Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Матеріал для інтерференційних покриттів, що містить MnIn2S4, який відрізняється тим, що додатково містить германій елементний при наступному співвідношенні компонентів, мас. %:

MnIn2S4

73,0¸75,0

германій елементний

25,0¸27,0.

Текст

Реферат: Матеріал для інтерференційних покриттів містить MnIn2S4 та германій елементний при наступному співвідношенні компонентів, мас. %: MnIn2S4 73,075,0 германій елементний 25,027,0. UA 97937 U (54) МАТЕРІАЛ ДЛЯ ІНТЕРФЕРЕНЦІЙНИХ ПОКРИТТІВ UA 97937 U UA 97937 U 5 10 15 20 25 30 35 40 45 Корисна модель належить до оптичного приладобудування, а саме до інтерференційної оптики. Відомий матеріал MnIn2S4 для інтерференційного покриття, що наносять резистивним випаровуванням у вакуумі, який має показник заломлення 2,53,0 в інтервалі довжин хвиль 5002000 нм та є прозорим у діапазоні 0,7-28 мкм (див. Zinchenko V. Complex chalcogenides as prospective materials for optical coatings // Functional Materials.-2000.-V.7, №2.-P.353.-355.). Відомий матеріал вибраний як найближчий аналог матеріалу для інтерференційних покриттів. Спільними ознаками у найближчого аналога та корисної моделі, що заявляється, є високий показник заломлення (до 3,0) та область оптичної прозорості (14 діапазон), а також спосіб нанесення покриття (резистивне випаровування у вакуумі). Але матеріал MnIn2S4 при випаровуванні утворює покриття з не надто високим показником заломлення. В основу корисної моделі поставлено задачу створити матеріал з більш високим (понад 3,1) показником заломлення для інтерференційних покриттів, а на його основі отримати відповідне одношарове покриття, до складу якого входить вказаний матеріал, що має таку ж або більшу механічну міцність. Поставлена задача вирішується в матеріалі для інтерференційних покриттів на основі композиту, що містить MnIn2S4, тим, що він додатково містить германій елементний, при наступному співвідношенні компонентів, мас. %: MnIn2S4 70,075,0 германій елементний 25,030,0. Тонкоплівкове одношарове покриття, яке виконане з матеріалу, що заявляється, має показник заломлення 3,11 при 1000 нм та механічну міцність понад 6000 обертів (група 0). Досягнення заявленого технічного результату можна пояснити наступним. У процесі термічного випаровування відбувається взаємодія MnIn2S4 з Ge за схемою: MnIn2S4+2Ge  MnS+In2S + 2GeS. Завдяки цій реакції утворюються легколеткі речовини (In 2S та GeS), що переходять у газуватий стан. При цьому вони додатково очищуються від малолетких домішок, зокрема GeO 2. При конденсації на підкладці при нижчій температурі частково відбувається зворотний процес: In2S+GeS  In2S3+Ge, продукти якого утворюють склоподібне покриття, яке при нагріванні перетворюється на нанокомпозит. Новим у корисній моделі є те, що матеріал для інтерференційних покриттів на основі MnIn2S4 додатково містить германій елементний, при наступному співвідношенні названих компонентів, мас. %: MnIn2S4 73,075,0 германій елементний 25,027,0. Матеріал для інтерференційних покриттів готують наступним чином: зразки системи MnIn2S4-Ge синтезують шляхом спікання при 600-620 °C в інертній атмосфері (Аr) попередньо розтертих та спресованих у таблетки компонентів - MnIn2S4 та елементного германію. MnIn2S4, в свою чергу, готують шляхом стоплення з елементних мангану, індію та сульфуру, узятих у стехіометричному співвідношенні, в запаяній й евакуйованій ампулі з кварцового скла. За даними РФА, зразки матеріалу для інтерференційних покриттів є гетерофазними і містять в основному MnIn2S4 (гексагональна сингонія) та германій. Приклад 1 Одержали матеріал для інтерференційних покриттів, як описано вище. Компоненти брали при наступному співвідношенні, мас. %: MnIn2S4 73,0 германій елементний 27,0. Приклад 2 Одержали матеріал для інтерференційних покриттів, як описано вище. Компоненти брали при наступному співвідношенні, мас. %: MnIn2S4 75,0 германій елементний 27,0. Приклад 3 Одержали матеріал для інтерференційних покриттів, як описано вище. Компоненти брали при наступному співвідношенні, мас. %: MnIn2S4 74,0 германій елементний 26,0. 1 UA 97937 U 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 Це співвідношення відповідає стехіометрії за цілковитого перебігу реакції з утворенням летких продуктів при термічному випаровуванні суміші. При певному надлишку компонентів вони залишаються не випаруваними, що робить процес менш ефективним. Крім того, надлишок MnIn2S4 призводить до потреб у зміні режиму випаровування через меншу леткість MnS, одного з компонентів MnIn2S4. У той же час незначні відхилення від стехіометрії (у середньому ±1,0 мас. %) не позначаються суттєво на ефективності процесу. Приклад 4 Одношарове покриття з матеріалу, що заявляється, готують наступним чином: у ванночку з молібденової фольги випарника закладають таблетку, яка містить 74,0 мас. % MnIn2S4+26,0 мас. % Ge. Оптичну деталь зі знежиреними поверхнями встановлюють у гніздо підкладкоутримувача, а контрольну пластину зі знежиреними поверхнями встановлюють у гніздо фотометричного пристрою для контролю товщини шарів. Зачиняють вакуумну камеру та розпочинають відкачку з -3 неї повітря. Коли у камері досягнуто вакуум 1•10 Па, вмикають обігрівання підкладок (ТЕН або інфрачервоні лампи); камера розігрівається до 150 °C та утримується при цій температурі протягом 1 години (температура у камері контролюється за допомогою термопари, яка розміщена поблизу поверхні оптичної деталі, на яку буде нанесено покриття). Вмикають живлення на випарнику і розігрівають ПУМ до розтопленого стану; витримують розтоп під захисним екраном, доки не стабілізується тиск у вакуумній камері, після чого відводять захисний екран від випарника. За допомогою фотометричного пристрою контролюють товщину шару, який утворюється на контрольній пластині; коли показання фотометричного пристрою свідчать, що досягнута потрібна товщина шару, вимикають живлення на випарнику і переводять захисний екран в положення над випарником. Процес термічного випаровування у вакуумі проводиться за наступними параметрами: - спосіб нагрівання - резистивний; - сила струму - 85-100 (наприкінці процесу) А; -3 - вакуум у камері ВУ-1А - 1•10 Па; - температура підкладки - 100 °C; - швидкість нанесення плівкового шару - 58-60 нм/хв. Параметри одношарових плівкових покриттів (фізична товщина 409 нм): - n (показник заломлення при λ = 1000 нм) - 3,11; - Η (механічна міцність) - понад 6000 обертів; - чистка серветкою зі спиртом - витримує; - тривкість до вологої атмосфери - витримує; - тривкість до термоудару - витримує. Структура покриття - рентгеноаморфне. Механічну міцність покриттів визначають стиранням обгорнутою батистовою тканиною гумовим наконечником на приладі СМ-55; робоча частина наконечника має бути закруглена за сферою радіусом 3 мм. Режим випробування: - навантаження на стираючий наконечник - 200 г; - частота обертання деталі з покриттям - 500 об/хв.; - відстань від осі обертання деталі до осі наконечника - 5 мм. Після випробувань на стирання поверхні деталі з покриттям продивляються у відбитому світлі на фоні чорного екрана при освітленні електролампою потужністю 60-100 Вт. Деталь вважають придатною, якщо немає наскрізної кільцевої суцільної або переривистої подряпини. Група механічної міцності визначається кількістю обертів, яке витримало покриття: 0 група - покриття допускає чистку батистовою серветкою із застосуванням спирту або спиртово-ефірної суміші і витримує не менш 3000 обертів на приладі СМ-55; 1 група - покриття допускає чистку батистовою серветкою із застосуванням спирту або спиртово-ефірної суміші і витримує не менш 2500 обертів на приладі СМ-55. Матеріал у покритті (див. приклад 4) має задовільні оптичні параметри (показник заломлення на рівні вимог - 3,11), а також механічну міцність 0 групи, що не тільки не поступається найближчому аналогові, а й перевищує його. ФОРМУЛА КОРИСНОЇ МОДЕЛІ Матеріал для інтерференційних покриттів, що містить MnIn2S4, який відрізняється тим, що додатково містить германій елементний при наступному співвідношенні компонентів, мас. %: MnIn2S4 73,075,0 германій елементний 25,027,0. 2 UA 97937 U Комп’ютерна верстка В. Мацело Державна служба інтелектуальної власності України, вул. Василя Липківського, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601 3

Дивитися

Додаткова інформація

Автори англійською

Zinchenko Viktor Fedosiiovych, Mahunov Ihor Robertovych, Sadkovska Liudmyla Vasylivna, Mozkova Olha Volodymyrivna

Автори російською

Зинченко Виктор Федосеевич, Магунов Игорь Робертович, Садковская Людмила Васильевна, Мозкова Ольга Владимировна

МПК / Мітки

МПК: G02B 5/28

Мітки: інтерференційних, матеріал, покриттів

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/5-97937-material-dlya-interferencijjnikh-pokrittiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Матеріал для інтерференційних покриттів</a>

Подібні патенти