Прилад для контролю якості поверхні

Прилад для контролю якості поверхні, який складається з розрядно-оптичного пристрою, джерела електричного поля високої напруженості переривника імпульсів напруги та засобу вимірювання, який відрізняється тим, що додатково містить блок порівняння вимірюваного сигналу з еталонним, а розрядно-оптичний пристрій об'єднаний з фотоприймальним блоком. Корисна модель відноситься до приладів неруйнівного контролю, який здійснюється за допомогою газового розряду і може бути використаний у дефектоскопії та приладах контролю якості та стану певних об'єктів. Відомий прилад для дослідження точкової корозії електроду [1, 3], який складається з електроду, задаючого генератора, підсилювача потужності, блоку керування та блоку живлення, в якому в якості реєструючого елемента використовується певний фотоматеріал, наприклад фотопластинка, або фотопапір. Недоліком наведеного приладу є застосування в якості реєструючого елемента фотоматеріалу, що ускладнює процес підготовки до досліджень та збільшує тривалість досліджень через необхідність проявлення та сушки фотоматеріалу. Найбільш близьким до запропонованої корисної моделі є прилад для контролю якості поверхні [2], який складається з розрядно-оптичного пристрою, з'єднаного з оптичною системою та світловодом, за допомогою якого оптичний сигнал поступає до фотоприймача та засобу вимірювання. До складу пристрою входять також джерело електричного поля високої напруженості та переривник імпульсів напруги. Недоліком згаданого пристрою є складність конструкції, зумовлена використанням оптичної системи, яка передає оптичний сигнал з розряднооптичного пристрою на світловод, а з нього на фотоприймач вимірювального блоку. Крім того зазначена конструкція передбачає лише вимірю вання оптичного сигналу, який генерується при розряді, його аналіз здійснюється після вимірювань. Завданням запропонованої' корисної моделі є спрощення конструкції приладу та, методики вимірювань Зазначене завдання розв'язується тим, що прилад додатково містить блок порівняння вимірюваного сигналу з еталонним, а розряднооптичний пристрій об'єднаний з фотоприймальним блоком. Відповідність критерію "новина" запропонованому приладу для контролю якості поверхні забезпечує та обставина, що заявлена сукупність ознак не міститься ні в одному з об'єктів існуючого рівня техніки. У корисної моделі запропоновано рішення, принципово нове щодо приладів для контролю якості поверхні, яке полягає у тому, що прилад додатково містить блок порівняння вимірюваного сигналу з еталонним, а розрядно-оптичний пристрій об'єднаний з фотоприймальним блоком. Тому, ознаки, що не зустрічаються ні в одному з аналогів "прилад додатково містить блок порівняння вимірюваного сигналу з еталонним, а розрядно-оптичний пристрій об'єднаний з фотоприймальним блоком" забезпечує заявленому об'єкту необхідний винахідницькій рівень. Промислове використання винаходу не вимагає великих витрат, спеціальних матеріалів та технологій, його реалізація можлива на виробництвах України і за її межами. ю 11159 На Фіг наведена структурна схема приладу для контролю якості поверхні. Прилад складається з генератора імпульсів (1), розрядно-оптичного пристрою (2), об'єднаного з фотоприймальним блоком (3), вимірювального блока (4), індикатора (5), переривника імпульсів напруги (6), який регулює тривалість імпульсів, які поступають на розрядно-оптичний пристрій (2) з генератора імпульсів (1) та блок порівняння виміряного сигналу з еталонним (7) Запропонований прилад для контролю якості поверхні працює наступним чином При включенні генератора імпульсів (1) на розрядно-оптичний пристрій (2) подається висока імпульсна напруга. В розрядному проміжку розрядно-оптичного пристрою (2) з'являється зображення об'єкту, відоме під назвою ефекту Кірліан [3], яке фіксується фотоприймальним блоком (3) За допомогою переривника імпульсів (6) встановлюється тривалість імпульсів високої імпульсної напруги, які визначають тривалість розряду, і, відповідно, тривалість світіння поверхні об'єкту, який досліджується Фотосигнал з фотоприймального блоку (3) потрапляє на вимірювальний блок (4), який вимірює його у певних одиницях, при цьому виміряний сигнал порівнюється з еталонним сигналом за допомогою блоку (7), що дозволяє його оцінити. Величина фотосигналу в обраних одиницях та сигнал відповідності чи невідповідності (у порівнянні з еталонним сигналом) висвітлюються на індикаторі (5). В запропонованому приладі для контролю якості поверхні був використаний іскровий генератор, який працює у частотному діапазоні перестройки максимуму напруги від 50 до ЗООкГц з частотою слідування імпульсів 50Гц Амплітуда високочастотної напруги складала 5000В. Трива 1 ^ 2 лість імпульсу 5мс. В конструкції приладу розрядно-оптичного пристрій є вхідним вікном фотоприймача і міститься безпосередньо з ним в одному корпусі, що дозволяє суттєво спростити конструкцію припаду. Вимірювання фотосигналу здійснювалось за допомогою вимірювального блоку люксметраяркоміра ТЕС 0693 виробництва НВФ "Тензор". В запропонованій конструкції приладу блок порівняння виміряного сигналу з еталонним був представлений мікроконтролером РІС 14000-201/SP, який опоряджувався відповідним програмним забезпеченням, а індикація фотосигналу здійснювалась за допомогою рідкокристалічного дисплею LCDAC164A. Таким чином конструкція запропонованого приладі для контролю якості поверхні спрощена. При цьому підготовка до роботи приладу зводиться до включення живлення та встановлення тривалості імпульсів генератора, а методика оцінки отриманих результатів вимірювань полягає лише у знятті показів індикатора, на якому поряд із виміряною величиною висвітлюється позначка про результати вимірювань - позитивно чи ні. Джерела інформації: 1. Кожаринов В.А., Зацепин Н.Н., Домрод Н.Е. Электрогазорозрядный метод визуализации. Минск.: Наука и техника, 1986. с.15-16. 2. Ю.Г.Добровольский Использование эффекта Кирлиан для контроля качества полупроводниковых пластин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. -1999. -№5-6. -С.23. 3. Баньковский Н.Г., Короткое К.Г Изучение физики процесса газоразрядной визуализации ("Эффект Кирлиан") // Письма в ЖТФ. -1982 - 8.4. С.216-220. 4 3 7 Фіг. Комп'ютерна верстка Н. Лисенко 5 Підписне Тираж 26 прим Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП "Український інститут промислової власності", вул. Глазунова, 1, м. Київ - 42, 01601