Патенти з міткою «кюрі-вейсса»
Експрес-спосіб дослідження констант кюрі-вейсса в сегнетоелектричних кристалах
Номер патенту: 50233
Опубліковано: 15.10.2002
Автори: Герзанич Омелян Іванович, Шуста Володимир Семенович, Гуранич Павло Павлович, Кедюлич Віктор Михайлович, Кабаль Роман Васильович, Сливка Олександр Георгієвич
МПК: G01R 27/26
Мітки: сегнетоелектричних, констант, кристалах, дослідження, кюрі-вейсса, експрес-спосіб
Формула / Реферат:
Експрес-спосіб дослідження констант Кюрі-Вейсса в сегнетоелектричних кристалах, який включає визначення температурної константи Кюрі-Вейсса при постійному тиску та баричної константи Кюрі-Вейсса при постійній температурі і їх баричну та температурну зміну вздовж фазової р,Т-діаграми, який відрізняється...