Спосіб діагностики стану шийки матки
Номер патенту: 52772
Опубліковано: 10.09.2010
Автори: Пустовалова Ольга Іванівна, Коблош Наталія Дмитрівна, Задорожна Тамара Данилівна, Кондратюк Валентина Костянтинівна
Формула / Реферат
Спосіб діагностики стану шийки матки, що включає розширену кольпоскопію, який відрізняється тим, що додатково проводиться рідинне цитологічне дослідження, оцінка реакції клітин у відповідь на їх обробку різноманітними хімічними засобами, та визначаються критерії діагностики фонових та передракових станів шийки матки.
Текст
Спосіб діагностики стану шийки матки, що включає розширену кольпоскопію, який відрізняється тим, що додатково проводиться рідинне цитологічне дослідження, оцінка реакції клітин у відповідь на їх обробку різноманітними хімічними засобами, та визначаються критерії діагностики фонових та передракових станів шийки матки. (19) (21) u201002130 (22) 26.02.2010 (24) 10.09.2010 (46) 10.09.2010, Бюл.№ 17, 2010 р. (72) ЗАДОРОЖНА ТАМАРА ДАНИЛІВНА, КОНДРАТЮК ВАЛЕНТИНА КОСТЯНТИНІВНА, ПУСТОВАЛОВА ОЛЬГА ІВАНІВНА, КОБЛОШ НАТАЛІЯ ДМИТРІВНА 3 52772 4 стабілізуючим розчином, матеріал центрифугують, ширеного кольпоскопічного дослідження: незавеза допомогою фотометричного зчитування визнаршена зона доброякісної трансформації. чають кількість клітин. Центрифугат розміщують Приклад 2. Хвора Ю., 33років. Діагноз: Хронічна предметному склі та фарбують стандартними ний двобічний сальпінгоофорит. Ерозія шийки малабораторними методами. тки. Кольпіт. Проведене обстеження шийки матки Суть способу, що заявляється підтверджуєтьзапропонованим способом. Результат рідинного ся наступними прикладами. цитологічного дослідження: тип мазка III а. РезульПриклад 1. Хвора З., 24років. Діагноз: Безплідтат розширеного кольпоскопічного дослідження: ність І, трубноперитонеальна. Хронічний двобічний кольпоскапічні ознаки, що відповідають легким сальпінгіт. Спайковий процес органів малого таза. диспластичним змінам епітелія шийки матки. Ендоцервіцит. Даний спосіб діагностики стану шийки матки Проведене обстеження шийки матки запроподоцільно проводити в спеціалізованих поліклініках нованим способом. Результат рідинного цитологіта стаціонарах. чного дослідження: тип мазка І-ІІ. Результат роз Комп’ютерна верстка М. Мацело Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for diagnosing state of cervix uteri
Автори англійськоюZadorozhna Tamara Danylivna, Kondratiuk Valentyna Kostiantynivna, Pustovalova Olha Ivanivna, Koblosh Nataliia Dmytrivna
Назва патенту російськоюСпособ диагностики состояния шейки матки
Автори російськоюЗадорожная Тамара Даниловна, Кондратюк Валентина Константиновна, Пустовалова Ольга Ивановна, Коблош Наталья Дмитриевна
МПК / Мітки
МПК: A61B 10/00
Мітки: стану, матки, діагностики, шийки, спосіб
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-52772-sposib-diagnostiki-stanu-shijjki-matki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб діагностики стану шийки матки</a>
Спосіб комплексної ультразвукової діагностики стану шийки матки при вагітності
Номер патенту: 11839
Опубліковано: 16.01.2006
Автори: Васеленко Володимир Анатолійович, Гордієнко Ірина Юріївна
МПК: A61B 8/00
Мітки: матки, діагностики, вагітності, стану, спосіб, шийки, комплексної, ультразвукової
Формула / Реферат:
Спосіб комплексної ультразвукової діагностики стану шийки матки при вагітності проводиться шляхом виміру ультразвукових параметрів шийки матки, який відрізняється тим, що досліджуються наступні параметри: функціональна довжина цервікального каналу, товщина нижнього маткового сегмента, діаметр розкриття внутрішнього вічка, глибина розкриття внутрішнього вічка, форма внутрішнього вічка, цервікальний індекс та індекс % funneling, вимір...
Спосіб діагностики фонових захворювань шийки матки
Номер патенту: 5507
Опубліковано: 15.03.2005
Автори: Венцківський Борис Михайлович, Науменко Олександр Михайлович
МПК: G01N 25/00, G01N 33/487, G01N 1/28
Мітки: матки, шийки, фонових, захворювань, спосіб, діагностики
Формула / Реферат:
Спосіб діагностики фонових захворювань шийки матки, що включає отримання біологічного матеріалу, його попередню обробку та мікроскопічне дослідження, який відрізняється тим, що як біологічний матеріал використовують слиз каналу шийки матки, що отриманий шляхом просякування гігроскопічного матеріалу, який екстрагують фізіологічним розчином, вирощують кристали відомим тезиграфічним методом, підвищують чіткість кристалографічного малюнка та...
Спосіб діагностики стану матки до пологів
Номер патенту: 10767
Опубліковано: 15.11.2005
Автори: Юзько Олександр Михайлович, Фармазей Тетяна Григорівна
МПК: A61B 10/00, A61B 1/00
Мітки: матки, стану, пологів, діагностики, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб діагностики стану матки до пологів шляхом оцінки зрілості шийки матки, який відрізняється тим, що додатково визначають базальний тонус матки, стан вегетативної нервової системи та зросто-ваговий коефіцієнт.
Спосіб діагностики дисплазії епітелію шийки матки
Номер патенту: 51324
Опубліковано: 15.11.2002
Автори: Іоффе Світлана Євгенівна, Суханова Ауріка Альбертівна, Коханевич Євгенія Вікторівна, Ковальова Тетяна Вадимівна
МПК: A61B 1/00
Мітки: діагностики, епітелію, матки, спосіб, дисплазії, шийки
Формула / Реферат:
Спосіб діагностики дисплазії епітелію шийки матки, який включає аналіз тканини шийки матки, який відрізняється тим, що використовують оптичну біопсію і визначають співвідношення інтенсивності спектру здорової тканини (І0) і інтенсивності спектру диспластично зміненої тканини (Ii), визначають їх співвідношення (k = І0/Iі) і при його значенні більше 2 діагностують диспластичні зміни в тканинах, а при значенні менше 2 - зміни характеризують як...
Спосіб диференційної діагностики диспластичних станів епітелію шийки матки
Номер патенту: 5598
Опубліковано: 15.03.2005
Автори: Грачья Левонович Джулакян, Манжура Єлена Петрівна, Коханевич Євгенія Вікторовна, Суханова Ауріка Альбертівна, Іоффе Світлана Євгенівна
МПК: G01N 21/64, G01N 33/483
Мітки: спосіб, матки, діагностики, диспластичних, станів, епітелію, шийки, диференційної
Формула / Реферат:
Спосіб диференційної діагностики диспластичних станів епітелію шийки матки, що включає спектральний аналіз епітелію шийки матки, при якому визначають співвідношення інтенсивності спектра здорової тканини й інтенсивності спектра патологічно зміненої тканини k, який відрізняється тим, що, якщо мати на увазі, що інтенсивність другого піка завжди перевищує інтенсивність першого піка, при значеннях k від 2 до 5 діагностують тяжку дисплазію...
Попередній патент: Пристрій для моделювання нейрона
Наступний патент: Спосіб лікування мікроелементозів у дітей
Випадковий патент: Маска лікувально-оздоровча