Бондаренко Максим Олексійович
Тепловізор
Номер патенту: 119337
Опубліковано: 25.09.2017
Автори: Ральченко Світлана Петрівна, Бондаренко Максим Олексійович, Андрієнко Володимир Олександрович, Антонюк Віктор Степанович, Ткаченко Валентин Федорович
Мітки: тепловізор
Формула / Реферат:
Тепловізор, що містить послідовно з'єднані вузол реєстрації у вигляді матричного радіометра, оптичну систему, а також блок обробки інформації, який відрізняється тим, що до складу оптичної системи входить прогресивна лінза, виготовлена з матеріалу, який працює в інфрачервоному діапазоні і яка має можливість кругового обертання, чим відбувається плавна зміна фокусної відстані оптичної системи, що, в свою чергу, дозволяє підтримувати в...
Спосіб оцінки зносостійкості тонких покриттів
Номер патенту: 117635
Опубліковано: 26.06.2017
Автори: Тележинський Дмитро Віталійович, Антонюк Віктор Степанович, Білокінь Світлана Олександрівна, Бондаренко Максим Олексійович
МПК: G01N 19/04, G01N 3/46
Мітки: зносостійкості, оцінки, спосіб, покриттів, тонких
Формула / Реферат:
Спосіб оцінки зносостійкості тонких покриттів, що включає визначення значень критерію зносостійкості тонких покриттів, сформованих на твердих підкладинках за розмірами треку, що утворився при різних навантаженнях на досліджувану поверхню наноіндентера, як останній використано кремнієвий зонд конічної форми для атомно-силового мікроскопа, який відрізняється тим, що кремнієвий зонд додатково модифікують тонким вуглецевим покриттям, проводять...
Пристрій діагностування запам’ятовуючих пристроїв
Номер патенту: 115328
Опубліковано: 10.04.2017
Автори: Бондаренко Юлія Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Бондаренко Максим Олексійович, Білокінь Світлана Олександрівна, Антонюк Віктор Степанович
МПК: G06F 11/00, H05F 3/06
Мітки: діагностування, запам'ятовуючих, пристроїв, пристрій
Формула / Реферат:
Пристрій діагностування запам'ятовуючих пристроїв, згідно з яким контролюють параметри зовнішнього середовища, який включає вібродвигун, кварцові лампи, коротронний розрядник, а також датчики, вихід яких зв'язаний з процесором, який відрізняється тим, що створюють екстремальні умови за допомогою вітродвигуна, який разом з кварцовою лампою і коротронним розрядником входить до складу пристрою, причому вібродвигун з'єднаний через вібропідвіси з...
Спосіб діагностування запам’ятовуючих пристроїв
Номер патенту: 114992
Опубліковано: 27.03.2017
Автори: Бондаренко Максим Олексійович, Білокінь Світлана Олександрівна, Антонюк Віктор Степанович, Бондаренко Юлія Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G06F 11/22
Мітки: пристроїв, запам'ятовуючих, спосіб, діагностування
Формула / Реферат:
Спосіб діагностування запам'ятовуючих пристроїв шляхом їх тестування, який відрізняється тим, що для його провадження моделюють критичні умови експлуатації запам'ятовуючих пристроїв, вводять часовий інтервал, при цьому підвищують температуру за допомогою кварцових ламп, додатково вводять вібрації, а також створюють електричне поле коротронним розрядником, фіксують температури, рівень вібрацій і напруженість електростатичного поля, будують...
Спосіб позиціонування лазерного променя на зонд атомно-силового мікроскопа
Номер патенту: 91523
Опубліковано: 10.07.2014
Автори: Фіалковський Павло Олександрович, Яценко Ірина В'ячеславівна, Білокінь Світлана Олександрівна, Бондаренко Максим Олексійович, Коваленко Юрій Іванович, Антонюк Віктор Степанович
МПК: G01B 11/03
Мітки: спосіб, лазерного, атомно-силового, позиціонування, зонд, променя, мікроскопа
Формула / Реферат:
Спосіб позиціонування лазерного променя на зонд атомно-силового мікроскопа, що включає розташування еліптичного дзеркала з тришаровим оксидним покриттям по напрямку ходу лазерного променя при його фокусуванні на зонді, який відрізняється тим, що генерують лазерне випромінювання і направляють на еліптичне дзеркало, яке додатково розташовують на шляху розповсюдження лазерного променя до зонда, причому попередньо на поверхню еліптичного...
Спосіб видалення залишкового трибоелектричного заряду
Номер патенту: 91425
Опубліковано: 10.07.2014
Автори: Антонюк Віктор Степанович, Бондаренко Юлія Юріївна, Бондаренко Максим Олексійович, Білокінь Світлана Олександрівна
МПК: H05F 3/00
Мітки: залишкового, видалення, трибоелектричного, заряду, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб видалення залишкового трибоелектричного заряду, який виникає на діелектричній поверхні в процесі її сканування методом атомно-силової мікроскопії, що виконується за рахунок формування в цій поверхні зони провідності, в якій відбувається стікання заряду, утвореного внаслідок тертя об неї кремнієвого зонда атомно-силового мікроскопа, який відрізняється тим, що формують зону провідності в місці контакту зонда з діелектричною поверхнею...
Спосіб оцінки мікротвердості
Номер патенту: 87907
Опубліковано: 25.02.2014
Автори: Бондаренко Максим Олексійович, Антонюк Віктор Степанович, Білокінь Світлана Олександрівна
МПК: G01N 3/40
Мітки: оцінки, спосіб, мікротвердості
Формула / Реферат:
Спосіб оцінки мікротвердості, що включає визначення значень мікротвердості на поверхні зразка за розміром відновленого відбитка при різних навантаженнях на наноіндентор, як такий використано кремнієвий зонд конічної форми для атомно-силового мікроскопа, який відрізняється тим, що додатково кремнієвий зонд модифікують тонким вуглецевим покриттям, проводять сканування зразка, при цьому наноіндентування поверхні виконують при постійно...
Спосіб виготовлення зразка для металографічних досліджень
Номер патенту: 40531
Опубліковано: 10.04.2009
Автори: Батраченко Олександр Вікторович, Бондаренко Максим Олексійович, Бойко Володимир Петрович, Котляр Олександр Вікторович
МПК: G01N 1/28
Мітки: металографічних, виготовлення, зразка, досліджень, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб виготовлення зразка для металографічних досліджень, що включає технологічну обробку досліджуваної поверхні, вирізання шліфа, полірування та травлення, який відрізняється тим, що вирізання шліфа на зразку виконують перед технологічною обробкою досліджуваної поверхні, технологічній обробці підлягають одразу декілька зразків, які встановлені та закріплені в обоймі, що виконана із однойменного або різнойменного із зразками матеріалу, таким...
Пристрій для електронно-променевої обробки виробів
Номер патенту: 4752
Опубліковано: 15.02.2005
Автори: Ващенко Вячеслав Андрійович, Яценко Ірина В'ячеславівна, Рудь Максим Петрович, Бондаренко Максим Олексійович, Канашевич Георгій Вікторович
МПК: H01J 37/305, C03B 29/00
Мітки: електронно-променевої, виробів, обробки, пристрій
Формула / Реферат:
Пристрій для електронно-променевої обробки виробів, який вміщує електронну гармату з приводом, а також теплові екрани з нагріваючими елементами і блок транспортування виробів, який відрізняється тим, що піч нагріву і піч охолодження виробів розташовані симетрично відносно електронної гармати, на одній прямій паралельно траєкторії руху виробів і можуть працювати незалежно в різних температурних режимах, а теплові екрани печей захищають...
Пристрій для електронно-променевого полірування виробів
Номер патенту: 4177
Опубліковано: 17.01.2005
Автори: Яценко Ірина В'ячеславівна, Бондаренко Максим Олексійович, Канашевич Георгій Вікторович, Ващенко Вячеслав Андрійович, Коваленко Юрій Іванович, Бойко Володимир Петрович, Рудь Максим Петрович
МПК: H01J 37/305, C03B 29/00
Мітки: полірування, пристрій, виробів, електронно-променевого
Формула / Реферат:
Пристрій для електронно-променевого полірування виробів містить ниткоподібний катод електронної гармати і блок завантаження виробів, встановлений з можливістю обертання, який відрізняється тим, що в пристрій додатково введено випарник, що забезпечує нанесення тонких металевих плівок на поверхню оптичного матеріалу, після чого поверхня полірується стрічковим електронним потоком з одночасним вплавленням металевої плівки.
Спосіб виявлення дефектного приповерхневого шару оптичного скла
Номер патенту: 67516
Опубліковано: 15.06.2004
Автори: Бондаренко Максим Олексійович, Канашевич Георгій Вікторович, Дубровська Галина Миколаївна
МПК: C03C 15/00
Мітки: оптичного, скла, приповерхневого, дефектного, спосіб, виявлення, шару
Формула / Реферат:
Спосіб виявлення дефектного приповерхневого шару оптичного скла, що включає попередній розігрів зразка до 400...520°С, опромінювання зразка електронним потоком та переміщення його вздовж поверхні зразка зі швидкістю 0,1...50 см/с, який відрізняється тим, що питома потужність, з якою ведуть навантаження зразка електронним потоком складає , а зразок підлягає наступному...