Спосіб автоматичного вимірювання комплексного коефіцієнта відбиття лінійних елементів мікрохвильових трактів
Номер патенту: 43959
Опубліковано: 15.09.2004
Автори: Гімпілевич Юрій Борисович, Вертегел Валерій Вікторович
Формула / Реферат
Спосіб автоматичного вимірювання комплексного коефіцієнта відбиття лінійних елементів мікрохвильових трактів, що полягає в формуванні високочастотних сигналів у чотирьох плечах каліброваного дванадцятиполюсника, до двох інших пліч якого підключені джерело зондувального гармонічного сигналу і вимірюваний лінійний елемент, і розрахунку реальної і уявної частин комплексного коефіцієнта відбиття за формулами
,
, який відрізняється тим, що вимірюють різниці фаз
між одним з високочастотних сформованих сигналів і трьома іншими і розраховують параметри
,
,
за формулами:
;
;
,
де ,
- постійні величини, що визначаються під час калібрування;
i=1, 2, 3; n=1…7.
Текст
Спосіб автоматичного вимірювання комплексних параметрів мікрохвильових пристроїв, що полягає в формуванні високочастотних сигналів за допомогою каліброваного дванадцятиполюсника, до якого підключені джерело зондуючого гармонічного сигналу і вимірюючий пристрій, який відрізняється тим, що вимірюють різниці фаз^>
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for automatically measuring complex parameters of microwave devices
Автори англійськоюHimpelevych Yurii Borysovych, Vertehel Valerii Viktorovych
Назва патенту російськоюСпособ автоматического измерения комплексных параметров сверхвысокочастотных устройств
Автори російськоюГимпилевич Юрий Борисович, Вертегел Валерий Викторович
МПК / Мітки
МПК: G01R 27/04
Мітки: коефіцієнта, відбиття, трактів, лінійних, мікрохвильових, вимірювання, елементів, спосіб, комплексного, автоматичного
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/5-43959-sposib-avtomatichnogo-vimiryuvannya-kompleksnogo-koeficiehnta-vidbittya-linijjnikh-elementiv-mikrokhvilovikh-traktiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб автоматичного вимірювання комплексного коефіцієнта відбиття лінійних елементів мікрохвильових трактів</a>
Попередній патент: Пристрій для випромінювання заряджених частинок, зварювальний апарат та пристрій для одержання пучка заряджених частинок
Наступний патент: Спосіб одержання похідних заміщеного 2-нітрогуанідину
Випадковий патент: Стопорне пружне кільце