соответпроизводят после прогрева ЭЛТ и установственно. ления электронного тока согласно таблицы Сущность заявляемого способа испытазначений в нормативно-технической докуния ЭЛТ заключается в определении сорбментации для каждого типа ЭЛТ. 40 ционного ресурса газопоглотителя и соответственно прибора по скорости поглоИонный ток li + определяют как разницу щения газов после кратковременного нагремежду суммарным током коллектора IX изва катода. При хранении ЭЛТ катодно-подогревательный узел и прежде меряемой при установившемся электронном токе и током утечки 1ут, измеряемом в 45 всего оксидное покрытие катода сорбирует остаточные газы и при их десорбции нагрецепи коллектора при запертой ЭЛТ. Роль вом давление в приборе резко повышается. коллектора выполняет один из электродов Если сорбционная активность и емкость гаЭЛТ. зопоглотителя высокая, то после отключеОбработка приборов по давлению остаточных газов ведется по нормам, установ- 50 ния нагрева катода вакуум в приборе повышается. Скорость падения давления осленным в нормативно-технической таточных газов является мерой остаточного документации. ресурса газопоглотителя и соответственно Недостатком данного способа является прибора. то, что измерение давления остаточных гаПризнак о температуре нагрева катода зов производится однократно в статическом 55 до 900-1000°С выбран исходя из необходирежиме без оценки его изменения при сомости получения газового взрыва, т.е. полздании форсированного гажения элементов ной дегазации катодно-подогревательного ЭЛТ и учета поглощения выделившихся гаузла. зов газопоглотителем, что не дает возмож 9909 Признак о времени нагрева катода выбран исходя из конструктивных особенностей ЭЛТ, т.е. массивности катодно-подогревательного узла. Время готовности ЭЛТ составляет 7-15 с. Поскольку 5 дегазация катода на начальном этапе производится при температуре выше рабочей, то рост температуры катода проходит быстрее и время дегазации принимаем равным 0,5 готовности катода. 10 Соотношение определения остаточного ресурса прибора по данным измерения изменения давления остаточных газов (То.р. = 9,0 В в течение 10 с. Затем ЭЛТ включается в номинальный режим подогрева катода (U H - 6,3 В) и при этом производится измерение начального давления остаточных газов Ро и давления Pi через 40 с. Давление Рр измерялось после включения прибора в номинальный режим и засветки экрана лучом. Результаты измерений и расчетов остаточного ресурса ЭЛТ сведены в таблицу 1. Как видно из таблицы в приборах N? 2 и № 5 после дегазации давление в них почти не понизилось, следовательно ресурс газопоглотителя уже израсходован и долговечность прибора в таких вакуумных условиях К Pov ==р— In-p-) получено экспериментально. Точ- 15 будет низкой (соответственно 953 ч и 402 ч). Приборы N? 1 и f\b 3 имеют высокий коность полученных результатов для конкретнечный вакуум и большой перепад давления ного типа Э Л Т зависит от величины после прогрева катода. Соответственно они коэффициента К, которая установлена на осимеют высокий остаточный ресурс (12530 ч нове обработки статического материала. 20 и 7000 ч соответственно). Пример: Опробование способа было Использование предлагаемого способа проведено на осциллографических ЭЛТ тииспытания электронно-лучевых трубок обеспа 11ЛО5В, 17ЛО5В, 17104И после 2-х лет печивает повышение надежности и уменьхранения. Перед началом измерения давлешение отказов при эксплуатации ЭЛТ после ния остаточных газов и тока эмиссии на по- 25 хранения. догреватель катода подается напряжение К = 3,5 -10"3ч.ммрт.ст. PP. пп Ро, Pi. мм рт. ст. мм рт. ст. 5-Ю' 7 4-Ю' 6 7 8-Ю" 6 2-Ю' 1 _ 2 3 4 мм рт. ст. 4-Ю*6 8-Ю"6 6-Ю'6 3-Ю"5 9-Ю"6 8-Ю*6 5-Ю"6 1-Ю"6 5-Ю'6 7-Ю'6 e-io"6 5 Упорядник Замовлення 4557 Техред М.Моргентал In Ро То. р. P l 1,79 1,09 1,60 2,07 0,69 12530 953 7000 3605 402 Коректор Н.МІлюкова Тираж Підписне Державне патентне відомство УкраТни, 254655. ГСП, КиТв-53, Львівська пл., 8 Відкрите акціонерне товариство "Патент", м. Ужгород, вул.ГагарІна, 101

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Determination method for diasplay tube deadbeat electron current

Автори англійською

Herasymovych Mykhailo Vasyliovych, Duma Ivan Mykhailovych, Kozak Mylhailo Mykhailovych, Stasiuk Zynovii Vasyliovych

Назва патенту російською

Спосою определения остаточного ресурса электронно-лучевых трубок

Автори російською

Герасимович Михаил Васильевич, Дума Иван Михайлович, Козак Михаил Михайлович, Стасюк Зиновий Васильевич

МПК / Мітки

МПК: H01J 9/42

Мітки: ресурсу, залишкового, спосіб, трубок, визначення, електронно-променевих

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/4-9909-sposib-viznachennya-zalishkovogo-resursu-elektronno-promenevikh-trubok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення залишкового ресурсу електронно-променевих трубок</a>

Подібні патенти