Пристрій для визначення кількості зрідженого газу в ємності

Пристрій для визначення кількості зрідженого газу в ємності, що містить приєднаний до системи 3 15569 4 ного сигналу та приймання та обробляння прийняконтроля качества углеводородных топлив - М., того від датчика сигналу 5 може бути виконано, Энергоатомиздат, 2000, с. 213-217]. [наприклад, як за патентом України № 11006, За затримкою і сигналу Аі, відбитого від межі G01F23/28, 25.12.1996]. Неоднорідністю 6 хвилеподілу газової 3 та рідкої 2 фаз зрідженого газу, воду 4 може бути установлений в хвилеводі 4 визначають електромагнітну довжину L1e відстані штифт або гвинт. межі поділу газової 3 та рідкої 2 фаз зрідженого Під час роботи пристрою для визначення кільгазу від початку хвилеводу 4 і за допомогою навекості зрідженого газу в ємності 1 за допомогою деного вище співвідношення, виходячи з відомої хвилеводу 4 у газову 3 та рідку 2 фази зрідженого діелектричної проникності газової фази 3 зріджегазу посилають наданий системою 5 зондувальний ного газу в ємності 1, визначають фізичну довжину імпульсний електромагнітний сигнал А0 [наприLі відстані межі поділу газової 3 та рідкої 2 фаз клад, як описано за патентом України № 11006, зрідженого газу від початку хвилеводу 4. G01F 23/28, 25.12.1996] і приймають відбиті сигнаДіелектрична проникність 2 та густина 2 рідли: A1 - від неоднорідності 6, AI - від межі поділу кої фази 2 зрідженого газу в ємності 1 можуть бути газової 3 та рідкої 2 фаз зрідженого газу та Аз - від відомими. Діелектричну проникність 2 рідкої фази кінця хвилеводу 4. 2 зрідженого газу в ємності 1 можна також визнаЗа затримкою 1 відбитого від неоднорідності чити за допомогою наведеного вище співвідно6 сигналу А1 визначають електромагнітну довжину шення, виходячи з відомої фізичної довжини L2 L1e відстані від початку хвилеводу 4 до неоднорідхвилеводу 4 та електромагнітної довжини L2e хвиності б за формулою, відомою, наприклад, з делеводу 4 з урахуванням газової 3 та рідкої 2 фаз, клараційного патенту України на корисну модель визначеної за затримкою 2 сигналу А2, відбитого № 6630 [МПК7 G01B 15/02, G01F 23/28, заявка № від кінця хвилеводу 4, і виходячи з відомої або 20041008535 від 20.10.2004]. Знаючи фізичну доввизначеної відомим способом температури t2 ріджину L1e відстані від початку хвилеводу 4 до неодкої фази 2, відомим способом визначають густину норідності 6, визначають діелектричну проникність 2 рідкої фази 2 зрідженого газу в ємності 1. 1 газової фази 3 зрідженого газу в ємності 1 як За відомих розмірів ємності 1, розташування квадрат частки від ділення електромагнітної L1e межі поділу газової 3 та рідкої 2 фаз зрідженого довжини відстані від початку хвилеводу 4 до неодгазу в ємності 1 визначають об'єми газової 3 та норідності 6 на її фізичну довжину L1: 1=(L1e/L1)2 рідкої 2 фаз, і за відомих густин 1 газової фази 3 [подібно до способу, що описаний в заявці на вита 2 рідкої фази 2 визначають масу зрідженого дачу деклараційного патенту України на корисну газу в ємності 1. модель № u200505401 від 06.06.2005, МПК7 Всі обчислювання можуть виконуватися обчиG01B15/02, G01F23/28, G01N33/22]; а визначивши слювальним пристроєм, який є складовою частину будь-яким відомим способом температуру t1 газосистеми генерування зондувального імпульсного вої фази 3 зрідженого газу в ємності 1 [наприклад, електромагнітного сигналу та приймання та оброза допомогою датчика, відомого з патенту України бляння прийнятого від датчика сигналу 5. на винахід № 58755, G01F 23/28, G01K 3/06, Запропонований пристрій для визначення кі08.10.2002], виходячи з температури t1 та визналькості зрідженого газу в ємності за умови засточеної діелектричної проникності 1 визначають сування сучасної обчислювальної техніки дозвогустину 1 газової фази 3 зрідженого газу в ємності ляє швидко і точно визначити показники якості 1 [наприклад, способом, відомим за: Сквоцов Б.В., (діелектричну проникність, густину) та кількість Конюхов Н.Е., Астапов В.Н. Приборы и системы (масу) зрідженого газу в ємності. Комп’ютерна верстка Г. Паяльніков Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601