Спосіб автоматичного вимірювання комплексного коефіцієнта відбиття лінійних елементів мікрохвильових трактів

Номер патенту: 43959

Опубліковано: 15.09.2004

Автори: Гімпілевич Юрій Борисович, Вертегел Валерій Вікторович

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Спосіб автоматичного вимірювання комплексного коефіцієнта відбиття лінійних елементів мікрохвильових трактів, що полягає в формуванні високочастотних сигналів у чотирьох плечах каліброваного дванадцятиполюсника, до двох інших пліч якого підключені джерело зондувального гармонічного сигналу і вимірюваний лінійний елемент, і розрахунку реальної і уявної частин комплексного коефіцієнта відбиття  за формулами , , який відрізняється тим, що вимірюють різниці фаз  між одним з високочастотних сформованих сигналів і трьома іншими і розраховують параметри , ,  за формулами:

;

;

,

де ,

- постійні величини, що визначаються під час калібрування;

i=1, 2, 3; n=1…7.

Текст

Спосіб автоматичного вимірювання комплексних параметрів мікрохвильових пристроїв, що полягає в формуванні високочастотних сигналів за допомогою каліброваного дванадцятиполюсника, до якого підключені джерело зондуючого гармонічного сигналу і вимірюючий пристрій, який відрізняється тим, що вимірюють різниці фаз^>

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for automatically measuring complex parameters of microwave devices

Автори англійською

Himpelevych Yurii Borysovych, Vertehel Valerii Viktorovych

Назва патенту російською

Способ автоматического измерения комплексных параметров сверхвысокочастотных устройств

Автори російською

Гимпилевич Юрий Борисович, Вертегел Валерий Викторович

МПК / Мітки

МПК: G01R 27/04

Мітки: коефіцієнта, відбиття, трактів, лінійних, мікрохвильових, вимірювання, елементів, спосіб, комплексного, автоматичного

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/5-43959-sposib-avtomatichnogo-vimiryuvannya-kompleksnogo-koeficiehnta-vidbittya-linijjnikh-elementiv-mikrokhvilovikh-traktiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб автоматичного вимірювання комплексного коефіцієнта відбиття лінійних елементів мікрохвильових трактів</a>

Подібні патенти