Спосіб якісного або кількісного визначення параметрів деревної панелі та спосіб управління змінними процесу виготовлення панелей, які впливають на ці параметри

1 Спосіб якісного або КІЛЬКІСНОГО визначення параметрів деревної панелі, яка виготовляється з деревної сировини, що надходить на обробку для виготовлення деревних панелей, з використанням спектрометричного аналізу, який відрізняється тим, що спосіб включає спектрометричний аналіз деревної сировини або деревної панелі, які мають вміст вологи менше 10%, а під час спектрометричного аналізу визначають спектральні характеристики цієї деревно[ сировини та деревної панелі, й порівнюють зазначені спектральні характеристики з еталонними спектральними характеристиками, що отримані за допомогою спектрометричного методу для еталонної деревної сировини або еталонних деревних панелей, вміст вологи в яких нижче 10% та відкаліброваних за відомими параметрами деревних панелей, виготовлених із зазначеної еталонної деревної сировини, або за відомими параметрами еталонної деревної панелі, за допомогою багатовимірного аналізу 2 Спосіб за п 1, який відрізняється тим, що отримані спектральні характеристики деревної сировини чи деревної панелі, які мають вміст вологи нижче 10%, об'єднують у комбінацію зі змінною процесу, та порівнюють зазначену комбінацію 3 еталонними комбінаціями, які одержують шляхом об єднання еталонних спектральних характеристик, що отримують за допомогою зазначеного спектрометричного методу для еталонної дереаної сировини або для еталонних деревних панелей, які мають вміст вологи менше 10%, з еталонними змінними процесу, причому використовують ета лонні комбінації, які відкалібровані за ВІДОМИМИ параметрами деревних панелей, які було виготовлено із зазначеної еталонної деревної сировини, або за відомими параметрами зазначеної еталонної деревної моделі, за допомогою багатовимірного аналізу 3 Спосіб за п 1, який відрізняється тим, що здійснюють спектральний аналіз деревної сировини і отримані спектральні характеристики порівнюють з еталонними спектральними характеристиками, отриманими для еталонної деревної сировини, причому ці еталонні спектральні дані відкалібровані за відомими параметрами деревних панелей, виготовлених з названої деревної сировини 4 Спосіб за п 1 який відрізняється тим, що аналізують деревну панель і отримані спектральні характеристики порівнюють з еталонними спектральними характеристиками, одержаними від еталонних деревних панелей, причому ці еталонні спектральні характеристики від калібровані за відомими параметрами зазначених еталонних деревних панелей за допомогою багатовимірного аналізу 5 Спосіб за будь-яким з попередніх пунктів, який відрізняється тим, що як деревні панелі використовують плиту 6 Спосіб за п 5, який відрізняється тим, що як плити використовують дереано-стружкову плиту 7 Спосіб за п 1 який відрізняється тим, що розробляють модель калібрування шляхом реєстрації за допомогою спектрометричного методу еталонних спектральних характеристик сировини еталонних зразків еталонної деревної сировини чи еталонної деревної панелі, обробляють еталонні спектральні характеристики сировини із забезпеченням зменшення шумів та регулювання дрейфу та дифузної відстані світла здійснюють калібрування оброблених еталонних спектральних характеристик з урахуванням відомих параметрів еталонних зразків шляхом виконання аналізу характеристик, включаючи багатовимірний аналіз, і реєструють з використанням спектрометричного методу спектральні характеристики сировини зразка деревної сировини та деревної панелі що мають невідомі параметри, обробляють отримані спектральні характеристики сировини із забезпеченням зменшення шумів та регулювання дрейфу й дифузного розсіювання світла, і застосовують розроблену CM О 00 CM 28105 модель калібрування до оброблюваних спектральних характеристик для визначення невідомих параметрів 8. Спосіб за п 7, який відрізняється тим, що на етапі калібрування оброблених еталонних спектральних характеристик з урахуванням ВІДОМИХ параметрів еталонних зразків шляхом виконання аналізу характеристик, який містить багатовимірний аналіз, що включає перетворення оброблюваних еталонних спектральних характеристик у приховані ЗМІННІ, і на етапі обробляння отриманих спектральних характеристик сировини оброблювані спектральні характеристики перетворюють на приховані ЗМІННІ, як на етапі калібрування оброблених еталонних спектральних характеристик з урахуванням відомих параметрів еталонних зразків шляхом виконання аналізу характеристик, включаючи багатовимірний аналіз, та розроблену модель калібрування застосовують до прихованих змінних, щоб визначити невідомі параметри. 9. Спосіб за п. 7 або 8, який відрізняється тим, що спектрометричний метод є абсорбційним, відображувальним, емісійним або пропускним спектрометричним методом 10 Спосіб за п 1, який відрізняється тим, що деревна сировина та деревна панель або еталонні деревні панелі висушують до вмісту вологи менше 8%, більш прийнятно, нижче 4% 11. Спосіб за п 1, який відрізняється тим, що використовують деревну сировину, яка містить частки поверхні або внутрішнього шару, або ті й інші разом 12. Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що спектрометричний метод є методом спектрів ближньої інфрачервоної зони 13 Спосіб за п 1, який відрізняється тим, що параметри плити, які підлягають визначенню, вибирають з щільності, профілю щільності, внутрішнього зчеплення, розбухання по товщині, величини абсорбції, величини проникності, величини перфоратора та величини емісійних камер 14 Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що багатовимірний аналіз вибирають з основного компонентного аналізу, регресії часткових найменших квадратів, основно) компонентної регресії1, аналізу ПОЛІЛІНІЙНОІ регресії та дискримшантним аналізом 15 Спосіб за п. 14, який відрізняється тим, що використовуваний багатовимірний аналіз здійснюють шляхом регресії часткових найменших квадратів. 16 Спосіб управління змінними процесу, що впливають на параметри деревної панелі, яку виготов Пропоновані винаходи стосуються засобів якісного та КІЛЬКІСНОГО визначення різноманітних параметрів, ЯКІ характеризують властивості деревностружкових плит (ДСП) та інших деревних панелей, а більш конкретно, стосуються спектроскопічного аналізу, що його поєднано з багатовимірним калібруванням, яке виконується на деревній сировині, що надходить на завод, який здійснює процес виготовлення деревних панелей, переважно на висушених частинках поверхні та середнього шару люють з деревно) сировини, що надходить на обробку для виготовлення деревних панелей, який відрізняється TVM, що він включає етапи аналізу деревної сировини та деревної панелі, що мають вміст вологи нижче 10%, за допомогою спектрометричного методу, і визначення спектральних характеристик цієї сировини або панелей та порівняння зазначених спектральних характеристик з еталонними спектральними характеристиками, які одержано за допомогою спектрометричного методу для еталонно[ деревної сировини або еталонних деревних панелей, виготовлених з еталонної деревної сировини в процесі виготовлення деревних панелей, що мають вміст вологи 10%, а всі еталонні спектральні характеристики відкалібровують за змінними процесу за допомогою багатовимірного аналізу 17 Спосіб управління змінними процесу за п 16, який відрізняється тим, що спектральні характеристики порівнюють з еталонними спектральними характеристиками еталонної деревної сировини або еталонних деревних панелей, виготовлених з еталонної деревної сировини в еталонному процесі для виготовлення деревних панелей, причому ці еталонні спектральні характеристики відкалібровані за змінними процесу, що приймаються в зазначеному еталонному процесі 18. Спосіб управління змінними процесу за п 16, який відрізняється тим, що спектральні характеристики об'єднують у комбінацію з потрібним параметром, і зазначену комбінацію порівнюють з еталонними комбінаціями, які одержують шляхом об'єднання еталонних спектральних характеристик еталонної деревної сировини або еталонних деревних панелей, з відомими параметрами зазначеної еталонної деревної сировини або зазначених еталонних деревних панелей, причому ці еталонні комбінації відкалібровані за відомими змінними процесу за допомогою багатовимірного аналізу. 19. Спосіб управління процесом за п. 18, який відрізняється тим, що аналізують деревну сировину та комбінацію порівнюють з еталонними комбінаціями, які одержують шляхом об'єднання еталонних спектральних характеристик з відомими параметрами зазначеної еталонної деревної сировини 20. Спосіб управління процесом за п 18, який відрізняється тим, що аналізують деревну панель, та комбінацію порівнюють з еталонними комбінаціями, які одержують шляхом об'єднання еталонних спектральних характеристик з відомими параметрами зазначених еталонних деревних панелей ДСП, шляхом миттєвого та безперервного аналізу різних параметрів, що відбивають якість деревної панелі, та на основі цієї інформації визначення змінних процесу Винахід переважно стосується використання методу спектрів ближньої інфрачервоної зони (БІЧ), що його поєднано з багатовимірним калібруванням, як засобу для прогнозування властивостей ДСП та інших деревних панелей. 23105 Він також стосується способу визначення параметрів деревної панелі шляхом аналізу самої деревної панелі за допомогою спектрометричного методу у поєднанні з багатовимірним аналізом Деревно-стружкову плиту (ДСП) можна виробляти з сухих дрібних деревних часток, які змішують зі зв'язувальними речовинами та формують у мат, який потім спрєсоаують за високої температури та тиску в ущільнену плиту Можна використовувати деревну сировину практично будь-якої породи дерева Однак, властивості готової плити, такі, наприклад, як ЩІЛЬНІСТЬ, здатність склеюватися тощо, залежать від властивостей деревини Як деревну сировину використовують деревні стружки, макулатуру, тріски й обрізки круглих лісоматеріалів, які у цьому описі та формулі винаходу називаються "частинками" Відшарування круглих лісоматеріалів здійснюється у барабанних стружкових верстатах тоді як тріски обробляються на ножових роторних стружкових верстатах Після подрібнення увесь деревний матеріал сушать до 2-4% вологості у сушарках великої ємкості Після процесу сушіння деревні частинки відсортовуються до більш прийнятного розміру Відсортований матеріал проходить через молоткові млини і надходить назад до системи сортування Для властивостей плити важливою є як форма стружок - деревної тирси, так і їх розподіл за розміром Частіше за асе для ДСП та деревноволокнистих плит середньої щільності (ДПСЩ) використовується така зв'язувальна речовина, як сечовиноформальдепдна смола (СФС), але деякою мірою застосовуються також меламіносечовиноформапьдепдна смола (МСФС), фенолова смола (ФС) та ізоціанова смола (ІЦС), особливо у виробництві стійких до непогоди плит Смолу, воду, отверджувач та парафінову емульсію дозують автоматично на ваговій основі Дозування хімікатів розраховують для сухої речовини у відсотковому відношенні до матеріалу сухої деревини Кількість зв'язувальної речовини, що додається, змінюється залежно від типу смоли та потрібної якості плити Дозування смоли СФС як правило знаходиться між 7-10%, смоли МСФС - між 11-13%, смоли ФС - між 6-8%, а смоли ІЦС - між 2-5% Порівняно низькі дози смол ФС та ІЦС відображають їх чудову зв'язувальну спроможність Нормальна ДСП містить приблизно 6% вологи, 9% зв'язувальної речовини та інших хімікатів і 85% деревини Незважаючи на те, що абсолютно домінуючим компонентом є деревина, науководослідна та дослідно-конструкторська (НД та ДК) робота в індустрії деревнс-стружкових плит аж до 80-х років майже виключно проводились із зв'язувальними речовинами, а роль деревини була незначною В целюлозній та паперовій промисловості добре відомим є те, що деревина повинна зберігатися протягом певного часу до здійснення виробництва целюлози щоб уникнути проблем, пов'язаних із яюстю та обробкою Під час зберігання деревина зазнає важливих змін у хімічному складі Наприклад, деякі леткі сполуки зникають, кількість віль них та зв'язаних кислот зростає насичені зв'язки окислюються, відбувається гідроліз складних ефірів тощо Однак у виробництві деревно-стружкових плит на ці факти не звертали значної уваги, а замість цього робили висновок про те, що вирішення проблем обробки та якості, більш ймовірно, гальмується через ЗМІНИ у ЯКОСТІ зв'язувальної речовини До цього часу не було встановлено вірогідного зв'язку між результатом аналізу матеріалу деревний та властивостями плити, хоча існувало припущення, що є зв'язок між вмістом кислота та оброблюваністю деревини Дослідження частинок деревної сировини за допомогою способу аналізу ВІДПОВІДНО ДО ЦЬОГО винаходу показали наявність дуже тісних зв'язків між величинами деревини, що вимірюються та аналізуються, і властивостями плити, наприклад, із вмістом у плиті вільного формальдегіду, який зараз є дуже важливим, зважаючи на вельми суEGpi умови навколишнього середовища, а також МІЦНІСТЬ та ВОДОСТІЙКІСТЬ Інформація про ДСП та способи їх виготовлення є у роботі "Сучасне виготовлення деревностружкових плит та деревно-волокнистих плит у сухий спосіб" Томаса М Малоуні (1993 р ) (порівняйте особливо глави 4 й 5), яку включено тут повністю шляхом посипання Принципи спектроскопії ВІЧ описано П Уїльямсом, К. Норісом у роботі "Нова інфрачервона технологія у сільськогосподарській та харчовій промисловості" (1987 р), ААСС, Сент-Под штат Мінесота та Є Стерком, К Латчером у роботі 'Аналіз ближньої інфрачервоної зони (АВІЗ), технологія для КІЛЬКІСНОГО та якісного аналізу" (1986 р )(Огляд прикладно) електроскопи 22 4), які включено сюди шляхом посилання Використання багатовимірного інформаційного аналізу у визначенні параметрів багатокомпонентних систем зараз є галуззю розвитку Ці статистичні методи які застосовуються, головним чином, у хімії, також називаються методами хемометри Спосіб хемометри було повністю представлено у роботі С Д Брауна "Хемометрія", Аналітична хімія, 62, 84R-101R (1990 р ), яку включено сюди повністю шляхом посилання Термін "плита" у цьому описі та формулі винаходу включає такі типи пли т ДСП, деревноволокнисту плиту середньої ЩІЛЬНОСТІ (ДВПСІЦ), вафельну плиту, плиту з орієнтованими пучками (ПОП), цупкий будівельний картон та фанеру Змінними процесу, які впливають на якість плити, є наприклад, деревна сировина, тобто сорт деревини, рівень дозрівання, структура частинок а також розмір та вміст вологи, утворення частинок, типу частинок Хомбак-Мейера, сушарка ґі температура на вході та виході, вологість висушених частинок, параметри сортування, типу частинок для поверхні і середнього шару, концентрація пилу, клас крупності, вміст вологи, температура частинок, змінні змішувача клею та струккч, типу частини для середнього та зовнішнього шарів, установки масштабу температури частинок, КІЛЬКОСТІ клею, вмісту воску, вміст вологи, охолоджувальна вода, ЗМІННІ ділянки формування, типу питомої ваги, товщини тощо, змінні пресу попереднього пресування, типу тривалості пресування й 28105 температур, змінні гарячого пресування типу тривалості пресування, тиску, температури, ЗМІННІ охолодження, типу температури й змінні шліфування, типу чистоти поверхш У працях 48-оґ щорічної загальної конференції Аппіта (що проходила у Мельбурні, Австралія, 2-6 травня 1994 р ) Медер та ін представили статтю під назвою "Прогнозування властивостей деревних стружок та целюлози й паперу за допомогою багатовимірного аналізу спектральних даних" (стор 479-484) Згідно із заключною частиною статті (стор 484), Мейерта ін застосовували аналіз ОКР спектрів FTIR (дальньої інфрачервоної зони), БІЧ та NMR1 (ближньої проміжної зони) зразків деревної стружки для прогнозування ХІМІЧНОГО складу стружок (тобто фактично для визначення зазначеного складу зі спектрів) та для спроби (хоча, як ясно показано у статті, не дуже успішної) прогнозування деяких фізичних властивостей крафт-целюпози та термомеханічної деревної маси і властивостей паперу У статті, однак, не запропоновано ніякого способу для якісного чи кількісного визначення параметрів деревних панелей, утворених з деревної сисовини, що надходить для обробки та виготовлення деревних панелей, практично ніякого способу для управління будь-якими змінними обробки у такому npoqecj Найбільш близьким до пропонованого винаходу за технічною суттю є спосіб якісного або КІЛЬКІСНОГО визначення параметрів деревної панелі, яка виготовляється з деревної сировини, що надходить на обробку для виготовлення деревних панелей, з використанням спектрометричного аналізу /С Kniest, "Charaktensierung von Span-LeimGemischen " Holz, ais Roh-und Werkstoff 50 (1992) 73-78/ Відповідно ДО зазначеного способу суміш тирси з клеєм характеризується за допомогою БІЧспектроскоіп у поєднанні з лінійною множинною регресією Однак, на стор 77 у 3-му пункті 2-го параграфа стверджується, що вимірювання несклеєних зразків не є можливим через призначення запитуваних даних для моделювання процесу кожної плити [Zur Durchfurung оg Industneversuche ist die Messung der zugehungen unbeleimten Probe aufgrund der fur die Prozessmodellierung notwendigen Datenzuordnung zurjeweiligen Spanplatte nicht mugiich] З цього посилання видно, що очевидним є той факт, що фахівець у цій галузі техніки не розглядав, а ні можливості прогнозування властивостей плити на основі несклеєних частинок, а ні визначення таких властивостей неруйнівним контролем виготовленої плити, і проблема пошуку ефективного оперативного до процесу, у процесі чи після подання на технологічну лінію сировини з визначенням параметрів, що характеризують плиту залишилася невирішеною Параметрами, які стосуються цього питання і які визначають властивості плити, є, наприклад, ЩІЛЬНІСТЬ та профіль ЩІЛЬНОСТІ, внутрішнє зчеплення, розбухання по товщині, абсорбція, проникність, величина перфоратора межа МІЦНОСТІ при вигинанні чи крутінні, параметри, що стосуються летких органічних сполук (ЛОС), та величини емісійних камер Щільність тут є тим самим, що й питома вага, і, як правило, визначається за допомогою зважування смуг плити з відомим об'ємом та ділення маси на об'єм Значення виражаються у кг/м3 Внутрішнє зчеплення (ВЗ) є властивістю даної плити протистояти розтягненню перпендикулярно площині плити Результат залежить від вмісту смоли та ЩІЛЬНОСТІ плити, в обох випадках це майже лінійна функція Розбухання по товщині вимірюють примішуючи зразок із визначеним розміром у воду при температурі 20 або 23°С на період 2-24 години Товщину зразка вимірюють перед та після вимочування Різницю товщий ділять на первісну товщину й виражають у відсотках Розбухання по товщині є мірою здатності плити протистояти, наприклад, несподіваному дощу чи фарбі на ВОДНІЙ ОСНОВІ тощо Величину абсорбції, як правило, визначають за допомогою того самого зразка, що використовувався для вимірювання розбухання по товщині Зразок зважують перед та після дії води Різницю ваги ділять на первісну вагу та виражають у відсотках Величину абсорбції можна використовувати для прогнозування поведінки плити у суворих умовах Величину проникності одержують шляхом засмоктування повітря крізь зразок (краї плити ущільнюють парафіном), і перепад тиску через плиту вимірюють разом з потоком повітря крізь зразок Проникність змінюється по поверхні плити залежно від зміни ЩІЛЬНОСТІ плити, але як правило існує добрий зв'язок між середньою проникністю та величиною емісії формальдегіду Проникність оцінює опір, який формальдегід має при витіканні з плити Ці величини виражають у см/хвилину Величина перфоратора виражає вміст формальдегіду у ПЛИТІ ПрИ ПеВНОМу ВМІСТ! ВОЛОГИ (6,5%) Формальдегід одержується шляхом екстрагування з плити в толуолі Вивільнений формальдегід абсорбується у воді та, визначається фотометрично Як можна очікувати, існує зв'язок між величиною перфоратора та емісією формальдегіду з плити і, отже, метод перфоратора є ухваленим методом у багатьох країнах Ці величини виражаються у мг НСНО/100 г висушеної у печі плити Спосіб емісійних камер тепер прийнято у всьому СВІТІ як найбільш точний спосіб визначення виділення формальдегіду з деревних плит чи інших матеріалів Умови у камері встановлюють з метою моделювання умов у звичайному домі Розмір камери у різних країнах змінюється від 1 м3 до 40 м 3 Температура змінюється від 23 до 25°С, навантаження змінюється від 0,3 м /м 3 до 2 3 1,0 м /м , відносна ВОЛОГІСТЬ - від 45 до 50%, а швидкість повітрообміну- ВІД 0,5 до 1,0/год Зразки плит встановлюють вертикально на деякій відстані у стійках в камері Беруть зразки повітря, аж доки не буде досягнуто стаціонарного стану, що як правило займає 3-10 днів Величини виражають у р р т НСНО (мільйонних частин НСНО) або мг НСНО/м3 Профіль ЩІЛЬНОСТІ є мірою функції, що утворює мат, та функції тиску а також геометричної форми і складу суміші частинок деревини Зараз профіль вимірюють за допомогою апаратури з 28105 рентгенівськими променями, здатної вимірювати ЩІЛЬНІСТЬ для кожного 0,1 мм між поверхнями Нормальний профіль ЩІЛЬНОСТІ для ДСП демонструє щільності поверхні 1100 кг/м3, які зменшуються до 600 кг/м3 у внутрішньому шарі Таким чином, протягом ряду років було проведено велику дослідну роботу, щоб знайти рішення названої проблеми, але до цього (пропонованого) винаходу схожого рішення не було Найбільш близьким до пропочованого способу управління є спосіб управління змінними процесу, що впливають на параметри деревної панелі, яку виготовлюють з деревної сировини що надходить на обробку для виготовлення деоевних панегей /Р Niemz et al, "Onentierendo Untersuchungen zur " "Holz als Roh- und Werkstoff 50 (1992), crop 25-28/ У зазначеній статті Ніємця та інших встановлене, що на якість пли^и впливає вміст твердих смол та співвідношення деревини листяних порід хвойних порід Ніємцьтаїн використовували спектроскопію БІЧ для кількісного визначення частини сечовиноформальдепдної смоли у стружці та відношення концентрацій компонентів суміші деревини листяних порід до дереаини хвойних порід Мета досліджень що їх виконували, полягала у тому, щоб встановити, чи підходить цей процес для перевірки сечовиноформальдепду на деревній тирсі, яку склеюють, та для отримання відношення концентрацій компонентів суміші деревини листяних порід до деревини хвойних порід У зазначеній статті було також встановлено, що метод БІЧ можна застосовувати v поєднанні з ЛІНІЙНОЮ множинною регресією для неавтономного та автономного управління вологістю деревини і для аналізу хімікатів та сільськогосподарських продуктів Крім того, було встановлено, що Норріс у 1962 р для КІЛЬКІСНОГО аналізу харчових продуктів та комбікормів застосував метод БІЧ, поєднаний з методами математичної статистики (хемометрп), який пізніше було використано для КІЛЬКІСНОГО аналізу у класичній хімії Але зазначений спосіб не забезпечує повного використаннязнайдених параметрів при управлінні процесом виготовлення ДСП-панелі За основу пропонованих винаходів взято завдання створення таких засобів способу якісного та КІЛЬКІСНОГО визначення параметрів ДСП-панелі та способу управління змінними процесу 1 вигото1 влення, які б дозволили встановити і використати вірогідний зв'язок між результатом аналізу матеріалу деревини та властивостями плити Поставлена задача вирішується при використанні пропонованого способу якісного або КІЛЬКІСНОГО визначення параметрів деревної панелі, яка виготовляється з деревної сировини, що надходить на обробку для виготовлення деревних панелей, з використанням спектрометричного аналізу який відповідно до винаходу, включає спектрометричний аналіз деревної сировини або деревної панелі, які мають вміст вологи менше 10%, а під час спектрометричного аналізу визначають спектральні характеристики цієї деревної сировини та деревної панелі, й порівнюють зазначені спектральні характеристики з еталонними спектральними характеристиками, що отримані за допомогою спектрометричного методу для еталонної деревної сировини або еталонних деревних панелей, вміст вологи в яких нижче н 0 % та зідчаліброваних за відомими параметрами деревних панелей, виготовлених із зазначеної еталонної деревної сировини, збо за відомими параметрами еталонної деревної панелі за допомогою багатовимірного аналізу Особливістю пропонованого способу є й те, що отримані спектральні характеристики деревної сировини чи деревної панелі, які мають вміст вологи нижче 10%, об'єднують у комбінацію із зміньою процесу та порівнюють зазначену комбінацію з еталонними комбінаціями які одержують шляхом об'єднання еталонних спектральних характеристик що отримуються за допомогою зазначеного спектрометричного методу для еталонної деревної сировини або для еталонних дереаьмх панелей, які мають вміст вологи менше 10%, з еталонними змінними процесу, причому використовують еталонні комбінації які відкалібровані за відомими параметрами деревних панелей, як' було виготовлено із зазначеної еталонної деревної сировини, або за відомими параметрами зазначеної еталонної деревної моделі, за допомогою багатовимірного анал(зу Особливістю способу є й те що здійснюють спектральний аналіз деревної сировини й отримані спектральні характеристики порівнюють з еталонними спектральними характеристиками, отриманими для еталонної деревної сировини, причому ці еталонні спектральні дані відкалібровані за відомими параметрами деревних панелей, виготовлених з названої деревної сировини Особливістю способу окрім того є й те, що аналізують деревну панель і отримані спектральні характеристики порівнюють з еталонними спектральними характеристиками, одержаними від еталонних деревних панепей, причому ці еталонні спектральні характеристики відкалібровані за відомими параметрами зазначених еталонних деревних панелей за допомогою багатовимірного аналізу Ще однією особливістю способу є и те що в якості деревної панелі використовують плиту Особливістю способу є й те, що в якості плити використовують деревно-стружкову плиту Особливістю способу є також і те, що розробляють модель калібрування шляхом реєстрації за допомогою спектрометричного методу еталонних спектральних характеристик сировими еталонних зразків еталонної деревної сировини чи еталонної деревної панелі обробляють еталонні спектральні характеристики сировини із забезпеченням зменшення шумів та регулювання дрейфу та дифузної відстані світла, здійснюють калібрування оброблених еталонних спектральних характеристик з урахуванням відомих парзметрів еталонних зразків шляхом виконання аналізу характеристик, включаючи багатовимірний аналіз, і реєструють з використанням спектрометричного методу спектральні характеристики сировини зразка деревної сировини та деревної панелі, що мають невідомі параметри, обробляють отримані спектральні характеристики сировини із забезпеченням зменшення шумів та регулювання дрейфу й дифузного розсіювання світла, і застосовують розроблену модель калібрування до оброблюваних спектральних характеристик для визначення невідомих параметрів 28105 Особливістю способу є й те що на етапі калібрування оброблених еталонних спектральних характеристик з урахуванням відомих параметрів еталонних зразків шляхом виконання аналізу характеристик, який містить багатовимірний аналіз, що включає перетворення оброблюваних еталонних спектральних характеристик у приховані ЗМІННІ, І на етапі обробляння отриманих спектральних характеристик сировини оброблювані спектральні характеристики перетворюють на приховані ЗМІННІ, як на етапі калібрування оброблених еталонних спектральних характеристик з урахуванням відомих параметрів еталонних зразків шляхом виконання аналізу характеристик, включаючи багатовимірний аналіз, та розроблену модель калібрування застосовують до прихованих змінних, щоб визначити невідомі параметои Особливістю способу є й те, що спектрометричний метод є абсорбційним відображувальним, емісійним або пропускним спектрометричним методом Особливістю способу є й те, що деревна сировина та деревна панель або еталонні деревні панелі висушують до вмісту вологи менше 8%, більш прийнятне, нижче 4% Особливістю способу є й те, що використовують деревну сировину, яка містить частки поверхні або внутрішнього шару, або ті й інші разом Особливістю способу є й те, що спектрометричний метод є методом спектрів ближньої інфрачервоної зони Особливістю способу є й те, що параметри плити, які підлягають визначенню, вибирають з щільності профілю ЩІЛЬНОСТІ, внутрішнього зчеплення, розбухання по товщині, величини абсорбції, величини проникності, величини перфоратора та величини емісійних камер Особливістю способу є й те що багатовимірний аналіз вибирають з основного компонентного аналізу, регресії часткових найменших квадратів, основної компонентної регресії, аналізу полілінійноі регресії та дискримінантним аналізом Особливістю способу є й те, що використовуваний багатовимірний аналіз здійснюють шляхом регресії часткових найменших квадратів Поставлена задача вирішується і за допомогою пропонованого способу управління змінними процесу, що впливають на параметри деревної панелі, яку виготовлюють з деревної сировини, що надходить на обробку для виготовлення деревних панелей, який відповгдно до винаходу, включає етапи аналізу деревинної сировини та деревної панзлі, що мають вміст вологи нижче 10%, за допомогою спектрометричного методу, і визначення спектральних характеристик цієї сировини або панелей та порівняння зазначених спектральних характеристик з еталонними спектральними характеристиками, які одержано за допомогою спектрометричного методу для еталонної деревної сировини або еталонних деревних панелей, виготовлених з еталонної деревної сировини в процесі виготовлення деревних панелей, що мають вміст вологи 10%, а всі еталонні спектральні характеристики відкалібровують за змінними процесу за допомогою багатовимірною аналізу Пропоновані винаходи спрямовано на одержання якісного та КІЛЬКІСНОГО визначення різнома нітних параметрів, що відбивають якість плити та інших деревних панелей, і може визначати змінні процесу, якими управляють на основі зазначених параметрів Винаходи, більш конкретно, стосуються спектроскопічного способу для миттєвого та безперервного аналізу різних параметрів, які відбивають якість плити, виготовленої з деревної сировини, що надходить, переважно висушених частинок поверхні та середнього шару, чи самої деревної панелі За допомогою цих винаходів показано, що можна прогнозувати властивості плити і, завдяки цьому керувати процесом виготовлення плити, шляхом одночасного застосування спектроскопи БІЧ та багатовимірного калібрування деревної сировини, що надходить на завод, переважно висушених частинок поверхні та середнього шару Згідно З винаходом, аналізують деревну сировину, яка має вміст вологи менше від 10%, за допомогою спектрометричного методу який дає спектральні характеристики після чого зазначені спектральні характеристики порівнюють з еталонними спектральними характеристиками які одержано за допомогою зазначеного спектрометричного аналізу еталонної деревної сировини, яка має вміст вологи менший за 10%, причому ці еталонні спектральні характеристики відкалібровані за допомогою багатовимірного аналізу за відомими параметрами деревних панелей, які виготовлено з зазначеної деревної сировини Властивості деревних панелей також можна визначити за допомогою способу, який відповідає тій самій концепції, що заявляється, що містить етапи аналізу самої деревної панелі, яка має вміст вологи нижчий від 10%, шляхом спектрометричного аналізу, що дає змогу визначити спектральні характеристики, та порівняння зазначених спектральних характеристик з еталонними спектральними характеристиками які одержано за допомогою зазначеного спектрометричного методу від еталонних деревних панелей, які мають вміст вологи менший за 10%, причому ці еталонні спектральні характеристики відкалібровані за відомими параметрами деревних плит за допомогою багатовимірного аналізу Згідно З ОДНИМ варіантом втілення винаходу, деревну сировину чи деревну панель досліджують за допомогою спектрометричного аналізу, що дає спектральні характеристики, які потім об'єднують у комбінацію з однією чи кількома змінними процесу, І цю комбінац'Ю порівнюють з еталонними комбінаціями, які одержують шляхом об'єднання еталонних спектральних характеристик, що (х отримують за допомогою зазначеного спектрометричного аналізу еталонно* деревної сировини або еталонних деревних панелей, з еталонними змінними процесу і ці еталонні комбінації відкалібровані за відомими параметрами деревних панелей, виготовлених з зазначеної еталонної деревної сировини, або за відомими параметрами зазначених еталонних деревних панелей, за допомогою багатовимірного аналізу У цьому випадку вислів "об'єднуватись у комбінацію" означає що комбінація представляє математичну функцію спектральних характеристик однієї чи кількох змінних процесу де остання, таким чином, представляє незалежні ЗМІННІ для функції, це означає що зазначені 26105 незалежні ЗМІННІ як правило, повинні вводитись у якесь математичне вираження чи формулу, коли потрібно визначати залежну змінну, тобто "комбінацію" Згідно З ОДНИМ варіантом втілення цей винахід стосується використання БіЧ-спектроскопи висушених частинок поверхні або внутрішнього шару, чи і того й іншого, плити у поєднанні з багатовимірним аналізом одержаного спектра для калібрування виготовлення плити Зг/дно З винаходом, показано, що можна безпосередньо й безперервно визначати різні параметри плити та інших деревних панелей, переважно ЩІЛЬНІСТЬ, профіль щільності внутрішнє зчеплення, розбухання по товщині, величину абсорбції, величину проникності, величину перфоратора та величину емісій-іих камер, шляхом визначення спектрів сировини плит, що мають вміст вологи менший від 10%, та перетворення цих спектрів на зазначені параметри за допомогою методу багатовимірного калібрування Цей спосіб можна використовувати для визначення, тобто управління, змінними процесу у ході виготовлення плит Застосовним спектрометричним методом може бути абсорбційна, відображувальна, емісійна спектрометрія чи спектрометрія пропускання, яка більш прийнятно здійснюється у так званому ближньому інфрачервоному (БІЧ) діапазоні довжин хвиль Зокрема, показано, що можна безпосередньо та безперервно визначати спектр абсорбції чи пропускання висушених деревних частинок поверхні та внутрішнього шару, що утворюють основу плити, і за допомогою використання названих значень на дискретних довжинах хвиль з цих спектрів обчислювати різноманітні параметри плити ЦІЛІ ЦЬОГО винаходу досягаються шляхом аналізу деревної плити чи її вихідно( сировини, що має вміст вологи менший від 10%, переважно сухої поверхні або частинок внутрішнього шару, у лінії обробки за допомогою спектрометричного методу, зокрема, в діапазоні довжин хвиль у межах 18Q-2500 нм, ПІДХОДИТЬ й 400-2500 нм, і особливо 1000-2500 нм, і застосування хемометричноі оцінки спектра Цей спосіб забезпечує можливість миттєвого та безперервного аналізу різноманітних параметрів, що відбивають якість плити чи інших деревних панелей, І за допомогою якого можна визначити ЗМІННІ, що управляють процесом Спосіб більш прийнято застосовують до сировини та деревних плит, виготовлених з такого матеріалу, який висушено у подібній сушарці та заводі, що виготовляє плити, більш прийнятно деревну панель чи сировину, зокрема, частинки поверхні та внутрішнього шару висушують за умов, які відомі фахівцям у цій галузі техніки, до рівня вологи менше за 30,8%, більш прийнятно нижче 4% Цей винахід є сприятливим, наприклад, у тому, що низький вміст вологи сприяє відтворюваним результатам вимірів в іншому разі волога має тенденцію блокувати чи викривляти спектрометричну інформац'ю Крім того, вважають, що леткі сполуки натурального чи синтетичного походження у сировині або панелі, які також можуть блокувати чи перекручувати спектрометричну інформацію, випаровуються з сировини або панелі, коли вміст вологи зменшується Таким чином, завдяки виконанню аналізу при досить низькому вмісту вологи, можна одержати найбільш повну спектрометричну інформацію що гарантує більшу точність та відтворюваність результатів вимірів Щодо сировини, то, певно, велика перевага поляїає в тому, що аналізують матеріал, коли ВІН перебуває у стані, близькому до того, у якому він дійсно буде використовуватись у процесі виготовлення, тобто коли він є досить сухим Деревна панель більш прийнятно є плитою, що відповідає деревно-стружковій плиті (ДСП) Багатовимірний аналіз, що його виконують згідно з цим винаходом, може бути основним компонентним аналізом (ОКА), регресією часткових (окремих) найменших квадратів (РЧНК), основною компонентною регресією (ОКР), аналізом полілінійної регресії (АПР) чи дисктримшантним аналізом, більш прийнятно регресією часткових найменших квадратів Спосіб, що відповідає цьому винаходу, також можна застосувати у способі управління змінними процесу, які впливають на параметри деревної плити, що виготовляється з деревної" сировини, яка надходить на обробку для виготовлення деревних панелей, у цьому випадку цей спосіб можна використовувати для визначення параметрів плити, причому ця інформація потім надходить до системи управління процесом Крім того, можна сконструювати систему управління, у якій спектри що їх одержують, на вибір, після зменшення шуму або дрейфу базової Ліни, вводяться безпосередньо до системи для установки змінних процесу без перетворення спектрів у параметри плити, це можна виконати належним чином, створивши модель калібрування у ЯКІЙ ЗМІННІ процесу виражаються у вигляді функцій та параметрів панелі і спектральних даних, і потім використовуючи модель при реальному виготовленні, при якому спектральні характеристики одержують, аналізують сировин/ тобто параметри на вході, або параметри виготовлення плити або параметри на виході, і повязан! з потрібними параметрами панелі, задають потрібні ЗМІННІ процесу Згідно з одним варіантом втшення винаходу аналізують деревну плиту, що має вміст вологи менше 10%, за допомогою спектрометричного методу, визначають спектральні дані, і одержані таким чином спектральні дані порівнюють з етапонними спектральними даними, одержаними за допомогою зазначеного спектрометричного аналізу еталонних деревних панелей, виготовлених у названому процесі з еідомими змінними процесу, причому зазначена еталонна панель має вміст вологи нижче 10%, і параметри зазначеної еталонної деревної панелі ВІДОМІ, Й ЦІ еталонні спектральні дані від калі брова ні згідно з названими відомими змінними процесу за допомогою багатовимірного аналізу Згідно З ІНШИМ варіантом втілення винаходу аналізують так само деревну сировину чи деревну панель, що має вміст вологи менший від 10% за допомогою спектрометричного методу, що дає змогу визначити спектральні характеристики, які порівнюють з еталонними спектральними характеристиками, отриманими за допомогою зазначеного спектрометричного аналізу деревної сировини, що використовується, чи еталонних деревних панелей, які виготовлено з названої еталонної дерев 28105 ноі сировини, при еталонному процесі для виготовлення деревних панелей, що мають вміст вологи менше 10%, і ці еталонні спектральні дані відкалібровані за змінними процесу, які застосовуються у зазначеному еталонному процесі, за допомогою багатовимірного аналізу Згідно З ще одним варіантом втілення винаходу аналізують деревну сировину чи деревну панель, які мають вміст вологи менше 10%, за допомогою спектрометричного аналізу, який дає змогу отримати спектральні дані, які об'єднують у комбінацію принаймні з одним потрібним параметром, і зазначену комбінацію порівнюють з еталонними комбінаціями, одержаними шляхом об'єднання еталонних спектральних даних, отриманих за допомогою названого спектрометричного аналізу еталонної деревної сировини чи еталонних деревних панелей, які мають вміст вологи менше 10%, з відомими параметрами зазначеної еталонної деревної сировини чи зазначених еталонних деревних панелей, де еталонну комбінацію відкалібровано згідно з відомими змінними процесу за допомогою багатовимірного аналізу Технічно, спектрометричний аналіз можна виконувати за допомогою централізованого волоконно-оптичного зонда, який включається чи який включено до процесу, або за допомогою відбору окремих зразків для окремого аналізу В обох випадках спектри є об'єктом для подальшого оброблення даних, з використанням значення від кількох дискретних довжин хвиль з кожного конкретного спектра Має бути зрозумілим, що випромінення, яке використовується у спектрометричному методі, спрямовують безпосередньо на сировину чи деревну панель Це можна виконати, використовуючи скануючий вимірювальний прилад, вимірювальний прилад з дюдною матрицею, пристрої перетворення Фурьє або якесь інше аналогічне обладнання, що відоме фахівцям у цій галузі техніки Оцінка довжин хвиль, яка містить поглинання чи проходження, забезпечує характеристики, придатні для аналізу За допомогою застосування хемометричного методу до одержаних спектрів потім можна не враховувати довжини хвиль, які не містять інформації, що робить внесок у ХІМІЧНИЙ аналіз, навіть якщо вимір включає інформацію ВІД усього діапазону хвиль Визначення та управління параметрами плити шляхом використання спектрометричного вимірювання має два основних етапи, перший з яких являє собою розробку моделі калібрування, що включає підетапи розробки навчальних множин обробки даних, та аналізу даних шляхом використання частинок поверхні та середнього шару, які мають відомі значення параметрів Другий основний етап являє собою спектрометричний аналіз зразка, що має невідомі значення параметрів, обробку спектральних даних, за якими факультативно йде аналіз даних, і застосування моделі калібрування, яку розроблена на першому основному етапі, до одержаних завдяки цьому даним Один варіант втілення винаходу являє собою аналіз спектра ближньої інфрачервоної зони у діапазоні довжин хвиль 400-2500 нм, зокрема, 10002500 нм висушених частинок поверхні та середнього шару, і застосування хемометричної оцінки спектрів для обчислення параметрів частинок, таких, наприклад, як ЩІЛЬНІСТЬ, профіль щільності, внутрішнє зчеплення, абсорбція, проникність, величина перфоратора та величини ем сійних камер Зв'язок між змінними та результатами, отриманими за допомогою БІЧ-вимірювань висушених частинок поверхні та середнього шару, є очевидним з таблиць та при порівнянні наведених у них даних Згідно З більш прийнятним варіантом втілення винаходу цей спосіб має етапи 1) Розробки моделі калібрування шляхом 1а) реєстрації за допомогою спектрометричного аналізу еталонних спектральних характеристик сировини еталонних зразків деревної сировини чи деревної панелі, 1Ь) обробки еталонних спектральних характеристик сировини, з метою зменшення шуму та регулювання дрейфу і дифузійного розсіювання світла, 1с) калібрування оброблених еталонних спектральних характеристик з урахуванням відомих параметрів еталонних зразків шляхом аналізу даних, що включає багатовимірний аналіз 2) Реєстрації за допомогою зазначеного спектрометричного аналізу спектральних характеристик сировини зразка деревної сировини чи деревної панелі, що мають невідомі параметри обробки одержаних таким чином спектральних характеристик сировини з метою зменшення шуму та регулювання дрейфу та дифузійного розсіяння світла, і застосування розробленої моделі калібрування до оброблюваних спектральних характеристик для визначення невідомих параметрів Багатовимірний аналіз у підетапі (1с) більш прийнятно включає перетворення спектральних характеристик на приховані ЗМІННІ, а на тдетапі (2) оброблені спектральні характеристики більш прийнятно перетворюють на приховані змінні, як у підетапі (1с), і розроблену модель калібрування застосовують до прихованих змінних для визначення невідомих параметрів Перетворення у приховані ЗМІННІ здійснюють за допомогою основного компонентного аналізу (ОКА) Цей більш прийнятний варіант втілення винаходу нижче обговорюється докладніше 1) Розробка моделі калібрування Для ряду зразків параметри плити вимірюються у традиційний спосіб Потім значення використовуються у розробці моделі калібрування, де до абсорбційного, відображувального або емісійного спектрам, що реєструються, зазначених зразків застосовуються три підетапи, які обговорюються нижче 1а) Розробка навчальних множин Навчальні множини моделі складаються з великої КІЛЬКОСТІ спектрів абсорбції або пропускання від зразків з відомими значеннями, які більш прийнятно повинні відбивати ЛІНІЮ виробництва Навчальні множини використовуються у хемометричних алгоритмах для обрахування результуючих параметрів моделі 1Ь) Обробка даних Для зменшення шуму та регулювання дрейфу базової Ліни спектральні характеристики сировини потрібно піддати обробці Ця обробка може відби 23105 вати приховану інформацію такого типу як ідентичність очевидно несхожих спектрів чи неідентичні сть очевидно дуже схожих спектрів Більше того припущення, що ведуть до закону Беєра (який стверджує, що для даних коефіцгєнта поглинання та довжини оптичного шляху у середовищі, що поглинає, загальна кількість світла що поглинає, є пропорційною Е^олекулярній концентрації зразка), не завжди виконуються у комплексній системі, яку складають зразки Це зумовлено рядом чинників, які часто можна виявити у промислових та лабораторних зразках Іншим ускладнюючим фактором є зміни розсіювання світла, які залежать БІД частинок у зразку Щоб подолати цю проблему розроблено різні теорк, найбільше використовуються з них такі перетворення Кубелки-Манка (П Кубелка, Ф Манк, Z Tech Physik (Технічна фізика) 12, (1931 р), стор 593, що його включено сюди шляхом посилання, яке враховує поглинання та розсіювання, та корекція мультиплікативного розсіювання (П Геладі Д Мак-Дугалл, X Мартенз, АррІ Spect (Прикладна спектроскопія), 39, (1985 р ) стор 491-500, яку включено сюди шляхом посилання, де кожен спектр "коригується" за зсувом та нахилом шляхом порівняння його з "ідеальним" спектром (середній спектр) Інший спосіб лінеаризації спектральних характеристик також реалізується шляхом використання похідних наприклад, аж до похідних четвертого порядку (А Савицький, № Дж Е Голей, Аналітична хімія (Anal Chem ) 36, 1964 р), стор 1627-1639, який включено сюди шляхом посилання Похідна спектра дає перетворений спектр, що складається лише з відносних змін між сусідніми довжинами хвиль, і було показано, що з концентрацією ПІКОВІ інтенсивності похідних спектрів мають тенденцію ставати більш ЛІНІЙНИМИ (Т С О'Хавер, Т Беглі, Аналітична хімія {Anal Chem) 53, (1981 р), стор 1876 який включено тут шляхом посилання) Лінеаризацію також можна виконати, використовуючи перетворення Фурьє чи перетворення стандартної нормованої випадкової змінної, як це розкрито у роботі РДж Барнза, М С Даноа та СДж Лістера, АррІ Spectrosc (Прикладна спектроскопія), том 43, число 5, (1989 р), стор 772-777, який включено тут шляхом посилання Іс Аналіз даних Аналіз характеристик при використанні хемометричних методів у цьому випадку дає змогу розробити модель калібрування Існує декілька хемометричних методів які можна використовувати наприклад, такі, як основний компонентний аналіз (ОКА), регресія часткових найменших квадратів (РЧНК), основна компонентна регресія (ОКР), аналіз ПОЛІЛІНІЙНОІ регресії (АПР) та дискримінантний аналіз Більш прийнятним хемометричним методом, що відповідає цьому винаходу є метод РЧНК Іс 1) Основний компонентний аналіз (ОКА) За допомогою ОКА множина корельованих змінних скорочується у меншу множину некорельованих змінних Це перетворення складається з повороту системи координат, внаслідок чого відбувається вирівнювання інформації по меншій КІЛЬКОСТІ осей ніж у первісному розташуванні Таким чином, змінні, які є корельованими відносно одна одної, будуть називатись одиничною катего рією Отже, за допомогою використання ОКА можна одержати невелику множину некорельованих змінних яка все ще відображає більшу частину інформації, яка була присутня у вихідній множині змінних але є значно більш зручною для використання у моделях В цілому, 2-15 основних компонентів пояснюють 85-98% розходження змінних Іс 2) Регресія часткових найменших квадратів (РЧНК) РЧНК є способом моделювання та розрахунків, за допомогою якого можна визначити КІЛЬКІСНІ співвідношення між блоками змінних, наприклад, блоком даних дескриптора (спектра) для сери зразків та блоком відповідних дан-зх, які виміряні ча цих зразках За допомогою КІЛЬКІСНОГО співвідношення між блоками можна вводити спектральні дані для нового зразка у блок-дескриптор та робити прогнозування очікуваних ВІДПОВІДНИХ характеристик. Одна велика перевага способу полягає в тому, що результати можна оцінювати графічно, за допомогою різних графіків У більшості випадків візуальні інтерпретації графіка є достатніми для одержання доброго розуміння різних співвідношень між ЗМІННИМИ Спосіб засновано на передбаченнях значень випадкових величин, аналогічно до ОКА Спосіб РЧНК більш докладно розкрито в роботі Р Карлсона "Конструювання та оптимізація в органічному синтезі" В Г М Вандепнст, О М Квалхейм та ІН "Обробка даних у науці й техніці" (Elsevier, 1992), том 8, який включено сюди шляхом посилання Іс 3) Основна компонентна регресія (ОКР) ОКР тісно пов'язана з ОКА та РЧНК Як і в ОКА, кожен об'єкт у блоці дескриптора проектується на простір з меншим числом вимірів які дають розрахунки та навантаження Потім розрахунки регресують відносно блоку ВІДПОВІДНИХ даних методом найменших квадратів що приводить до моделі регресії, яку можна використовувати для прогнозування, невідомих зразків Ті самі статистичні моделі як і в РЧНК та ОКА, можна використовувати для перевірки вірогідності моделі Як чудовий навчальний посібник щодо ОКА, РЧНК та ОКР див роботу П Геладі та ІН "Регресія часткових найменших квадратів Навчальний посібник" вПрацях аналітичної хімія (Anal Chim Acta) 185, (1986 р ) стор 1-32 який включено тут повністю шляхом посилання Іс 4) Аналіз ПОЛІЛІНІЙНО* регресії (АПР) За допомогою АПР визначається найкраща площина підгонки для параметрів плити в функції спектрів шляхом використання методу найменших квадратів для визначення кожної межі глощини Потім ЦЯ площина використовується для розпізнавання й визначення прогнозованої величини для невідомої величини параметра плити Цей технічний прийом взагалі є обмеженим відносно "чистими" системами, у яких немає ІСТОТНОГО взаємного впливу матриць, і, на відміну від РЧНК, він потребує більше об'єктів, ніж ЗМІННИХ Іс 5) Дискримінантний аналіз Це спосіб, завдяки якому, шляхом використання спектральних характеристик ВІДОМІ величини параметрів плити групують у різні групи елементів, розділені лінійними межами прийняття рішення На основі його спектра зразок з невідомими величинами параметрів плити потім можна погодити з 28105 ний параметр, X - фактично виміряний параметр, К - кореляційна постійна для моделі ВІДПОВІДНИХ характеристик (що показує нахил лінії), а М показує перетин лінії з віссю Y, тобто величину Y при нульовому значенні X в моделі Для ідеальної моделі відповідних характеристик К дорівнює 1, а М дорівнює 0 Величини К та М для різних вимірювань подано в таблиці 3 разом з коефіцієнтами кореляції моделей з дійсними величинами, які для ідеальної моделі дорівнюють 1, та усередненими погрішностями прогнозування Спеггроскопія на множині довжин хвиль, яка виконується на частинках поверхні та внутрішнього шару, з подальшою лінеаризацією спектральних даних та оцінкою багатовимірних даних (алгоритм РЧНК) використовувалась для визначення величин параметрів плит Еталонні зразки складались загалом з 10 зразків різного походження, як показано у таблицях, і завдяки цьому мали різні параметри Зразки було висушено до вмісту вологи між 0,9 та 2,3% й розсортовано на частинки поверхні і внутрішнього шару групою елементів, і величині параметра плити може бути присвоєно значення, наприклад, значення середньої величини групи елементів Це корисний технічний засіб для якісного відбору, але він потребує дуже великої бази даних для одержання статистично істотних результатів II Визначення за допомогою застосування моделі калібрування Після розробки моделі калібрування можна виконувати визначення невідомих величин шляхом реєстрації спектра поглинання чи проходження, згідно з підетапом (1а) Обробка одержаних у такий спосіб спектральних характеристик сировини, згідно з підетапом 1Ь) необов'язкове виконання аналізу даних на оброблених спектральних даних згідно з підетапом (1с), та застосування розробленої моделі калібрування до одержаних таким чином даних Тепер винахід буде проілюстровано за допомогою прикладів У лабораторії було зроблено п'ять плит, що досліджувались, які мають різний склад частинок, але одну й ту саму склеювальну речовину Було використано три різні види частинок сировини трьох різних ВІКІВ (старі, 3-МІСЯЧНІ Й сирі) У лабораторії їх висушили й розсортували на частинки поверхні та внутрішнього шару Кожен вік було представлено однією плитою, що вона досліджувалась, а четверта плита предсізаляла суміш трьох інших П'ята плита, що досліджувалась, являла собою еталонний зразок, що мав частинки поверхні та внутрішнього шару з комерційної продукції Суміші частинок плит подано нижче в таблиці 1 Склад суміші кожного зразка аналізували згідно з стандартними способами ВІЧ вимірювання кожного типа частинок здійснювали на пристрої AKZO NOBEL Analyscentrum у Нака, Швеція Вимірювальним приладом, що застосовувався, був FTБІЧ прилад Bomem 160 з елементом дрейфу Частинки поміщали у лабораторну склянку, і зразки сканували 16 разів на спектр між 1000-2500 нм На додаток до вимірювань, які зроблено згідно з відомим технічним прийомом на завершених плитах, проведено також дослідження розміру емісії кришками ексикатора (EXS-спосіб, який описано нижче), а також способу, у якому плиту поміщали у ящик і крізь неї засмоктували повітря (ВОХ-спосіб, який описано нижче) Результати виводились безпосередньо на монітор вимірювального приладу Interscans для формальдегіду Вимірювання яке найбільш близько відображає централізований спосіб на заводі, було зроблено на плиті з охолодженої сировини, коли повітря у кришці ексикатора мало температуру 30°С і потрібно було надавати інформацію незалежно від того, чи добре централізоване вимірювання формальдегіду збігалось з камерною величиною Результати зазначених вимірювань подано нижче в таблиці 2 3 метою отримання додаткової інформації з нормованих БІЧ спектоїв використовували програму Сиріус (Sinus) для багатовимірних даних Моделі відповідних характеристик для змінних частинок, а також змінних плит було утворено за допомогою 6 компонентів РЧНК Моделі відповідних характеристик можна виразити у вигляді рівняння Y=KX+M, тобто рівняння, що описує пряму ЛІНІЮ у звичайній системі координат X-Y, де Y являє собою прогнозова Фракція частинок поверхні Фракція частинок внутрішнього шару 0,5-2 мм 5-8 мм Для кожного складу було здійснено одне дослідження, що містило тришарові плити 2 і 4, і у той самий спосіб було здійснено дослідження суміші з трьох складів у рівних частинах Було проведено одне дослідження еталонних часток поверхні й внутрішнього шару У всіх дослідженнях використовувалась сечовиноформальдепдна смола UF 1155 фірми Каско Продаете АБ (Casco Products - АВ) Чотири плити було об'єднано у камерну ппиту Вимірювання емісії проводили за допомогою кришок ексикатора, а також повітря, яке засмоктувалось крізь плиту у ящику Після камерного випробування при кожному дослідженні проводили дослідження пзтової плити У таблицях використовувались такі скорочення Щшьн ЩІЛЬНІСТЬ ВЗ РТ 24 г Абс 24 г Пр ВП Внутрішнє зчеплення Розбухання по товщині Абсорбція Проникність, см/хвил Величина перфооатора фотометр , мгНСНО/ЮОг Швидкий емісійний спосіб, мг НСНО/літр Емісійна камера, мг НСНО/м3 Кришка ексикатора 0,82 дм2, з мірною стрічкою як Відстані ВІДНОСНО ПЛИТИ Крізь плиту засмоктувалось 3 літри повітря на хвилину Плита з нещодавно зпресоваНОІ сировини Температура 30°С Кришка ексикатора 0,82 дм 2 , з мірною стрічкою як відстані відносно плити Крізь плиту засмоктувалось 3 літри повітря на хвилину Плита з нещодавно спресованої сировини Температура 23°С Кришка ексикатора 0,82 дм 2 , з мірною стрічкою як відстані відносно плити Крізь плиту засмокту ШЕС Ем кам ЕКС ЗОХ ЕКС23°С ЕКС 1д 10 28105 Ящик4д Ящик 12д валось 3 літри повітря на ХВИЛІ;* ну ПолФована плита, 1 день Крізь плиту 4,8 д м 2 засмоктувалось повітря 5 л/хвил Полірована плита, краї закрито стрічкою, 4 дні Крізь пл/ту 4,8 дм засмоктувалось повітря 5 л/хвил Полірована плита, краї закрито стрічкою, 12 днів Ящик27д Ящикк-sk К.-ЇІЗЬ плиту 4,8 дм~ засмоктувалось повітря 5 л/хвил Полірована плита, краї закоито стрічкою, 27 днів Крізь плиту 4,8 дм засмоктувалось позггря 5 л/хвил Полірована плита, краї закрито стрічкою, вимірювання на дошці, яку досліджують у камері Таблиця 1 Суміші частинок для пресування Код плити Частинки поверхні ВІК Вопопсть, % 50185 Еталон частинки Норм про 2,3 50186 Комп 1 Старі 4,2 50187 Комп. 2 СВІЖІ 3,3 50183 Комп 3 3 МІСЯЦІ 3,5 50189 Комп 1+2+3 Суміш 3,8 50185 Еталон частинки Норм про 2,0 50186 Комп. 1 Ста р і 2,8 50187 Комп 2 Свіжі 2,9 50188 Комп. 3 3 місяці 3,2 50189 Комп 1+2+3 Суміш 3,1 Таблиця 2 ЗМІННІ ПЛИТИ ДЛЯ погодження з БІЧ-вимірюванням частинок поверхні та внутрішнього шару Код плити Щільн ВЗ РТ24г Абс 24 д Пр ВП БЕС Ем кам 50185 746 1,01 8,5 24,7 1,0 5,3 2,4 0,112 50186 756 0,82 16,8 35,8 0,7 4,7 25 0,091 50187 751 0,66 15,5 32 1 1,2 4,2 2,4 0,076 50188 760 0,76 17,2 36,5 1,3 4,5 2,6 0,081 50189 755 0,72 18,6 39,3 0,7 4,4 2,6 0,083 11 28105 Продовження таблиці 2 Код плити ЕКС 30°С ЕКС 23°С ЕКС1д PBLящик 4д PBLящик 12д PBLящик 27д PBLящик k-sk 50185 0,140 0,055 0,085 0,240 0,16 0,14 0,15 50186 0,070 0,055 0,055 0,225 0,19 0,17 0,16 50187 0,045 0,045 0,050 0,245 0,20 0,17 0,14 50188 0,055 0,045 0,040 0,320 0,22 0,19 0,14 50189 0,045 0,040 0,045 0,330 0,22 0,20 0,16 Таблиця З К М Кореляція Усереднена погрішність прогнозування Вологість 0,975 0,078 0,987 0,226 ЩІЛЬН 0,908 69,403 0,953 2,587 вз 0,998 0,002 0,999 0,034 РТ24г 0,996 0,057 0,998 0,467 Абс 24 г 0,999 0,034 0,999 0,510 Пр 0,872 0,125 0,934 0,148 Ем кам 0,984 0,0001 0,992 0,003 БЕС 0,991 0,021 0,996 0,013 ВП 0,997 0,016 0,998 0,103 ЕКС 30°С 0,996 0,000 0,998 0,008 ЕКС 23°С 0,966 0 002 0,983 0,004 ЕКС1д 0,975 0,001 0,987 0,004 Ящик 4д 0,980 0,006 0,990 0,017 Ящик 12д 0,995 0,001 0,997 0,005 Ящик 27д 0,997 0,000 0,999 0,005 Ящик k-sk 0,889 0,017 0,943 0,005 Параметр Як бачимо з таблиці 3, усі нахили К та кореляцн дуже близькі до ідеального значення 1 Більшість перетинів М дуже близька до ідеального значення 0, параметр ЩІЛЬНОСТІ Є очікуваним, однак у цьому випадку слід зазначити, що фактичні величини плити, яка вимірюється, знаходяться в 12 281C5 діапазоні ВІД 745 до 760, показуючи, що розходження відносно дійсних величин фактично було вельми малим, що також відображено у цьому випадку невеликою усереднено погрішністю протезування ДП "Український інститут промислової власності" (Укрпатент) Бульв Лесі Українки, 26, Київ, 01133, Україна (044)254-42-30, 295-61-97 Підписанододруку ^>- ^ ^ 2 0 0 1 р Формат60x84 1/8 Обсяг 7f¥ обл -вид арк. Тираж 50 прим Зам _ / £ е І ! УкрІНТЕІ Вул Горького, 180, Київ, 03680 МСП, Україна (044) 268-25-22 13