Пільгун Юрій Вікторович

Спосіб визначення параметрів рельєфу поверхні та пристрій для його реалізації

Завантаження...

Номер патенту: 110587

Опубліковано: 12.01.2016

Автори: Стельмах Олександр Устимович, Пільгун Юрій Вікторович, Смирнов Євген Миколайович, Колєнов Сергій Олександрович

МПК: G02B 21/00, F41G 11/00, G01B 11/30 ...

Мітки: поверхні, реалізації, параметрів, спосіб, рельєфу, пристрій, визначення

Формула / Реферат:

1. Спосіб визначення параметрів рельєфу поверхні, з використанням методу диференційно-фазової профілометрії і/або профілографії, який відрізняється тим, що сканування досліджуваної поверхні здійснюють двома світловими пучками, що утворені завдяки почерговому розщепленню світлового пучка у кожному з двох акустооптичних дефлекторів зі зміщенням у просторі та по частоті, по двох взаємоортогональних напрямках із суміщенням центрів сканування за...

Пристрій для дослідження рефракції об’єктів

Завантаження...

Номер патенту: 100915

Опубліковано: 10.08.2015

Автори: Колєнов Сергій Олександрович, Смирнов Євген Миколайович, Пільгун Юрій Вікторович, Стельмах Олександр Устимович

МПК: A61B 8/08, G01B 11/30, F41G 11/00 ...

Мітки: об'єктів, пристрій, дослідження, рефракції

Формула / Реферат:

Пристрій для дослідження рефракції об'єктів, який містить джерело випромінювання, як джерело випромінювання може бути використаний лазер, перший та другий акустооптичні дефлектори, першу та другу оптичні системи, об'єктив та фотоприймач, які з'єднані між собою послідовно та механічно і встановлені по ходу світлового пучка таким чином, що мають загальну оптичну вісь, по два генератори керуючих сигналів для кожного акустооптичного дефлектора,...

Пристрій для визначення параметрів рельєфу поверхні

Завантаження...

Номер патенту: 99040

Опубліковано: 12.05.2015

Автори: Пільгун Юрій Вікторович, Смирнов Євген Миколайович, Колєнов Сергій Олександрович, Стельмах Олександр Устимович

МПК: G02B 21/00, G01B 11/30

Мітки: пристрій, визначення, параметрів, поверхні, рельєфу

Формула / Реферат:

Пристрій для визначення параметрів рельєфу поверхні, що являє собою пристрій для диференційно-фазової профілометрії та/або профілографії, який містить джерело випромінювання, як джерело випромінювання може бути використаний лазер, виконану з можливістю розширення світлового пучка першу оптичну систему, встановлені по ходу світлового пучка на загальній оптичній осі щонайменше два акустооптичних дефлектори і виконану з можливістю звуження...

Спосіб визначення параметрів поверхні об’єкта

Завантаження...

Номер патенту: 99039

Опубліковано: 12.05.2015

Автори: Пільгун Юрій Вікторович, Стельмах Олександр Устимович, Колєнов Сергій Олександрович, Смирнов Євген Миколайович

МПК: G01B 11/30, G02B 21/00

Мітки: поверхні, визначення, об'єкта, параметрів, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення параметрів рельєфу поверхні, з використанням методу диференційно-фазової профілометри і/або профілографи, який відрізняється тим, що сканування досліджуваної поверхні здійснюють двома світловими пучками, що утворені завдяки почерговому розщепленню світлового пучка у кожному з двох акустооптичних дефлекторів зі зміщенням у просторі та по частоті, по двох взаємоортогональних напрямках із суміщенням центрів сканування за...