Васильєв Олександр Васильович

Номер патенту: 100267

Опубліковано: 10.12.2012

Автори: Афанасьєв Денис Миколайович, Васильєв Олександр Васильович

МПК: G01R 27/26

Мітки: збудженні, змін, індуктивності, здійснення, вимірювання, пристрій, слабкострумовому, малих, спосіб

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання малих змін індуктивності при слабкострумовому збудженні, за яким вимірювану індуктивність включають в резонансний LC-контур, а шукане відхилення вимірюваної індуктивності від її середнього значення перетворюють в зсув фаз між двома гармонічними коливаннями, який відрізняється тим, що резонансний LC-контур, до складу якого входить вимірювана індуктивність, включають в пасивне вимірювальне коло, на вхід якого подають...

Номер патенту: 74239

Опубліковано: 15.11.2005

Автори: Мельничук Ігор Олександрович, Васильєв Олександр Васильович, Михайлов Володимир Іванович

МПК: G01R 33/035, G01N 27/00, H01L 39/00 ...

Мітки: властивостей, спосіб, високотемпературних, поверхневих, змін, виявлення, надпровідників

Формула / Реферат:

1. Спосіб виявлення змін поверхневих властивостей високотемпературних надпровідників, який включає в себе безконтактне вимірювання діамагнітного відгуку зразка, що знаходиться у надпровідному стані, за допомогою вимірювального датчика, який відрізняється тим, що в процесі обробки на поверхні зразка формується область „свідка” анізотропної форми з незміненими властивостями і досліджується зміна параметра діамагнітного відгуку

Номер патенту: 68658

Опубліковано: 16.08.2004

Автори: Мельничук Ігор Олександрович, Михайлов Володимир Іванович, Васильєв Олександр Васильович

МПК: H01L 39/00

Мітки: поверхні, спосіб, високотемпературного, шару, виміру, глибини, створеного, надпровідника, ненадпровідного

Формула / Реферат:

1. Спосіб виміру глибини створеного на поверхні високотемпературного надпровідника ненадпровідного шару, який включає безконтактний вимір діамагнітного відгуку зразка на змінне магнітне поле, який відрізняється тим, що в процесі обробки поверхні зразка на ній формується область свідка анізотропної форми з незміненими властивостями і глибина h створеного ненадпровідного шару визначається при фіксованій температурі через залежність параметра...