Спосіб визначення виду кристалурії
Номер патенту: 15758
Опубліковано: 17.07.2006
Автори: Владиченко Костянтин Анатолійович, Федорук Олександр Степанович, Єрмоленко Сергій Борисович
Формула / Реферат
Спосіб діагностики виду кристалурії, при якому проводять оцінку виду кристалів, який відрізняється тим, що оцінку виду кристалів проводять за допомогою лазерної поляриметрії з математичною обробкою отриманих даних, які характерні для кожного виду солей.
Текст
Спосіб діагностики виду кристалурії, при якому проводять оцінку виду кристалів, який відрізняється тим, що оцінку виду кристалів проводять за допомогою лазерної поляриметрії з математичною обробкою отриманих даних, які характерні для кожного виду солей. (19) (21) u200600497 (22) 19.01.2006 (24) 17.07.2006 (46) 17.07.2006, Бюл. № 7, 2006 р. (72) Владиченко Костянтин Анатолійович, Єрмоленко Сергій Борисович, Федорук Олександр Степанович 3 15758 4 Спосіб здійснюється наступним чином. Сечу площини падіння 0°, 90° ,+45°, обертають для козбирають у чисту ємність. Для отримання осаду жного з азимутів поляризації { i } лінійний полярисечу, залишають на 1-2 години. Після чого осад затор - аналізатор на такі кути { j } ретельно за допомогою піпетки збирають зі дна. відносно площини падіння 0°, 90° ,+45° і -45°, Проводять центрифугування отриманого матеріавимірюють відповідні рівні інтенсивності, за якими лу протягом 10 хвилин при 1500 оборотів у хвилисудять про анізотропію біооб'єкту. ну. Осад зі дна пробірки наносять на предметне Таким чином, застосування даного способу скло. Та проводять дослідження використовуючи для діагностики виду кристалурії забезпечує підвисококогерентне лінійно поляризоване інфрачервищення ефективності діагностики за рахунок відвоне випромінювання з подальшою математичною сутності необхідності використання хімічних реакобробкою даних. тивів, які необхідні для даного дослідження у Розв'язок поставленої задачі досягався завдяпрототипу, а також робить проведення та інтерпки тому, що використовують висококогерентне ретацію результатів даного виду діагностики незалінійно поляризоване інфрачервоне випромінюлежним від досвіду лікаря-лаборанта, внаслідок вання з довжиною хвилі 0,85 - 0,90мкм, формують наявності критеріальних математичних показників серію азимутів { i } лінійної поляризації в опромідля верифікації даних цього дослідження. нюючому пучку з кутами поляризації відносно Комп’ютерна верстка Л. Ціхановська Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for determining the kind of crystalluria
Автори англійськоюVladychenko Kostiantyn Anatoliovych, Yermolenko Serhii Borysovych, Fedoruk Oleksandr Stepanovych
Назва патенту російськоюСпособ определения вида кристаллурии
Автори російськоюВладиченко Константин Анатолиевич, Ермоленко Сергей Борисович, Федорук Александр Степанович
МПК / Мітки
МПК: G01N 33/487
Мітки: кристалурії, виду, визначення, спосіб
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-15758-sposib-viznachennya-vidu-kristaluri.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення виду кристалурії</a>
Попередній патент: Спосіб лікування тютюнової залежності
Наступний патент: Станина під робочу кліть стана холодної прокатки труб
Випадковий патент: Спосіб визначення загальної та залишкової кількості окалини на поверхні катанки