Андрієнко Володимир Олександрович
Тепловізор
Номер патенту: 119337
Опубліковано: 25.09.2017
Автори: Антонюк Віктор Степанович, Бондаренко Максим Олексійович, Ральченко Світлана Петрівна, Андрієнко Володимир Олександрович, Ткаченко Валентин Федорович
Мітки: тепловізор
Формула / Реферат:
Тепловізор, що містить послідовно з'єднані вузол реєстрації у вигляді матричного радіометра, оптичну систему, а також блок обробки інформації, який відрізняється тим, що до складу оптичної системи входить прогресивна лінза, виготовлена з матеріалу, який працює в інфрачервоному діапазоні і яка має можливість кругового обертання, чим відбувається плавна зміна фокусної відстані оптичної системи, що, в свою чергу, дозволяє підтримувати в...
Пристрій діагностування запам’ятовуючих пристроїв
Номер патенту: 115328
Опубліковано: 10.04.2017
Автори: Бондаренко Юлія Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Бондаренко Максим Олексійович, Білокінь Світлана Олександрівна, Антонюк Віктор Степанович
МПК: H05F 3/06, G06F 11/00
Мітки: діагностування, пристрій, пристроїв, запам'ятовуючих
Формула / Реферат:
Пристрій діагностування запам'ятовуючих пристроїв, згідно з яким контролюють параметри зовнішнього середовища, який включає вібродвигун, кварцові лампи, коротронний розрядник, а також датчики, вихід яких зв'язаний з процесором, який відрізняється тим, що створюють екстремальні умови за допомогою вітродвигуна, який разом з кварцовою лампою і коротронним розрядником входить до складу пристрою, причому вібродвигун з'єднаний через вібропідвіси з...
Спосіб діагностування запам’ятовуючих пристроїв
Номер патенту: 114992
Опубліковано: 27.03.2017
Автори: Бондаренко Максим Олексійович, Бондаренко Юлія Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Білокінь Світлана Олександрівна, Антонюк Віктор Степанович
МПК: G06F 11/22
Мітки: запам'ятовуючих, пристроїв, діагностування, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб діагностування запам'ятовуючих пристроїв шляхом їх тестування, який відрізняється тим, що для його провадження моделюють критичні умови експлуатації запам'ятовуючих пристроїв, вводять часовий інтервал, при цьому підвищують температуру за допомогою кварцових ламп, додатково вводять вібрації, а також створюють електричне поле коротронним розрядником, фіксують температури, рівень вібрацій і напруженість електростатичного поля, будують...
Напівпровідниковий запам’ятовуючий пристрій з відновленням працездатності при багатократних відмовах
Номер патенту: 82607
Опубліковано: 12.08.2013
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Колпаков Іван Олександрович, Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович
МПК: G11C 7/00
Мітки: запам'ятовуючий, напівпровідниковий, відновленням, пристрій, працездатності, відмовах, багатократних
Формула / Реферат:
Напівпровідниковий запам'ятовуючий пристрій з відновленням працездатності при багатократних відмовах, який містить основний і запасний масиви запам'ятовуючих комірок, контролер самотестування, генератори кодів адреси і даних, мультиплексори кодів операцій, адреси і даних, компаратор, причому перші, другі і треті виходи контролера самотестування підключені до перших входів мультиплексора коду операцій, генератора коду адреси і генератора коду...
Мікросхема пам’яті з вбудованими засобами самотестування, стиснення діагностичної інформації та відновлення працездатності
Номер патенту: 82048
Опубліковано: 25.07.2013
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: мікросхема, діагностичної, засобами, відновлення, інформації, працездатності, самотестування, стиснення, пам'яті, вбудованими
Формула / Реферат:
Мікросхема пам'яті з вбудованими засобами самотестування, стиснення діагностичної інформації та відновлення працездатності, яка містить масив запам'ятовуючих комірок, резервні рядки і стовпці комірок, дешифратори рядків і стовпців, вбудовані засоби самотестування та відновлення працездатності, комутатори кодів операцій і адреси, шинний формувач кодів даних, перший вхід/вихід якого підключено до першого входу/виходу мікросхеми пам'яті, другий...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами самотестування та ремонту
Номер патенту: 69073
Опубліковано: 25.04.2012
Автори: Пилипець Сергій Сергійович, Рябцев Володимир Григорович, Уткіна Тетяна Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: самотестування, вбудованими, мікросхема, засобами, пам'яті, ремонту, напівпровідникової
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування та ремонту, що містить основний масив запам'ятовуючих комірок, контролер самотестування, генератори кодів адреси та даних, мультиплексори кодів операцій МХ1, адреси МХ2 і даних МХ3, компаратор, причому перші, другі та треті виходи контролера самотестування підключені до перших входів мультиплексора кодів операцій МХ1, генератора кодів адреси і генератора кодів даних...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами забезпечення допустимого теплового режиму самотестування
Номер патенту: 68985
Опубліковано: 25.04.2012
Автори: Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович, Уткіна Тетяна Юріївна
МПК: G11C 7/00
Мітки: режиму, теплового, напівпровідникової, допустимого, забезпечення, засобами, вбудованими, самотестування, мікросхема, пам'яті
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами забезпечення допустимого теплового режиму самотестування, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси X і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами самотестування та захистом від перегрівання
Номер патенту: 56581
Опубліковано: 25.01.2011
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: напівпровідникової, самотестування, засобами, пам'яті, мікросхема, перегрівання, захистом, вбудованими
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування та захистом від перегрівання, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси X і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами багатоверсійного самотестування
Номер патенту: 49179
Опубліковано: 26.04.2010
Автори: Рябцев Володимир Григорович, Уткіна Тетяна Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: засобами, мікросхема, напівпровідникової, пам'яті, багатоверсійного, вбудованими, самотестування
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами багатоверсійного самотестування, що містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X,Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси Х і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших входів/виходів...
Мікросхема напівпровідникової пам`яті з вбудованими засобами самотестування
Номер патенту: 47842
Опубліковано: 25.02.2010
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: самотестування, вбудованими, пам'яті, мікросхема, засобами, напівпровідникової
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора 1 і комутатора 2 відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших входів/виходів елементів введення/виведення,...
Прилад для тестування напівпровідникової пам’яті
Номер патенту: 40675
Опубліковано: 27.04.2009
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович
МПК: G11C 29/00
Мітки: прилад, тестування, напівпровідникової, пам'яті
Формула / Реферат:
Прилад для тестування напівпровідникової пам'яті, який містить змінне джерело електроживлення, блок зв'язку з персональним комп'ютером, блок керування та індикації, входи/виходи яких через шину зв'язку з'єднані з першими входами/виходами интерфейсного блока, другі входи/виходи якого з'єднані з входами/виходами генератора тактових імпульсів, а треті входи/виходи інтерфейсного блока з'єднані з входами/виходами формувача синхросигналів, виходи...