Установка для рентгенофлуоресцентного контролю речовинного складу сипких матеріалів

Установка для рентгенофлуоресцентного контролю речовинного складу сипких матеріалів, яка складається з пристрою для загрузки матеріалу, горизонтального обертаючого диску з кільцевою 32798 вальну камеру розміщують на вер хньому нерухомому диску з тро хи піднятого боку. На фіг. 1 показана схема установки для рентгенофлуоресцентного контролю речовинного складу сипких матеріалів; на фіг. 2 - те саме, вигляд зверху. Установка складається з бункеру 1, обертаючого диску 2, рентгенівської трубки 3, нижнього нерухомого диску 4, верхнього нерухомого диску 5, спектрометричної головки 6 (їх може бути кілька), реєструючого детектора 7, перерахункового пристрою 8, редуктора 9, електричного двигуна 10. Для подачі інертного легкого газу у вимірювальну камеру 11, яка розміщена на верхньому нерухомому диску 5, використовується штуцер 12. Верхній нерухомий диск 5 з нижнього боку і нижній нерухомий диск 4 з верхнього боку мають заглибини, у які розміщують диск 2, що обертається. Диск 2 має кільцеву заглибину для проби, що аналізується. Система дисків установлена під кутом 25-30 градусів відносно горизонтальної площини. Це необхідно для того, щоб інертний газ, який подається через штуцер 12, постійно заповнював би вимірювальну камеру незалежно від того, який зразок з допомогою обертаючого диску 2 вводиться у цю камеру. Це дозволяє також підтримувати постійним тиск інертного газу у вимірювальній камері і зменшує його витрати. Для вирівнювання і ущільнення проби, що поступає з бункеру у кільцеву заглибину обертаючого диску 2, застосовується ущільнюючий ролик 13. Збирання проби з кільцевої заглибини рухомого диску 2 після її аналізу проводиться через отвір 14 відсосом за допомогою інжекторного пристрою 15. Установка для рентгенофлуоресцентного контролю речовинного складу сипких матеріалів працює таким чином. Порошкова проба через нижній отвір бункеру 1 надходить у кільцеву заглибину обертаючого диску 2, вирівнюється і ущільнюється роликом 13. Підготовлені таким чином зразки безперервно надходять у вимірювальну камеру 11, де опромінюються рентгенівськими променями від рентгенівської трубки 3. Характеристичне рентгенівське випромінювання визначуваного елемента потрапляє через спектрометричну головку 6 у детектор 7, де перетворюється у електричні імпульси. Підсилені електричні імпульси поступають у перерахунковий пристрій 8. Після аналізу проба з вимірювальної камери виводиться тим же обертаючим диском 2 і через отвір 14 збирається інжекторним пристроєм 15. Запропонована установка для рентгенофлуоресцентного контролю речовинного складу сипких матеріалів, у якій обертаючий диск з аналізуючою пробою розміщують у заглибині між двома нерухомими дисками і установлюють під кутом 25-30 градусів відносно горизонтальної площини, а вимірювальну камеру, рентгенівську трубку і штуцер для подачі легкого інертного газу у вимірювальну камеру закріплюють на верхньому нерухомому диску з трохи піднятого боку, дозволяє розширити можливості установки при аналізі легких елементів кристал-дифракційним рентгенофлуоресцентним методом і практично забезпечує аналізи на легкі елементи бездифракційним рентгенофлуоресцентним методом, застосовуючи при цьому парний канал. Конструкція установки дозволяє підтримувати у вимірювальній камері постійний тиск інертного газу, завдяки чому підвищується точність рентгенофлуоресцентного аналізу. Вона дозволяє також зменшити витрати цього газу під час проведення аналізу. 2 32798 Фіг. 1 3 32798 Фіг. 2 4 32798 __________________________________________________________ ДП "Український інститут промислової власності" (Укрпатент) Україна, 01133, Київ-133, бульв. Лесі Українки, 26 (044) 295-81-42, 295-61-97 __________________________________________________________ Підписано до друку ________ 2001 р. Формат 60х84 1/8. Обсяг ______ обл.-вид. арк. Тираж 50 прим. Зам._______ ____________________________________________________________ УкрІНТЕІ, 03680, Київ-39 МСП, вул. Горького, 180. (044) 268-25-22 ___________________________________________________________ 5