Кабаль Роман Васильович
Експрес-спосіб дослідження констант кюрі-вейсса в сегнетоелектричних кристалах
Номер патенту: 50233
Опубліковано: 15.10.2002
Автори: Кедюлич Віктор Михайлович, Шуста Володимир Семенович, Кабаль Роман Васильович, Герзанич Омелян Іванович, Гуранич Павло Павлович, Сливка Олександр Георгієвич
МПК: G01R 27/26
Мітки: кристалах, констант, кюрі-вейсса, експрес-спосіб, сегнетоелектричних, дослідження
Формула / Реферат:
Експрес-спосіб дослідження констант Кюрі-Вейсса в сегнетоелектричних кристалах, який включає визначення температурної константи Кюрі-Вейсса при постійному тиску та баричної константи Кюрі-Вейсса при постійній температурі і їх баричну та температурну зміну вздовж фазової р,Т-діаграми, який відрізняється...