Стахіра Йосип Михайлович

Спосіб визначення спектральних складових світла

Завантаження...

Номер патенту: 108674

Опубліковано: 25.07.2016

Автори: Стахіра Йосип Михайлович, Стахіра Роман Йосипович, Белюх Віктор Михайлович

МПК: G01J 3/00, G01J 3/32

Мітки: спектральних, спосіб, складових, світла, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення спектральних складових світла, за яким використовують фотоелектричний відклик напівпровідника, який відрізняється тим, що як напівпровідник використовують шаруватий кристал, який піддають пружній деформації зсуву, одночасно опромінюють досліджуваним світлом, одержують часові залежності фотоструму, за якими за контрольованими моментами часу його різкого зростання визначають довжину хвилі світла.

Спосіб визначення орієнтації і форми оптичної індикатриси у кристалах

Завантаження...

Номер патенту: 74232

Опубліковано: 25.10.2012

Автори: Стахіра Йосип Михайлович, Белюх Віктор Михайлович

МПК: G01N 21/87

Мітки: визначення, індикатриси, спосіб, оптично, форми, кристалах, орієнтації

Формула / Реферат:

Спосіб визначення орієнтації і форми оптичної індикатриси у кристалах, за яким зразок досліджують у відбитому поляризованому світлі, який відрізняється тим, що визначають положення екстремумів залежності ефективного показника заломлення від кута повороту кристала навколо вертикальної осі, які вказують напрями головних осей індикатриси.

Спосіб виготовлення реєструючої мішені на основі діоксиду ванадію

Завантаження...

Номер патенту: 22462

Опубліковано: 03.03.1998

Автори: Грищишин Юрій Володимирович, Стахіра Йосип Михайлович, Савчин Володимир Павлович, Фоменко Вячеслав Леонтійович

МПК: H01J 29/00, G02F 1/01

Мітки: діоксиду, основі, реєструючої, спосіб, виготовлення, ванадію, мішені

Формула / Реферат:

1. Спосіб виготовлення реєструючої мішені на основі діоксиду ванадію, що включає нанесення ванадію, його термоокислення та утворення захисної плівки, який відрізняється тим, що захисну плівку формують шляхом нанесення АІ та його окислення при температурі 150-300°С.2.· Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що захисну плівку АІ2Оз формують у вакуумі.

Учбовий прилад з фізики для дослідження руху електронів в електричних і магнітних полях

Завантаження...

Номер патенту: 16096

Опубліковано: 29.08.1997

Автори: Вайданич Василь Іванович, Савчин Володимир Павлович, Орищин Юрій Михайлович, Стахіра Йосип Михайлович

МПК: G09B 23/18

Мітки: руху, учбовий, електронів, фізики, прилад, полях, дослідження, електричних, магнітних

Формула / Реферат:

1. Учебный прибор по физике для исследо­вания движения электронов в электрических и магнитных полях, содержащий электронно-луче­вую трубку, электронная пушка которой подклю­чена к блоку питания, пластины горизонтального отклонения связаны с первым источником регули­руемого напряжения, система магнитного откло­нения подсоединена к источнику регулируемого тока, одна из пластин вертикального отклонения подключена непосредственно к первой...

Спосіб дослідження руху електронів в електричних і магнітних полях

Завантаження...

Номер патенту: 16403

Опубліковано: 29.08.1997

Автори: Савчин Володимир Павлович, Стахіра Йосип Михайлович, Орищин Юрій Михайлович, Вайданич Василь Іванович

МПК: G09B 23/18

Мітки: полях, електронів, магнітних, електричних, спосіб, дослідження, руху

Формула / Реферат:

Способ исследования движения электронов в электрических и магнитных полях, включающий взаимную компенсацию отклонений электронного луча в электронно-лучевой трубке, вызываемых взаимно перпендикулярными электрическим и магнитным полями, которые перпендикулярны к электронному лучу, и измерение отклоняющего напряжения и тока, отличающийся тем, что, с целью расширения возможностей исследования движения электронов в электрическом и магнит­ном...