Білокінь Світлана Олександрівна

Номер патенту: 117635

Опубліковано: 26.06.2017

Автори: Білокінь Світлана Олександрівна, Тележинський Дмитро Віталійович, Антонюк Віктор Степанович, Бондаренко Максим Олексійович

МПК: G01N 19/04, G01N 3/46

Мітки: зносостійкості, тонких, покриттів, оцінки, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки зносостійкості тонких покриттів, що включає визначення значень критерію зносостійкості тонких покриттів, сформованих на твердих підкладинках за розмірами треку, що утворився при різних навантаженнях на досліджувану поверхню наноіндентера, як останній використано кремнієвий зонд конічної форми для атомно-силового мікроскопа, який відрізняється тим, що кремнієвий зонд додатково модифікують тонким вуглецевим покриттям, проводять...

Номер патенту: 115328

Опубліковано: 10.04.2017

Автори: Бондаренко Максим Олексійович, Бондаренко Юлія Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Антонюк Віктор Степанович, Білокінь Світлана Олександрівна

МПК: H05F 3/06, G06F 11/00

Мітки: пристроїв, пристрій, діагностування, запам'ятовуючих

Формула / Реферат:

Пристрій діагностування запам'ятовуючих пристроїв, згідно з яким контролюють параметри зовнішнього середовища, який включає вібродвигун, кварцові лампи, коротронний розрядник, а також датчики, вихід яких зв'язаний з процесором, який відрізняється тим, що створюють екстремальні умови за допомогою вітродвигуна, який разом з кварцовою лампою і коротронним розрядником входить до складу пристрою, причому вібродвигун з'єднаний через вібропідвіси з...

Номер патенту: 114992

Опубліковано: 27.03.2017

Автори: Андрієнко Володимир Олександрович, Антонюк Віктор Степанович, Білокінь Світлана Олександрівна, Бондаренко Максим Олексійович, Бондаренко Юлія Юріївна

МПК: G06F 11/22

Мітки: спосіб, запам'ятовуючих, діагностування, пристроїв

Формула / Реферат:

Спосіб діагностування запам'ятовуючих пристроїв шляхом їх тестування, який відрізняється тим, що для його провадження моделюють критичні умови експлуатації запам'ятовуючих пристроїв, вводять часовий інтервал, при цьому підвищують температуру за допомогою кварцових ламп, додатково вводять вібрації, а також створюють електричне поле коротронним розрядником, фіксують температури, рівень вібрацій і напруженість електростатичного поля, будують...

Номер патенту: 91523

Опубліковано: 10.07.2014

Автори: Фіалковський Павло Олександрович, Антонюк Віктор Степанович, Білокінь Світлана Олександрівна, Яценко Ірина В'ячеславівна, Коваленко Юрій Іванович, Бондаренко Максим Олексійович

МПК: G01B 11/03

Мітки: мікроскопа, лазерного, спосіб, променя, зонд, позиціонування, атомно-силового

Формула / Реферат:

Спосіб позиціонування лазерного променя на зонд атомно-силового мікроскопа, що включає розташування еліптичного дзеркала з тришаровим оксидним покриттям по напрямку ходу лазерного променя при його фокусуванні на зонді, який відрізняється тим, що генерують лазерне випромінювання і направляють на еліптичне дзеркало, яке додатково розташовують на шляху розповсюдження лазерного променя до зонда, причому попередньо на поверхню еліптичного...

Номер патенту: 91425

Опубліковано: 10.07.2014

Автори: Антонюк Віктор Степанович, Бондаренко Юлія Юріївна, Бондаренко Максим Олексійович, Білокінь Світлана Олександрівна

МПК: H05F 3/00

Мітки: видалення, трибоелектричного, заряду, спосіб, залишкового

Формула / Реферат:

Спосіб видалення залишкового трибоелектричного заряду, який виникає на діелектричній поверхні в процесі її сканування методом атомно-силової мікроскопії, що виконується за рахунок формування в цій поверхні зони провідності, в якій відбувається стікання заряду, утвореного внаслідок тертя об неї кремнієвого зонда атомно-силового мікроскопа, який відрізняється тим, що формують зону провідності в місці контакту зонда з діелектричною поверхнею...

Номер патенту: 87907

Опубліковано: 25.02.2014

Автори: Білокінь Світлана Олександрівна, Бондаренко Максим Олексійович, Антонюк Віктор Степанович

МПК: G01N 3/40

Мітки: оцінки, мікротвердості, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки мікротвердості, що включає визначення значень мікротвердості на поверхні зразка за розміром відновленого відбитка при різних навантаженнях на наноіндентор, як такий використано кремнієвий зонд конічної форми для атомно-силового мікроскопа, який відрізняється тим, що додатково кремнієвий зонд модифікують тонким вуглецевим покриттям, проводять сканування зразка, при цьому наноіндентування поверхні виконують при постійно...